153642. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés szűrő- és rezgőkristályok gyártásánál jelentkező elektromos ikrek és referenciaél nélküli hulladékok feldolgozására

MAGTAR NÉPKÖZTÁRSASÁG ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL SZABADALMI LEÍRÁS SZOLGALATI TALÁLMÁNY Bejelentés napja: 1965. IV. 14. (TE—404) Közzététel napja: 1966. XI. 22, Megjelent: 1967. VII. 20. 153642 Szabadalmi osztály; 42 h 26^37 Nemzetközi osztat; : G 02 d Deci mái osztályozás; Feltalálók: Magyar László csoportvezető, Pozsár Mihály technikus, Budapest Tulajdonos: Gamma Művek, Budapest Eljárás és berendezés szűrő- és rezgőkristályok gyártásánál jelentkező elektromos ikrek és referenciáéi nélküli hulladékok feldolgozására 10 Az eddig ismert eljárás a kvarckristályok feldolgozásánál a következő volt (fig. 1.): a Z tengely 'meghatározása után az X tengelyre merőleges metszést végzünk, 3'—4 mim szelet vastagságban, röntgenkészüléken bemérjük, szögeltérést korrigáljuk és újabb szeletet vágunk. Ezzel a vágással párhuzamosan a kristály ellentétes oldalán hasonló szeletet vágunk. Így a kristálytömbön az X tengelyre merőleges és a Z tengellyel párhuzamos két sík felületet kapunk. Ezután az X tengelyre orientált kristály felületeket savazzuk. Savazás után elhatároljuk, kijelöljük az ikreket és ennek eredményeképpen a kristálytömb nagyobb homogén része képezi a végorientáció 15 alapját. Tűfány-dobozon berajzoljuk a nagyobb homogén részt figyelembevéve a kristályra, hogy merre forgatja a poláros fény síkját (fig. 2.). Majd az X tengely körül elforgatott kristályon a 2 tengelyhez viszonyítva — a negatív 20 irányt figyelembevéve — a gyártandó kristályfajta szerint 'metszetet vágunk. Ez a metszés képezi a kristálytömb referencia alapját. Ezután a kristálytömbök szeletelése, savazása és m., ••rfeVílő méretre történő darabolása követbe- 25 zf Ú eddig ismert eljárás hibái a következők. Ai X tengely orientációjánál keletkező, a tömbről levágott X metszetek az ismert technológiával szűrő és rezgő kristályok gyártá- zo sara nem használhatók fel, amint az inkurrens készletek igazolnak. Csupán nyomásmérő és ultrahang kristályok gyártására alkalmasak, amelyek csak jelentéktelen részét teszik ki az összgyártásmak, mert neferensél nélküli X metszetként jelentkeznék. Továbbá az ismert technológia mellett az elektromos ikerkristályok egyik fele minden esetben selejtként jelentkezik, mert az ikerben a pozitív és negatív irány felcserélődik és ennek következtében ellentétes orientáció jön létre (fig. 3.). Pl. +5°-os kristálynál az ikerben —5°-ban van a referenséi. Tehát az ikres kristályban az iker részben 10°-os eltérés van a helyes referencia-éltől. További hátrányként jelentkezik az a körülmény, hogy a több rétegben elektromosan ikres kristályokban a negatív irányt az eddig ismert eljárások során megállapítani nem lehetett; a többszörös fénytörés következtében a pozitív és negatív szögek vágása teljesen bizonytalanná vált. Az ikres kristálytömiböknél és lapoknál még a jó rész difíferenciálhatósáiga is bizony talán; főleg olyan kristályoknál, ahol a referenséi és a Z metszet közel esnek egymáshoz, mert csupán a tűfénydoboz X metszetére jellemző fénytörési képére, vagyunk utalva. A találmányi bejelentés lényege a következő: a szűrő- és rezgőkristályok gyártásánál 153642