164429. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés síküveg előállítására

164429 5 6 Ezt a hibát főként az üvegszalag kiindulási he­lye közelében elhelyezett hűtőszerkezetből vagy hűtőszerkezetekből kibocsátott hideg levegő okozza, amint az előbbiekben már ismertettük. Az ilyen hullárnhibák jól észlelhetők, ha a tár­gyat lapos szögben szemléljük az üvegen ke­resztül a húzás irányára merőleges síkban, kü­lönösen a nézőszög változtatásakor. Egy másik hiba-fajta a „kalapácsnyom". Az ilyen hiba általában 1—4 cm átmérőjű rende­zetlen elhelyezkedésű sekély felületi benyomó­dások formájában jelentkezik. Ilyen hibákat fő­ként az előbb említett, a húzókamrában maga­sabb szinten elhelyezett járulékos hűtőszerkezet vagy hűtőszerkezetek hatása okozza, és ezek, bár általában kevésbé feltűnőek, mint a hullá­mok, mégis feltűnnek a szemlélőnek az üveg­táblához képest kis szögben az üvegen keresz­tül szemlélt tárgyakra gyakorolt torzító hatása miatt. Egy további hibatípus átlós (ferde) és függő­leges vonalak egymást metsző nyalábjaiként jelenik meg, főként a szalagszélesség irányában vett külső részeiben, és ezek az átlós vonalak az oldalsó peremtartományoktól a szalag kö­zépső része felé felfelé haladnak. Ez a hiba­fajta többek között annak tulajdonítható, hogy a húzókamrában a hőkezelőaknából a húzó­kamra falai mentén visszafelé áramló gázok egy része a szalag peremtartományain át felfelé ferde pályák mentén mozog — amint már em­lítettük — és hogy hidegebb levegő szivárog be a húzókamrába annak falain keresztül. Számos esetben előfordul húzott síküvegnél olyan hiba, amely kontúrvetítő készülékben korlátozott hosszúságú sötét sávokként jelenik meg. Ezek a hibák la továbbiakban „sötét sá­vok") hosszúkás, sekély felületi benyomódások. A hullámoktól eltérőleg ezek a hibák nem folyamatosan haladnak a szalag hosszában, de sokkal hosszabbak, mint a „kalapács-nyomok" és a hosszúságuk néha eléri vagy meg is haladja az 50 cm-t. Ezek a sötét sávok általában nem tűnnek fel rendes szemlélés mellett, azonban, hacsak nagyobb hibák nem fedik el, feltűnőek; ha a síküvegen át az üvegtáblához képest kis (15°-nál kisebb) szögben fénysugarat vetítünk egy diffuzor ernyőre. A hullámok formájában jelentkező felületi hibák szükségképpen együtt járnak a síküveg vastagságának helyenként fellépő kisebb vál­tozásaival, azonban a síküvegnek általános és nagyobb vastagság változásai is vannak. Ezek az általános vastagságváltozások nem felületi hi­bákból adódnak, hanem az üvegolvadékból a szalag szélességének különböző részeibe jutó üvegolvadék viszkozitásának változásai követ­keztében jelentkező .minőségkülönbségekből. Ab­ban az esetben, ha a szalag felületein hullámok jelentkeznek, az általános vastagságváltozások az üvegtáblán keresztirányban különböző helye­ken mérhető vastagság-eltéréseket okoznak. Az a törekvés, hogy jobban megközelítsék olyan húzott síküveg ideális előállítását, amely teljesen mentes optikai hibáktól, kiterjedt ku­tatómunkára ösztönzött az üvegiparban, olyan irányban, hogy kedvezőbb hőeloszlást biztosít­sanak abban a környezetben, amelyen keresztül az üvegszalag húzása és hűtése történik. Ennek eredményeként számos javaslat született azzal a 'céllal, hogy előre meghatározható és kedve­zőbb hőmérsékletprofilt lehessen létesíteni az üvegszalag pályáján keresztirányban, abban a tartományban, ahol az üvegszalagot alkotó üveg­nek még nagyon alacsony a viszkozitása és a leginkább hajlamos deformációra a helyi hő­mérsékletváltozások hatására. A javaslatok va­lójában arra irányultak, hogy előre meghatá­rozott hőmérsékleti és sebesség-jellemzőkkel rendelkező gázáramlást hozzanak létre a húzó­kamra alsó részében, és ezzel helyettesítsék a különböző konvekciós áramok rendezetlen el­oszlásban jelentkező hűtőhatását, vagy pedig, hogy befolyásolják ezeket a konvekciós áramlá­sokat a húzókamra alsó részében és ezáltal mó­dosítsák eloszlásukat az üvegszalag pályáján keresztirányban. A gyakorlatban az eddigi javaslatok közül néhány alkalmasnak bizonyult arra, hogy javí­tani lehessen a síküveg optikai minőségét, ne­vezetesen a hullámok előfordulásának kiküszö­bölése vagy csökkentése révén. Mindazonáltal, a korrekciós intézkedések kifejlesztésére és to­vábbfejlesztésére irányuló törekvések ellenére a síküvegen előfordulnak bizonyos kisebb felületi hibák, amelyek bár nem rontják a síküveg optikai minőségét olyan mértékben, mint a hullámok, mégis optikai torzítást okoznak és alkalmatlanná teszik a síküveget olyan esetek­ben történő alkalmazásra, amikor igen jó opti­kai tulajdonságú síküvegre van szükség. Ezek az említett kisebb hibák az előzőleg már tárgyalt „sötét sávok". A tapasztalat azt mutatja, hogy ezek a hibák akkor is megmaradnak, ha a hű­tés egyenetlenségei tekintetében ismert korrek­ciós intézkedéseket végrehajtják. Ily módon, a technika mai állásának megfelelően, meg kellett találni azt az eljárást, amelynek segítségével olyan síküveget lehet előállítani, amelynek sík felületei vannak és egyenletes a vastagsága, és amely emellett optimális optikai minőséggel rendelkezik, ugyanakkor pedig megbízható egyenletességgel húzható. A találmány célja, hogy olyan további kor­rekciós intézkedést szolgáltasson, .amely a hú­zott üvegszalag felületeit befolyásoló körülmé­nyeket oly módon szabályozza, hogy ezáltal to­vább javul a síküveg elérhető minősége. A ta­lálmány célja különösképpen olyan korrekciós intézkedés létrehozása, amelynek segítségével meg lehet szüntetni, vagy csökkenteni lehet a „sötét sávok" előfordulását. A találmány ennek megfelelően eljárás sík­üveg előállítására, amelynél egy húzási tarto­mányba üvegolvadékot juttatunk és ebből a tartományból folyamatos szalagot húzunk, ame­lyet az üveg megszilárdulását és lehűlését biz­tosító zónákon vezetünk keresztül, és amelyre 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 3

Next

/
Oldalképek
Tartalom