Kovács Petronella (szerk.): Isis - Erdélyi magyar restaurátor füzetek 10. (Székelyudvarhely, 2010)

Tóth Attila Lajos: Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. II. rész: A röntgensugaras mérés és interpretációja

g“ Detector O Un _d Detector </ 4. ábra. Geijesztési műtermékek: (aj közvetett gerjesztés, (b): detektálási- és (c) gerjesztési árnyék. Primer elektronsugár Auger elektronok (1 nm mélységből) Szekunder elektronok SE információs tartomány (10 nm) Visszaszórt elektronok (BE) információs tartománya (100 nm) Röntgensugárzás (XR) információs tartománya (1000 nm) A gerjesztett térfogat mélysége 5. ábra. A különféle kimenő jelek gerjesztett térfogatban. 2.1.2. Összegcsúcs Akkor lép fel, ha például sietünk, és túl nagy inten­zitással akarunk hamar túllenni a mérésen. Ilyenkor az A1 mintatartó (vagy minta) anyagából kiváltott két egy­más után következő 1.48 keV energiájú A1 KAI töltés­impulzusát időnként az elektronika egyként digitalizálja, vagyis a beeső csúcs energiájának kétszeresénél (2.96 keV) megjelenik az összegcsúcs, ami kiválóan azonosít­ható az Ar KAI (2,958 keV) csúcsával. Az idevágó Murp­hy idézet szerint „a detektált Ar mennyisége a tapasztalat­tal arányosan csökken”. Míg a szökési csúcsokat egyes analizátor rendszerek le­vonják a spektrumból, addig az összegcsúcsoknál a tapasz­talatra és az önmérsékletre kell hagyatkoznunk. A primer sugár-áramot úgy állítsuk be, hogy ne terheljük túl az EDS elektronikát (melynek mértékét az természetesen mutat­ja), vagy ha mindenáron nagy intenzitást kell használnunk (pl. kvalitatív nyomelemanalízis esetében) akkor legyünk tudatában annak, hogy a nagyintenzitású csúcok kétszeres energiáinál felléphetnek az összegcsúcsok. A tény, hogy az összegcsúcs energiája meghaladhatja a primer elektronsu­gár energiáját nem az energiamegmaradás elvének sérülé­sét, hanem saját figyelmetlenségünket mutatja. 2.2. Idegen csúcsok: spektralis kontamináció Itt kell megemlíteni a mintatartó vagy a mintakam­ra távoli részeinek indirekt gerjesztésből eredő esetle­ges műtermékeket, az un. „rendszer”-csúcsokat. Ezeket okozhatja a röntgen-fluoreszcencia (amikor a gerjesztett térfogatból kilépő nagyenergiájú röntgensugarak gerjesz­tik a környezetet) és a többszörös elektronvisszaszórás (mikor a többszörösen visszaszórt elektronok teszik meg ugyanezt). 2.2.1. A mintatartó anyagából A műtermékek már a minta felragasztásánál felléphet­nek, ha nem ügyelünk a mintatartó és a ragasztó anyagá­ra és főként méretére, kellemetlen meglepetések érhetnek bennünket. Ha például egy mm2-nél kisebb mintát több cm2 felü­letű A1 tartóra ragasztunk oly módon, hogy a kétoldalas szénszalag a fél mintatartót fedi, jó esélyünk van min­tánk bármely pontján százalék feletti C és A1 összetételt mérni. Korábban az EDS csak Na-nál nagyobb rendszá­mú elemeket detektált, a széntuskó és a karbonszalag te­hát „mintha ott se lett volna”. A modern detektorok azon­ban Be-nál kezdenek, óvatosnak kell tehát lennünk a nagy szén-felületekkel is. 2.2.2. A mintakamra anyagából Ha nem vigyázunk a pozicionálásra, ehhez a minta­asztal Cu-Zn, és a kamra Fe anyaga is hozzájárulhat pár tized súly százalékkal. Az indirekt gerjesztés hatása ál­talában csökkenthető, ha az EDS detektor gyűjtési szö­gét kollimátor segítségével leszűkítjük a mintafelületre, ha a detektort nem a mintától visszahúzott helyzetben használjuk és ha nem indokolatlanul nagy energiával gerjesztünk. 2.3. Gerjesztési problémák nem sima és nem homogén mintákon Ne feledjük: az ideális minta felülete sík, az elekt­ronsugárra merőleges, anyagában (a gerjesztett térfogat mérettartományában) homogén és elektromosan vezet. Az EDS „készségesen” spektrumot ad rücskös, szemcsés, porózus felületekről is. A 8. ábra mutatja, mik történhet­nek illetve történnek, ha egy gömböcske közelében kell adatot gyűjteni. 2.3.1. Rücskös minta A 4. a. ábrán a szubsztrátból kilépő nagyenergiájú röntgensugárzás gerjeszti a gömböcskét, tehát a göm­böcske alkotói „megjelennek” a szubsztrátban (hiszen a gép mindig a sugár pozícióját állítja). Épp ellenkezőleg, elemek „tűnhetnek el” a szubsztrátból, ha a (b) gerjesztett röntgensugarak vagy a (c) gerjesztő elektronsugár kise­­nergiájú részét elnyeli a gömböcske. Ha egy gömböcske ennyi bajt okoz, képzelhetjük mi a helyzet egy szivacsos anyag esetén. Törekedjünk tehát az elektronsugár és a röntgendetektor által „belátható”, tömör minták vizsgálatára. Szintén észben kell tartanunk, hogy a röntgenjei a tel­jes gerjesztett tartományból jön (5. ábra), az anyagra jel­lemző abszorbeió után. 10

Next

/
Oldalképek
Tartalom