Kovács Petronella (szerk.): Isis - Erdélyi magyar restaurátor füzetek 10. (Székelyudvarhely, 2010)
B. Perjés Judit - Domokos Levente - Puskás Katalin: Tíz nap a "Nagy-Küküllő felső folyása mentén" avagy hazi és vendég restaurátorok a székelykeresztúri Molnár István Múzeum születő állandó kiállításán
se pot realiza analize cantitative tară etalon, numite nostandard. Programul detectorului Bruker-Quantax P/B ZAF calculează repartizarea spectrală a radiaţiei de frânare suficient de exact pentru a o putea introduce în corecţie ca factor suplimentar, independent de măsurare, alături de intensităţile de picuri, în loc de simpla eliminare a zgomotului de fond. Astfel, şi în cazul determinărilor fără etalon putem calcula din diferenţe, respectiv putem conta pe verificarea prin însumarea concentraţiilor. Pentru exemplificarea acestora, vom finaliza determinarea compoziţiei medii a probei noastre, referitor la suprafaţa delimitată prin dreptunghiul galben din fig. 6: Programul construieşte, cu ajutorul bibliotecii de spectre şi forma spectrelor calibrate, un spectru generat, pe care îl potriveşte cu spectrul măsurat. Spectrul din fig. 20 arată (la scară logaritmică) cum se potrivesc picurile spectrului calculat cu linia neagră rezultată din măsurători, şi dacă mai există pic măsurat care nu a fost luat în calcul (nu este colorat). Dacă acceptăm măsurătorile, atunci obţinem compoziţia reprezentată în fig. 21. Concentraţia de 106% nenormalizată s-ar putea considera acceptabilă în cazul unei probe cu suprafaţă rugoasă, dar în cazul unei probe şlefuite - cum este şi proba noastră - semnalează o eroare. Cauza acestei erori este faptul că factorii de corecţie nu sunt - desigur - liniari, deci compoziţia rezultată din corecţia aplicată intensităţilor medii nu este egală cu media corecţiilor aplicate la intensităţile determinărilor punctiforme. Rezultatele obţinute prin baleiajul pe suprafaţă nu corespund cu determinările totale cantitative („full quantitative analysis”) reale. 5. Concluzii Pentru a înţelege posibilităţile P/B ZAF (sau a unui alt program modern) în condiţii de măsurare optimizate cu grijă să observăm o analiză punctiformă efectuată tot pe această probă (fig. 22). Corecţia P/B ZAF aplicată intensităţilor măsurate întrun punct central al fig. 22 duc la rezultatele prezentate în fig. 23, dovedind că, în cazul pregătirii corespunzătoare a probei şi cunoaşterea particularităţilor metodei folosite, SEM-EMA este realmente o metodă de analiză cantitativă. Dr. Tóth Atilla PhD. Csc fizician Academia Maghiară de Ştiinţe, Institutul Tehnic şi de Ştiinţa Materialelor H-1121 Budapesta Konkoly-Thege u 29-33 Tel.:+36-1-392-2691 mobil:+36.30.984-3763 E-mail: tothal@mfa.kfki.hu Lista ilustraţiilor Fig. 1. Rezolvarea picurilor suprapuse ale spectrului EDS al sulfurii de plumb, PbS (albastru) cu ajutorul spectrului WDS (roşu). Fig. 2. Componentele sistemului analitic de măsurare (AMR) (texte în schemă: material de analizat —> unitate de măsurare —> semnal analitic —* unitate de prelucrare a datelor —> informaţie analitică). Fig. 3. SEM-EMA ca sistem de măsurare analitic (texte în schemă: sistem electrooptic, prelevare de probă, contextul probei, stocare; texte sub schemă: comandă —> captare de date —> prelucrarea datelor). Fig. 4. Spectre artificiale: (a) excitarea indirectă, (b) umbra de detectare (c) umbra de excitare. Fig. 5. Diferitele semnale emise de volumul excitat (traducere de la stânga, în sensul acelor de ceasornic: raze X, electroni retroemişi, radiaţie primară de electroni, electroni Auger (de la adâncime de 1 nm), electroni secundari, domeniul de culegere a informaţiilor furnizate de electronii secundari, SE (10 nm), domeniul de culegere a informaţiilor furnizate de electronii retroemişi, BE (100 nm), domeniul de culegere a informaţiilor furnizate de razele X (100 nm), profunzimea volumului excitat. Fig. 6. Secţiunea sudurii, imagine BEI (generată de electronii retroemişi). Fig. 7. Spectrul suprafeţei totale al zonei delimitate cu dreptunghi galben din Fig. 4., înregistrat cu scopul identificării elementelor chimice. Fig. 8. Delimitarea suprafeţei de analizat (triunghi). Fig. 9. Spectrul triunghiului din Fig. 8. (roşu). Fig. 10. Măsurarea repartiţie de-a lungul axei. Fig. 11-13. Reprezentarea bidimensională (XRI) pe elemente şi reprezentarea compozit, rezultată din suprapunerea reprezentărilor pe elemente. Fig. 14. Paşii parcurşi la determinările cantitative (Bruker Quantax). Fig. 15 a-d. Modelarea eliminării zgomotului de fond. Fig. 16. Inserarea fondului modelat pe spectrul măsurat. Fig. 17. Curbe de calibrare pentru determinarea carbonului, C în aliajele fier-nichel, Fe-Ni. Fig. 18. Calculul prin curbă măsurată a dependenţei ionizării de profunzimea penetrării (Bishop şi Philibert). Fig. 19. Calculul simultan al absorbţiei şi al ionizării în programul PAP. Fig. 20. Potrivirea spectrului generat de calculator peste spectrul măsurat. Fig. 21. Rezultatele cantitative obţinute prin potrivirea din Fig. 20. (total 106,70%!!!). Fig. 22. Selectarea unui punct de măsurare (în loc de un domeniu). Fig. 23. Rezultatul analizei în puncte (total: 100,12%). Traducere: Márta Guttmann 121
