Kovács Petronella (szerk.): Isis - Erdélyi magyar restaurátor füzetek 10. (Székelyudvarhely, 2010)
B. Perjés Judit - Domokos Levente - Puskás Katalin: Tíz nap a "Nagy-Küküllő felső folyása mentén" avagy hazi és vendég restaurátorok a székelykeresztúri Molnár István Múzeum születő állandó kiállításán
După aceasta putem delimita suprafaţa sau punctul de analizat (fig 8, triunghiul verde). în timpul achiziţionării următorului spectru, fascicolul va scana numai suprafaţa triunghiului selectat. Drept rezultat obţinem spectrul roşu din figura 9 (care se suprapune peste spectrul albastru al compoziţiei generale). Precum se vede, plumbul, Pb, detectat prin excitarea suprafeţei probei (fig. 7) nu este prezent în compoziţia triunghiului delimitat. Aici trebuie menţionate aşa zisele „picuri de sistem” contaminări spectrale rezultate, uneori, prin excitarea indirectă a suportului probei sau a camerei pentru probă. Acestea se pot datora fluorescenţei de raze X (în cazul în care radiaţiile de mare energie emise de volumul excitat interacţionează cu contextul acestuia) sau a retro-emisiei de electroni, când fenomenul are loc datorită electronilor retro-emişi în repetate rânduri. Dacă unghiul de captare al detectorului EDS este redus cu ajutorul unui colimator, adică detectorul nu mai este folosit în poziţie retrasă faţă de probă, ci proba este excitată cu o energie nejustificat de mare, se poate preconiza îmbunătăţirea situaţiei. Totodată, materialul suportului probei şi adezivul de fixare al probei trebuie şi ele alese cu grijă. De exemplu, dacă o probă mai mică de 1 mm2 se lipeşte pe un suport de aluminiu, Al de câţiva cm2, astfel încât banda grafitată C să acopere numai jumătatea suportului, este foarte probabil să găsim în orice punct al probei peste 1% Al şi C. Dacă poziţionăm neglijent suportul pe măsuţa microscopului, vom mai obţine suplimentar, datorită compoziţiei pe bază de cupru, Cu şi zinc, Zn a măsuţei şi conţinutul de fier, Fe al spaţiului (camerei) in care se afla măsuţa, câteva zecimi de procente de masa de Cu, Zn şi Fe. Mai demult, EDS putea să detecteze numai elementele chimice situate în tabelul periodic după sodiu, Na, deci cu număr atomic peste 11, astfel, carbonul din suportul probei şi din banda grafitată fiind practic inexistente pentru detector. EDS-urile modeme pot detecta, însă, toate elementele începând cu beriliul, Be, deci trebuie să fim precauţi cu suprafeţele cu conţinut de C. în cazul nostru concret, proba a fost una ideală, cu suprafaţă lustruită, ceea ce în practica uzuală nu se prea întâmplă. EDS oferă „voluntar” şi spectre ale suprafeţelor cu asperităţi, granulate sau poroase, dar în aceste cazuri trebuie să tratăm cu mare precauţie inclusiv analizele calitative. Figura 4 ilustrează cele ce se pot întâmpla la captarea datelor din apropierea unei mici granule sferice. Aşa cum se observă în imagine, radiaţia de energie mare ce părăseşte substratul va excita granula, deci constituenţi chimici ai granulei „apar” în compoziţia substratului (a) (deoarece aparatul reglează permanent poziţia fascicolului). Din contră, elemente chimice pot „să dispară” din substrat, dacă granula absoarbe fracţiunea de energie joasă a radiaţiei excitate (b) sau a fascicolului incident (c). Dacă o granulă sferică poate provoca asemenea probleme, ne putem imagina ce se poate întâmpla în cazul unui material spongios. Să analizăm deci - pe cât posibil - probe compacte, pe care fascicolul de electroni şi detectorul de raze X le poate „cuprinde”. Trebuie să avem, de asemenea, în vedere că semnalul de raze X vine din tot domeniul excitat (fig. 5), după absorbţia caracteristică a materialului. în cazul probelor omogene în masă - după cum se va observa şi la analiza cantitativă - această absorbţie se poate corecta; în cazul probelor stratificate, însă, programele sistemului EDS vor furniza compoziţia globală a straturilor cuprinse în volumul excitat. în aceste cazuri pot fi de ajutor erodarea cu fascicul de ioni sau analiza în puncte realizate cu energii mai mari, care se vor detalia în următorul volum al revistei. Controlul prin calculator al deplasării fascicolului incident şi prelucrarea spectrelor asistată de calculator au uşurat măsurarea repartiţiei intensităţilor. în aceste cazuri se reprezintă grafic, de-a lungul axei cantitatea impulsurilor de raze X (semnale + fond) dintr-un anumit interval de energie (fig. 11); reprezentarea se poate face şi bidimensional (XRI: imagistică de raze X) prin integrare în puncte (fig. 12 a-b). 4. Analiza cantitativă 4.1 Prelucrarea spectrelor în cazul analizei cantitative SEM-EMA, vom parcurge calea reprezentată în figura 2, care duce de la probă la informaţia analitică (material de analizat —>• unitate de măsurare —* semnal analitic —» unitate de prelucrare a datelor —»informaţie analitică). Informaţia analitică este concentraţia în volumul excitat, Cx a elementului chimic X. Semnalul analitic îl constituie intensitate caracteristică de raze X rezultată din spectrul probei şi spectrele etalonului (pentru cazurile clasice când se utilizează etalon). Data brută, intensitatea relativă kx, este un semnal analitic numeric care reprezintă raportuî intensităţilor nete dintre picurile probei şi ale etalonului („purificate” de zgomotul de fond, de spectrele artificiale şi de interferenţe): kY = Iv / Iyetalon = (P - B ) / (P - B )ctalon XXX v x x-'proba v x xy Drumul parcurs de la spectru la rezultat este bine ilustrat de schema din figura 1, care permite ca utilizatorul să combine programele într-un mod care, să sperăm, duce la rezolvarea optimă a problemei. Interpretarea spectrelor începe cu eliminarea spectrelor artificiale, care apar, vrând nevrând, în spectru în timpul proceselor de detectare şi prelucrare a datelor, şi care arată picurile unor elemente care nu există în probă, în acest context se corectează locul picurilor (peak), cumularea incompletă de sarcini care are loc în dioda EDS (tail şi shelf), respectiv se adaugă picul „fugitiv”, acesta însemnând extragerea spectrelor artificiale care apar sub picurile mari la 1,74 eV (care apar din cauză că radiaţia Si 119
