171896. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés fényképészeti anyagok roncsolásmentes vizsgálatára

9 171896 10 berendezés apertúráját a vizsgált anyagból kilépő szórt sugárzás kilépési pontjának közvetlen közelében elrendezett fényvezetőrúd tovább javítja, minthogy így a szórt sugárzás nagyobb hányada mérhető. Ugyancsak előnyös, hogy a találmány szerinti megoldásnál példaképpen 1,25 m-ig terjedő szélességű anyagpályák folytonos, a teljes pályatartományra kiterjedő vizsgálatának biztosítása mellett a letapogatósugárzás egyenletes intenzitását technikailag egyszerűen belátható és befolyásolható eszközökkel lehetett elérni, ahol is nemcsak a letapogatósugárzás intenzitásváltozásainak, hanem az optikai rendszer időbeni hatásfokváltozásainak és az érzékelőelemek érzékenységváltozásainak hatásai is kiszűrhetőkké váltak. Ennek következtében azonos optikai sűrűségű vizsgálandó fényképészeti anyag esetében biztosított, hogy az érzékelőelem azonos villamos kimenőjeleket ad, s ezzel ismét csak a mérési eljárás érzékenysége és a vizsgálandó anyag hibahelyeinek feltárási biztonsága növelhető. Járulékos előnyként jelentkezik a találmány szerinti megoldásnál, hogy a vizsgált anyag által közvetlenül visszavert, erősen irányfüggő sugárzás alkalmazása következtében a letapogatósugárzás intenzitását példaképpen a már megvilágított és előhívott fényképészeti anyagok hibahely-feltárásánál alkalmazható sugárzás intenzitásánál alacsonyabbra is megválaszthatjuk, és az ennek ellenére alkalmas a vizsgált anyagpálya felületi hibahelyeinek megállapítására. A nagyfokú érzékenység magyarázata, hogy a közvetlenül visszavert sugárzás a szükségesnél nem nagyobb apertúrájú érzékelőelemet felületi hibahely letapogatása esetén legalább kétszer bejárja, és a jelentkező jeleket önmagában ismert logikai áramkörök segítségével dolgozzuk fel. A felületi hibahelyek feltárására diszkrét mérési eljárás alkalmazása következtében elérhetővé vált, hogy a felületi érdesség csekély, a vizsgálandó anyag minőségét egyébként nem roncsoló ingadozásai, amelyek azonban az anyag által visszavert sugárzás intenzitásának változásait eredményezhetik, a megfelelő érzékelőelem villamos kimenőjelének megváltozását nem vonják magukkal. A fentieken túlmenően a vizsgálandó anyagpályát továbbító rendszer, illetve az utóbbiról adott esetben az anyagpályára átadott csekély mértékű rezgések ugyancsak nem jelentkeznek látszólagos hibahelyként. A találmány lényegét az alábbiakban a találmány szerinti eljárást foganatosító konkrét példaképpeni kiviteli alak kapcsán a mellékelt rajzok alapján részletesen is ismertetjük, ahol az l.ábra a vizsgált anyagpálya felületéről visszavert letapogatósugárzás sugármenetének vázlata a beesési vonal helyének érzékeltetésével, a a 2. ábra az anyagpályának a letapogatási hely közelében vett vázlatos részmetszete a terelőelem és a fényvezetőrúd feltüntetésével, a 3. ábra a sűrűségetalon elrendezése a fényvezetőrúdon és a hozzátartozó szabályozórendszer vázlata, a 4. ábra az anyagpályával visszavert letapogató-5 sugárzás sugármenetének vázlata hibátlan anyagfelület esetén, a 4a. ábra a 4. ábra kiemelt részlete, az 5. ábra az .anyagpálya felületéről visszavert letapogatósugárzás sugármenetének vázlata felületi 10 hibahely esetén, amely az érzékelőelemben kimenőjelet ébreszt, míg az 5a. ábra az 5. ábra kiemelt részlete. 1 sugárforrásból kiinduló 2 sugárnyalábot 3 szű-15 rőrendszerben oly módon szűrünk, hogy egyrészt a vizsgálandó fényképészeti anyag valamely érzékenységi tartomány-hézagának, másrészt a fényképészeti szempontból inaktív, áttetszőségingadozásaik révén a fényképészeti anyag minőségét hátrányosan nem 20 befolyásoló segédrétegek áttetszőségmaximumának megfelelő hullámhosszúsághoz közel eső hullámhosszúságú sugárzást nyerünk. A 3 szűrőrendszer úgy van kiképezve, hogy különböző, eltérő fényképészeti anyagok vizsgáihatósága érdekében 25 könnyen cserélhető. Megjegyezzük, hogy a találmány szerinti berendezés olyan kiviteli alakja is elképzelhető, amelynél 1 sugárforrásként változtatható hullámhosszúságú lézert alkalmazunk, amely utóbbi esetben a 3 szűrőrendszer elhagyható. A 30 fentiekben körvonalazott tulajdonsággal bíró 4 letapogatósugárzás 5 résblendén és 6 optikán halad át, mielőtt a 7 tükörrendszert eléri, ahol is az utóbbit a rajzon erősen leegyszerűsített formában ábrázoltuk. A 4 letapogatósugárzásnak a vizsgá-35 landó szalagjellegű 8 anyagpálya mozgásirányára keresztirányú mozgatása mellett a 7 tükörrendszer a 4 letapogatósugárnak a 8 anyagpályára történő 26a beesési szögét is meghatározza. Az 5 résblendét 9 hengerlencse segítségével 10 sugárbeesési 40 helyként képezzük le a szalagszerű 8 anyagpályára, és a 7 tükörrendszer formájában integrált tükörpoligon segítségével soronként olyan sebességgel mozgatjuk a 8 anyagpályához viszonyítva, hogy az ultrarövid időeffektus kihasználásával a 8 anyag-45 pályában a 4 letapogatósugárzás még nem hoz létre látens képet. A 10 sugárbeesési hely és a 8 anyagpálya viszonylagos elmozdulása oly módon választható meg, hogy még a 8 anyagpálya gyártási sebességeinek tartományába eső, az anyag foly-50 tonos, teljes tartományra kiterjedő vizsgálatát biztosító sebességek esetében is olyan nagy legyen, hogy a 11, 12 érzékelőelemek felső határfrekvenciával meghatározott zaja 1,25 m széles, 1 mm2 felületű hibahelyekkel rendelkező 8 anyagpálya fel-55 bontóképességét is az említett méretű hibahelyek nagy biztonságú feltárása mellett biztosítsa. A vizsgált 8 anyagpálya belső és felületi hibahelyeinek nagy biztonsággal történő megállapítása 60 szempontjából további feltételt képez a 8 anyagpálya által visszavert 14 sugárzás és a 8 anyagpályán átmenő 13 sugárzás egyidejű érzékelhetősége. A vizsgált 8 anyagpálya nemkívánatos lengéseinek, lebegéseinek elkerülése érdekében a 8 65 anyagpályát a 4 letapogatósugárzás 10 beesési he-5