Kovács Petronella (szerk.): Isis - Erdélyi magyar restaurátor füzetek 20. (Székelyudvarhely, 2020)
Focht Anna: Gorka Géza padlóváza restaurálása
fi determinate şi la concentraţii foarte mici (în urmă), în jur de 1 ppm (0,0001%) (fig. 1). Destul de multe, dar nu toate, dintre elementele chimice prezente în pigmenţii anorganici de pe obiectele pictate pot fi identificate prin pXRF. Metoda nu se pretează deloc pentru determinarea carbonului prezent în pigmenţii organici sau în lianţi, de asemenea, nu poate fi utilizată pentru studiul legăturilor dintre elementele chimice. Dezvoltarea aparaturii şi tehnologiei pXRF are un trecut de circa 40 de ani. în anii 1980 un asemenea aparat cântărea peste 10 kg, acum greutatea sa a scăzut sub 1 kg. Preţul comercial al aparatelor de analiză elementalăpXRF este de la 35 la 50 de mii de USD, în funcţie de dotarea sa de bază şi de modelul de calibrare. Considerând numărul de analize care se pot realiza pe durata medie de viaţă a aparatului, costul unei analize este de ordinul câtorva dolari. în concluzie, tehnologia pXRF permite achiziţia unui număr mare de date, statistic credibile, la un preţ eficient.2 S-a conturat o practică pozitivă şi una negativă legată de analizele pXRF. Poate fi considerat pozitiv faptul că numeroase instituţii, firme şi persoane particulare au achiziţionat aparatul din ce în ce mai accesibil ca preţ. Ele sunt din ce în ce mai des folosite la analiza patrimoniului cultural. Majoritatea instituţiilor importante de cultură, academice, facultăţi şi institute de cercetare din ţările mai dezvoltate deţin pXRF şi efectuează analize. O practică negativă răspândită este însă faptul că măsurătorile şi interpretarea rezultatelor sunt făcute de una şi aceeaşi persoană. Interpretarea spectrelor rezultate, respectiv trasarea în baza acestora a unor concluzii corecte şi pertinente presupune cunoştinţe temeinice legate de chimia materialului studiat, respectiv legate de materialele şi tehnologiile de realizare a obiectului şi tehnicile tradiţionale. în lipsa acestora se poate ajunge la concluzii eronate, interpretări greşite şi neînţelegeri. Analizele şi interpretarea rezultatelor sunt activităţi specifice care vizează mai multe domenii ale ştiinţei, din acest motiv nu trebuie niciodată făcute de una şi aceeaşi persoană, ci trebuie să fie o activitate de echipă, specialiştii diferitelor domeniilor conexe - chimist, fizician, restaurator, istoric de artă, etnograf, arheolog, istoric etc. - trebuie să conlucreze. Doar prin această activitate comună se va ajunge la concluzii şi rezultate de încredere. 1.1.Caracteristicile generale ale metodei pXRF • Domeniu de detecţie: aparatele portabile XRF accesibile comercial au un domeniu de detecţie care se limitează la determinarea elementelor cuprinse între magneziu şi uraniu. Nu se pretează pentru analiza elementelor chimice cu un număr atomic mai mic decât cel al magneziului pentru că razele X mai moi, care caracterizează aceste elemente, sunt absorbite de stratul de aer dintre probă şi detector. 2 Shugar-Mass 2012. • Limita de detecţie (LOD = Limit of Detection): depinde de tipul de aparat şi de condiţiile de măsurare (scade cu prelungirea timpului de analiză). Este influenţată de numărul atomic al elementului în cauză: este mai redusă în cazul elementelor cu număr atomic mai mic, de exemplu pentru Mg este în jur de 2-4%, în cazul elementelor cu limită de detecţie medie - Al, Si, P, S, CI - este de ordinul câtorva zecimi de procente, la cele cu număr atomic mai mare - Au, Pb, Flg - este mai bună, poate fi chiar 0,01%. Timpul mai lung de analiză îmbunătăţeşte, în general, limita de detecţie. Este de dorit repetarea analizelor folosind un timp mai lung de măsurare, mai ales dacă nu se dispune de calibrarea cea mai potrivită pentru compoziţia pigmentului analizat. • Acurateţea măsurării: aparatele portabile XRF utilizează un aşa-zis spectrometru cu dispersie de energie de raze X (EDX), ceea ce este mai uşor, dar are o rezoluţie mai mică, este mai puţin precis decât spectrometrul cu dispersie în lungime de undă (WDS) utilizat la aparatele fixe din laborator. în general, metoda se pretează la analize semicantitative. Precizia atinsă depinde de modul de calibrare selectat şi setat pe aparat premergător analizei. Sunt mai multe asemenea moduri programate din fabricaţie în aparat, dintre care trebuie ales cel mai potrivit pentru suprafaţa/materialul analizat. Geometria suprafeţei influenţează, de asemenea, acurateţea măsurătorilor. • Spectrul rezultat: provine din stratul superior al suprafeţei/probei măsurate, din materialele în care poate pătrunde raza X şi din profunzimea până la care poate pătrunde. Aparatul măsoară compoziţia a câtorva zecimi de milimetri - profunzimea de penetrare depinde considerabil de densitatea probei şi de numărul atomic al elementelor prezente. Măsurătoarea nu oferă informaţii referitoare la adâncimea de penetrare a razei, din acest motiv, de exemplu, în cazul analizei unui obiect cu mai multe straturi de culoare, sunt evidenţiate concomitent nu doar elementele din stratul superior, ci şi cele din straturile care sunt sub acesta. Acest lucru trebuie neapărat luat în considerare la interpretarea rezultatelor; deseori, este greu de specificat care ar fi, de fapt, stratul din care provine semnalul caracteristic al unui element. • Probleme de identificare a elementelor: aparatele XRF portabile folosesc detectoare cu dispersie de energie, care derutează. Rezoluţia lor energetică nu este prea bună, din acest motiv nu pot diferenţia liniile spectrale caracteristice apropiate ale anumitor elemente. Datorită suprapunerii liniilor spectrale caracteristice se poate întâmpla ca atât măsurătoarea, cât şi identificarea elementului să fie eronate. Din acest motiv, interpretarea spectrelor impune multă pricepere şi experienţă din partea utilizatorului. • Problema sulf-plumb: dacă în punctul de măsurare sunt prezente concomitent sulful şi plumbul, semnalul slab K caracteristic sulfului se suprapune (coincide) 163
