155217. lajstromszámú szabadalom • Eljárás félvezető gyártására szolgáló szilícium nyomelem tartalmának meghatározására roncsolásmentes neutronaktivációs analízissel

MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL SZABADALMI LEÍRÁS SZOLGA^^^I^MANY u X.„. h\i\{H Bejelentés napja: 1966. VII. 13. (MA—1612) Közzététel napja: 1968. IV. 30. Megjelent: 1969. VI. 10. 155217 Szabadalmi osztály: 42 1 3, 21 g 17—21 Nemzetközi osztály: G 01 n Decimái osztályozás: Feltalálók: Dr. Quittner Pál fizikus, 40%, Dr. Szabó Eleik vegyészmérnök, 30%, Bogáncs János' vegyészmérnök, 10%, Zanati Tibor vegyészmérnök, 20%, Budapest Tulajdonos: Központi Fizikai Kutató Intézet, Budapest Eljárás félvezető gyártására szolgáló szilícium nyomelem tartalmának meghatározására roncsolásmentes neutronaktivációs analízissel 1 A szilícium félvezető tulajdonságait igen gyakran, kis mennyiségű foszfor hozzáadásával állítják be. Az alapanyag minősítésélhez ilyenkor nélkülözhetetlen a foszfortartalom pontos isme­rete. A hagyományos kémiai eljárások igen 5 nehézkesek, hosszadalmasaik, és nem vezetnek pontos eredményre a gyakorlatiban előforduló igen kis foszfor koncentrációknál. Az egykris­tályos szilícium elektromos tulajdonságaiból a foszfortartalom általában kellő pontossággal 10 meghatározható. Ez azonban 'csak utólagos elle­nőrzés. Ha az alapanyag a foszforon kívül más. szennyező anyagot is tartalmaz, az elektro­mos paraméterek helytelen eredményt szolgál­tatnak. Az ilyen egylkristály nem használható lg fel a célnak megfelelően. Az aktivációs analitikai foszfor .meghatáro­zásra a 3llpi(„,y)l32ip magreakció szolgál. A vég­termék bétabomló, felezési ideje 14 nap. Prob­lémát jelent az, hogy a bétarészecskék felezési vastagsága sziliciuimban 0,33 mm, így az önab­szorpció jelentős hibaforrása lehet. A szilieium­mintáknak a hatótávolsághoz képest nagy ki­terjedése miatt az egyszerű exponenciális gyen­gülési képlet nem alkalmazható- Kisebb min­táknál viszont a foszfortartalom aktivitása oly csekély, hogy nem mutatható ki. 20 25 Az eddigi aktivációs analitikai eljárások ezt a nehézséget úgy küszöbölték ki, hogy besugár­zás után az aktív foszfort kémiailag elválasz­tották, és igen vékony réteget készítettek be­lőle, melyben az önabszorpció elhanyagolható. Ez az eljárás igen munkaigényes. Az általunk, kidolgozott, az önaibszorpciót fi­gyelembe vevő kiértékelési eljárással több mm vastag sziBciumminták foszfortartalma is meg­állapítható. Mérésre bármilyen bétaszámláló alkalmas. A termikus neutronokkal felaktívált sziliciummintát az 1. ábrán látható elrendezés­ben mérjük, ahol 1 tetszésszerinti béta-detek­tor, 2 a mérendő minta, 3 abszorbens, R a de­tektor, R' a minta sugara, L a minta ós a de­tektor távolsága, d a minta vastagsága. Az ön­abszorpció pontos meghatározása matematikai­lag igen nehéz feladat. Belátható azonban, hogy egyenletes ifoszforeloszlásnál az egész minta bármely kis felületéről a detektorba bejutó bé­tarészecskék száma a közepéről és a széléről ugyanakkora felületről bejutó részecskék száma között van- Ezen utóbbi értékek viszont már tetszésszerinti mérési elrendezésre számolhatók. Értékük például a R = R' esetre 155217

Next

/
Oldalképek
Tartalom