193758. lajstromszámú szabadalom • Kapcsolási elrendezés analóg és digitális integrált áramkörök és diszkrét félvezetó eszközök működőképességének ellenőrzésére

193758 1 Integrált áramkörök és diszkrét félve­zető eszközök GO-NO GO típusú gyors el­lenőrzésére már több eljárás és kapcsolá­si elrendezés ismert. Ezek vagy költséges, és hosszadalmas parametrikus méréseket végeznek, vagy pedig valamilyen etalon elem, vagy referencia információ igénybevételét teszik szükségessé. A parametrikus mérési elvet alkalmazó készülék pl. az EMG-19670 típusszámú analóg integrált áramkör tesztere, ahol a vizs­gált elem működőképessége egyes jellemző paraméterek egymás utáni mérésével dönt­hető el. A tesztelni kívánt elem vizsgálatá­hoz szükséges mérési elrendezést egy tí­pusfüggő kártyával lehet konfigurálni, és a paraméterek mérését kézi kapcsolók meg­felelő beállításával lehet elvégezni. Az etalon elemmel történő összehason­lítás elvén működik az EMG-19630 típus­számú logikai komparátor és az EMG-19631 típusszámú digitális integrált áramkör vizs­gálógenerátor együttese. A készülék hátrá­nya, hogy minden egyes vizsgálandó elem­típushoz szükség van egy etalon elemre. Nem igényel közvetlenül etalon elemet a „Kiskun” Mg. Tsz. TR-9587 típusszámon gyártott, és a 180618 Isz. magyar szabadalom által védett készülék, azonban a mérési el­járásból adódóan szükségessé tesz referen­cia információkat. A tesztelni kívánt digi­tális integrált áramkör típusának ismere­tén túlmenően szükség van a mérési elren­dezést konfiguráló programkártyára és egy referencia mérőszámra, amelyet a készülék­nek a hibátlan vizsgált elemre generálnia kell. A mérési elrendezés összeállítása még programkártyával is nehézkes, és típuson­ként eltérő. Ezen kívül azoknál az integ­rált áramköröknél, amelyekhez nincs prog­ramkártya a konkrét bekötést is ismerni kell a mérési elrendezés konfigurálásához. Egy esetleges hibás konfigurálás a tesztelendő elem tönkremenetelét is okozhatja. Minden mérésnél szükség van ezen kí­vül a referencia mérőszámmal történő össze­hasonlításra, és ezt a kezelőnek kell elvé­geznie. A referencia mérőszám ismerete nél­kül a mérés el sem végezhető. Ez a méré­si eljárás az információtömörítés miatt nem ad lehetőséget a hiba helyének meghatáro­zására. A találmányunk célja egy olyan egysé­ges, analóg és digitális integrált áramkörök és diszkrét félvezető eszközök működőké­pességének ellenőrzésére alkalmas kapcso­lási elrendezés kialakítása, amely a műkö­dőképességet a vizsgálandó elem statikus paramétereinek automatikus vizsgálatával dönti el, — így nincs szükség etalon elem használatára, — és amelynél a mérési elren­dezés konfigurálása, a tesztminták generá­lása, valamint a mérési eredmények kiér­tékelése típusfüggő, automatikus, gyors és megbízható, a típusválaszték kiter-2 jeszthető, és az esetleges hiba helyére is ka­pu ík információt. A találmányunk lényege azon a felisme­résen alapul, hogy egy mikroprocesszoros vezérlő és kiértékelő egység lehetővé teszi az egyszerű típuskiválasztást, a típusfüg­gő, automatikus és teljes tesztmintagenerá­lást, a mérési eredmények gyors és meg­bízható kiértékelését, és a típusválasz­ték egyszerű bővíthetőségét. A fentieket megvalósító kapcsolási el­rendezés vázlata az 1. ábrán látható. Az 1 tipusválasztó kimenete, amelyen a vizsgálandó elem a kezelő által beállított típuskódja jelenik meg, a 2 mikroprocesz­­szoros vezérlő és kiértékelő egység beme­netéire kapcsolódik. Ezen típuskód alapján a 2 mikroprocesszoros vezérlő és kiértéke­lő egység, amelynek kimenetei a 3 tesztmin­­taregiszter bemenetelhez, a 4 típuskonfigu­­ráló és gerjesztő egység, valamint a 6 prog­ramozható mérőáramkör vezérlőbemenetei­­hez csatlakoznak, típusfüggő és teljes teszt­­nintát tölt a 3 tesztmintaregiszterbe, amely­­rek kimenetei a 4 típuskoníiguráló és ger­jesztő egység adatbemeneteire csatlakoznak. A 4 típuskonfiguráló és gerjesztő egység a kapott vezérlések alapján konfigurálja az adott típusú vizsgálandó elemhez tar­tozó mérési elrendezést, és a kimeneteire csatlakozó 5 vizsgálandó elem minden egyes kivezetéséhez generálja az aktuális tesztmin­tát. Ez a tesztminta az 5 vizsgálandó elem ezen tesztmintára adott válaszával együtt a 6 programozható mérőáramkör mérőbe­­meneteire kerül. Mivel a 6 programozható mé­rőáramkör az 5 vizsgálandó elem összes ki­vezetésére rácsatlakozik a hibavizsgálat nem korlátozódik a kimenetekre, azaz egy beme­net hibás volta (pl. leragadás) is felderíthe­tő. A 6 programozható mérőáramkör ellenőr­zi a válaszjelek feszültségszintjeit és a mé­rés eredményeit továbbítja a kimenetére csatlakozó 2 mikroprocesszoros vezérlő és kiértékelő egység bemeneteire, amely eze­ket kiértékeli, és a kiértékelés eredményét a kimeneteire csatlakozó 7 kijelző egységen megjeleníti. Az 1 típusválasztó feladata az, hogy meg­határozza a 2 mikroprocesszoros vezérlő és kiértékelő egység számára az 5 vizsgálandó elem típusát. A mikroprocesszoros vezérlő és kiértéke­lő egység egy CPU-ból, a CPU programját, az összes vizsgálandó elemhez tartozó mé­rési elrendezés konfigurációját és a tesztmin­­tasorozatokat tartalmazó EPROM-ból, va­lamint a CPU működéséhez szükséges óra­jelgenerátorból és reset áramkörből áll. Az egység feladata, hogy az 1 típusválaszón beállított típushoz tartozó, az EPROM-ból elővett adatok alapján a 4 típuskonfiguráló és gerjesztő egység segítségével konfigurál­ja az adott mérési elrendezést, és 3 tesztmin­­taregiszter segítségével a 4 típuskoníigurá­ló és gerjesztő egységen keresztül teljes teszt­3 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65

Next

/
Thumbnails
Contents