193758. lajstromszámú szabadalom • Kapcsolási elrendezés analóg és digitális integrált áramkörök és diszkrét félvezetó eszközök működőképességének ellenőrzésére
193758 mintát adjon az 5 vizsgálandó elem összes kivezetésére. Az egység feladata az is, hogy a 6 programozható mérőáramkör segítségével beolvassa és kiértékelje az 5 vizsgálandó elemnek az aktuális tesztmintára adott válaszát, és a kiértékelés eredményét a 7 kijelző egységen megjelenítse. A 3 tesztmintaregiszter az aktuális tesztmintát tárolja. A 4 típuskonfiguráló és gerjesztő egység feladata az, hogy a 2 mikroprocesszoros vezérlő és kiértékelő egység utasításai szerint konfigurálja a beállított típushoz tartozó mérési elrendezést (tápfeszültségek bekapcsolása, ki- és bemenetek konfigurálása). Feladata ezenkívül az is, hogy megfelelő védelmet biztosító áramkörön keresztül az 5 vizsgálandó elemre kapcsolja a 3 tesztmintaregiszterben tárolt tesztmintákat. Az 5 vizsgálandó elem lehet bármely maximum 20 db kivezetéssel rendelkező digitális vagy analóg integrált áramkör, dióda, NPN vagy PNP tranzisztor. A 6 programozható mérőáramkör a 2 mikroprocesszoros vezérlő és kiértékelő egység utasításai alapján megméri az 5 vizsgálandó elem összes kivezetésén az aktuális tesztmintára adott válasz feszültségszintjeit. A 7 kijelző egység megjeleníti, hogy az aktuálisan tesztelt elem funkcionálisan helyesen működik-e (GO), vagy valamelyik tesztmintára hibás tesztválaszt adott (NO GO). Ez utóbbi esetben az 5 vizsgálandó elem elsőnek hibásnak talált kivezetésének sorszámát is kijelzi. A fent leírt elemeket tartalmazó kapcsolási elrendezés kiviteli alakja a TEXELEKTRO Ipari Szövetkezet által gyártott és forgalmazott IC teszter családja. (Mikroprocesszoros Digitális IC Teszter, Mikroprocesszoros Analóg IC Teszter). Ezen kiviteli alakokban az 1 tipusválasztót la, lb, 1c decimális számkerekek realizálják. Ezek segítségével a tesztelni kívánt áramköri elem típusa egyszerűen és gyorsan beállítható. A 2 mikroprocesszoros vezérlő egység'Z 80 típusú CPU-t és I 27128 típusú EPROM-ot tartalmaz. A3 tesztmintaregisztert párhuzamosan beírható regiszterek realizálják. A 4 konfiguráló és gerjesztő egység 4a, 4b, 4c vezérelhető tranzisztoros kapcsolókból, és a védelmet biztosító 4d, 4e, 4f áramkorlátozó ellenállásokból épül fel. A 6 programozható mérőáramkört programozható komparálási feszültségű 6a, 6b komparátorsor realizálja. A 7 kijelző egység egy 7a LED-ből (a GO, illetve a NO GO teszteredmény jelzésére), valamint egy 7b kétdigites hétszegmenses kijelzőből (a hibásnak talált kivezetés jelzése) áll. Példaképpen bemutatjuk a Mikroproceszszoros Digitális IC Teszter működését. A teszter bekapcsolása után először a vizsgálandó elemet be kell helyezni az erre a célra kialakított, az ideiglenes kontaktusokat biztosító foglalatba, majd a decimális szám- 4 3 kerekeken be kell állítani a vizsgált elem típusának megfelelő kódot. (Pl. 7400 IC esetén 0 000-t, 74 C 10 esetén 1 010-et, 74 LS 138 esetén 0 138-at, dióda esetén 2 000-t stb.) Ezután a TESZT gomb megnyomásával el kell indítani a tesztet. A teszt alatt a mikroproceszszoros vezérlő és kiértékelő egység először beolvassa a típusválasztó kódtárcsákon beállított értékeket, és ez alapján az EPROAjibó’ előveszi a tesztelt elemhez tartozó konfigurációs adatokat, majd a konfiguráló és gerjesztő egységen keresztül konfigurálja az adott típushoz tartozó mérési elrendezést (tápfeszültség bekapcsolás, ki- és bemenetek konfigurálása). Ezután az EPROM-ból előveszi a beállított típushoz tartozó első tesztmintát és betölti a tesztmintaregiszterbe. Ez a minta a konfiguráló és gerjesztő egységen keresztül a tesztelendő elem bemenetelre és ki meneteire kerül. A vizsgálandó elem ezen gerjesztés hatására valamilyen tesztválaszt ad a kimenetein és a bemenetéin egyaránt. Ezeket a feszültségszint formájában megjelenő válaszokat a programozható komparálási feszültségű komparátorsorból álló programozható rrérőáramkör megméri. Ezen mérési eredményeket a mikroprocesszoros vezérlő és kiértékelő egység beolvassa és összehasonlítja az EPROM-ban tárolt helyes tesztválasszal. Ha a válasz helyes volt jön a következő tesztminta, ba nem, kijelzésre kerül a NO GO teszteredmény és az elsőnek hibásnak talált kivezetés száma. A tesztelés az első hiba megtalálásáig, vagy a tesztminták elfogyásáig tart. Az utóbbi eset azt jelenti, hogy a vizsgált elem az öszszes tesztmintára helyes választ adott, és így kijelzésre kerül a GO teszteredmény. A teszteredmény kijelzése után a mikroprocesszoros vezérlő és kiértékelő egység alapállapotba hozza a típuskonfiguráló és gerjesztő egységet (a vizsgált elem tápfeszültsége kikapcsolódik), és várja a következő teszt indítását. A fenti működést megvalósító, a CPU- n futó program vázlatos folyamatábrája a 2. ábrán található. A bemutatott kapcsolódásokból, és működésből következik, hogy a kapcsolási elrendezés a kitűzött céloknak megfelel. A tesztelni kívánt elem típusának ismeretén túlmenően nincs szükség semmilyen további információra az elem GO-NO GO típusú funkcionális működőképességének ellenőrzéséhez. A kapcsolási elrendezés egyaránt használható analóg, digitális és diszkrét félvezető eszközök GO-NO GO típusú ellenőrzéséhez. A mérési elrendezés konfigurálása és a tesztminták generálása a beállított típustól függően automatikusan történik. A tesztelés során a vizsgálandó elem minden elképzelhető működése vizsgálható, mivel a mikroprocesszoros vezérlő és kiértékelő egység teljes tesztmintát generál a vizsgálandó elemre, így a mérési eredmény megbízható. Mivel a hibavizsgálat kivezetésenként egy tárolt helyes tesztválasszal történő összehasonlítás alapján történik, an4 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65
