Fogorvosi szemle, 2015 (108. évfolyam, 1-4. szám)
2015-09-01 / 3. szám
79 FOGORVOSI SZEMLE ■ 108. évf. 3. sz. 2015. Elvégezve a normalitásvizsgálatot, azt az eredményt kaptuk, hogy a lézeres felszínnel kapcsolatos vizsgálatoknál az adatok eloszlása nem felelt meg a normálnak, míg Buser és mtsai esetében igen. Ez azt jelenti, hogy a vizsgálatnál a Welch-féle d-próbát kell alkalmazni. A Welch-féle próba azt mutatta, hogy a két minta szignifikánsan nem tér el. (Táblázat 8.) Mértük az implantátum válla és marginális mucosa közötti távolságot (DIM value) hat helyen az implantátum körül. A minimális érték -6, míg a maximális érték 0 volt. Az mDIM értékre -0,72-őt kaptunk (szórás: ±1,25), vagyis az íny visszahúzódása átlagosan 0,72 mm volt. Itt egyik esetben sem sérült a normalités, így a következőkben kétmintás t-próbát alkalmaztunk. 95%-os konfidencia-intervallum a két elméleti átlag m1-m2 különbségére, a kétmintás t-próba alapján: C(0,95) = (0,580,0,062), a Welch-féle d-próba alapján: C(0,95) = (-0,533, 0,015). így itt sincs statisztikailag szignifikáns különbség a két minta között. Radiológiai vizsgálat eredménye Long-cone technikával minden implantátumról felvételt készítettünk és ezeken mértük az implantátum válla és az első csontimplantátum kontaktpont közötti távolságot mesialis és distalis oldalon (DIB-value). A méréseket az „ImageJ” számítógépes programmal végeztük - melyet a National Institutes of Health direkt ilyen célra fejlesztett ki -, majd a mérési eredményeket kiértékeltük. DIB minimális értéke 1,36, maximális értéke 12,11 volt, míg az átlaga 3,66 (szórás: ±1,5). Itt a normalités nem teljesül mindkét vizsgálat esetében, így a Welchféle d-próbát kellett ismét használni. Megbeszélés Retrospektív vizsgálatunkban a közép- és hosszútávú eredményeket összegeztük a nagyteljesítményű Nd-üveg impulzus lézersugárral kezelt implantátumok esetében. Tekintettel arra, hogy az irodalomban lézerrel felületkezelt implantátumokról klinikai kiértékelést nem találtunk, különösen érdekes lehet ez a vizsgálat. Az általunk alkalmazott lézerrel kezelt felület legfőbb jellemzője a nagy felületi tisztaság (az alkalmazott vákuum, illetve az eredeti felületi réteg elpárolgása miatt) és a speciális felületi morfológia. A felület zárt üregektől és zárványoktól mentes, túlélő bakteriális gócokat nem tartalmaz. Éppen azért, mert a legtöbb felületkezelési eljárás legnagyobb problémája a felületi szennyeződés elkerülése, érdemes nagyobb hangsúlyt és figyelmet fordítani a jövőben a lézeres felületkezelésre. A hazánkban a lézeresen felületkezelt implantátumok hosszútávú sikerességi eredményeivel eddig nem rendelkeztünk. Az előzetes állatkísérletes és egyéb vizsgálataink kecsegtető eredményeket mutattak [10, 11, 15], Ismertebb nemzetközi implantációs rendszerek közül a SIS® implantátum rendelkezik lézeres felülettel [9]. A lézeres felületkezelésről az irodalomban csekély számú adatot lehet fellelni. Gaggl és mtsain és a mi kutatócsoportunkén kívül még a szegedi és a debreceni egyetem munkacsoportja foglalkozott lézeresen felületkezelt felszínek morfológiájával [3, 8, 9, 14], A kapott eredményeket akkor tudjuk értékelni, ha összehasonlítjuk más, jól dokumentált felületi morfológia értékeivel. Az irodalomban jelenleg a homokfúvott és kémiai maratáson átesett „kombinált” felületekről van a legtöbb információnk. Az általunk mért értékeket is ehhez a felszínhez (mint referencia felszíni struktúra) hasonlítjuk. A Buser és mtsai által leírt 10 éves retrospektív vizsgálatban kapott értékeket vetjük össze a mi eredményeinkkel [6]. A vizsgálatunkban részt vevő implantátumok sikerességi rátája 92,647%, ami elmarad az SLA felszín hez képes (97%), míg a túlélési ráta 97,058% volt, ami közelít az SLA felszín 98,0%-os értékéhez. A sikerességi rátánál mért különbség adódhat abból, hogy a mi vizsgálatunkban sokkal kisebb az elemszám, mint a referencia esetében. (Táblázat 9.) Ugyanakkor a két vizsgálatot összehasonlítva a statisztikai elemzés után szignifikáns különbséget nem kaptunk. A szondázási mélység esetében kapott 3,33 mm átlagos PD értékhez (szórás: ±1,66) képest Buser és mtsai mPD = 3, 27 kaptak. A DIM érték esetében a mi vizsgálatunkban -0,72 mm-t kaptunk, míg a referencia -0,42 mm-t mért. A radiológiailag mért DIB érték esetében a lézerrel felületkezelt implantátumunk átlagosan 3,66 mm-t mutattak, míg az SLA felszín 3,32 mm-t. Mindezen eredmények ismeretében - összehasonlítva egy alaposan dokumentált felszín értékeivel - megállapítható, hogy a nagyteljesítményű lézerrel felületkezelt implantátumok klinikailag közép- és hosszútávon is megbízható eredményeket mutatnak. 9. táblázat A vizsgált lézerrel felületkezelt implantátumok klinikai és radiológiai paraméterei Paraméterek Min Max Átlag Szórás Probing Depth(PD) 0 12 3,33 1,66 DIM-6 0 0,721 1,25 DIB 1,36 12,11 3,66 1,5 Irodalom 1. Albrektsson T, BrAnemark Pl, Hansson HA, Lindström J: Osseointegrated titanium implants. Acta Orthop Scand 1981; 52:155-170. 2. Allegrini S Jr, Yoshimoto M, Salles MB, de Almeida Bressiani AH: Biologie response to titanium implants with laser-treated surfaces. Int J Oral Maxillofac Implants 2014; 29: 63-70. 3. Bereznai M, Pelsőczi I, Tóth Z, Turzó K, Radnai M, Bor Z, Fazekas A: Surface modifications induced by ns and sub-ps excimer laser puises on titanium implant material. Biomaterials 2003; 24: 4197-4203.
