171896. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés fényképészeti anyagok roncsolásmentes vizsgálatára

7 171896 8 sem pedig az anyagpálya lengései, rezgései, hullám­mozgása nem befolyásolják. Felismertük, hogy ezen tartomány a terelőelemen történő felfekvés helyé­től néhány milliméternyi távolságban található, ahol a terelőelem és az anyagpálya között csekély méretű hézag van. Ezen tartományban az anyag­pálya még nyugodt, hullámosodás- és lengésmentes állapotban van. A találmány értelmében a letapogatósugárzás beesési helyét a terelőelemként alkalmazott forgó, polírozott és átlátszó üreges henger és az anyag­pálya érintkezési helyének közvetlen közelében vá­lasztjuk meg. Ily módon tehát elkerüljük, hogy az anyagpálya lengései, hullámosodása, vagy a felü­letnek a vizsgálata során a terelőelemként alkal­mazott henger elszennyeződése következtében be­következő helyzetváltozása az érzékelt sugárzást megváltoztatva látszólagos hibahelyként jelent­kezzen. Ugyanakkor ugyanazon letapogatósugárzás vizsgált anyagon átmenő hányada is anélkül érzé­kelhető és értékelhető, hogy azt az átlátszó üreges henger lényegesen gyengítené. Még a terelő­elemként alkalmazott üreges henger anyagában esetlegesen előforduló kisméretű zárványok is csupán lényegtelen mértékben változtatják meg a szórt sugárzást, és így nem jelentkeznek látszólagos hibahelyekként. Az üreges henger belső terében a korábbiak szerint elrendezett fényvezetőrúd a vizsgált anya­gon átmenő szórt sugárzás összegyűjtésére és egy­idejűleg annak a homlokoldalakhoz történő tovább­vezetésére szolgál. Ezen önmagában ismert fény­vezető rúdon a vizsgált anyagon áthatolt átmenő sugárzás felőli oldalán sűrűségetalont helyezünk el oly módon, hogy azt a letapogatósugárzás a vizs­gált anyag minden sorának letapogatása alkalmával bejárja. Ez úgy valósítható meg, hogy a sűrűség­etalont a fényvezető rúdnak az anyagpálya szegély­élén kívül eső végtartományára visszük fel. Amikor a sugárzás e sűrűségetalont tapogatja le, az érzé­kelőelem olyan mérőjelet kap, amellyel elvégezhető az alapjelösszehasonlítás, és ezzel a már említett módon a letapogatósugárzás, valamint az optikai és optikai-elektronikus rendszerek állandóságának el­lenőrzése foganatosítható. A hatásfok növelése ér­dekében az önmagában ismert fényvezetőrúdnak a vizsgált anyaggal ellentétes oldalán magas albedójú anyagból álló betétet befogadó horony van elren­dezve. Az apertúra növelése érdekében a fény­vezetőrúd az átlátszó üreges henger belső falának közvetlen közelében van elrendezve, mégpedig a letapogatósugárzás felőli faltartomány mellett. A találmány szerinti berendezés szerves részét képezi továbbá egy olyan további érzékelőelem, amelynek elhelyezését úgy választottuk meg, hogy a hibátlan anyagfelülettel közvetlenül visszavert sugárzás sugár­menetén kívül, attól néhány centiméternyi távolság­ban van elrendezve. A visszavert sugárzás szögtarto­mánya csupán hibahely révén megváltozott felület­elem letapogatása esetén esik egybe rövid időre az említett érzékelőelemet befolyásoló sugármenettel. A találmány szerinti megoldás előnye, hogy le­hetővé teszi a vizsgált fényképészeti anyagokban a lényegében a szórt sugárzás-hányadot megváltoztató hibahelyek feltárását, minthogy a fényképészeti anyagok érzékenységi tartomány-hézagai általában olyan hullámhossztartományokban találhatók, ame-5 lyekben a fényképészeti anyag a letapogatósugár­zást szórja. A kevéssé érzékeny tartomány-hézagok kihasználása révén az ultrarövid időeffektus egy­idejű kihasználása mellett a sugárnyaláb beesési helyének az anyaghoz viszonyított relatív mozgási 10 sebessége a letapogatósugárzás azonos intenzitása mellett még csekély hibák feltárhatóságának feltéte­lezésével is kisebbre választható meg. Ezzel lecsök­ken a szükséges felső határfrekvencia. Az ezzel együttjáró jel/zaj-viszony nagyobbodás ugyanakkor 15 a mérési eljárás érzékenységét növeli és ez egyben azt jelenti, hogy a hibahelyek feltárásának bizton­sága növekszik. Ha a letapogatósugárzás hullám­hosszúságát egyidejűleg olyanra választjuk meg, hogy az az átlátszóság ingadozásai révén az anyag-20 minőséget nem csökkentő segédrétegek áttetszőség­maximumának közelébe esik, úgy az ezzel össze­függő sugárzásabszorpció minimálissága és az ezzel együttjáró, ezen segédrétegek által okozott csekély sugárzási moduláció az érzékelőelemeknek a hibát-25 lan anyag áttetszőségingadozásai által okozott alap­zaját minimumra korlátozza, ami ismét csak a jel/zaj-viszony növekedését és a hibahelyek feltárá­sának fokozott biztonságát eredményezi. 30 A találmány szerinti megoldás további előnye, hogy egyetlen letapogatóberendezés alkalmazásával egyidejűleg tárhatók fel a vizsgált fényképészeti anyag belső és felületi hibahelyei egyaránt anélkül, hogy az anyagpálya vizsgálat közbeni véletlenszerű 35 alakváltozásai (példaképpen hullámosodása vagy gyűrődése) vagy pedig lengései és a sugárbeesési hely ez utóbbiak által okozott helyzetváltozásai látszólagos felületi hibahelyek kijelzését okoznák, amely utóbb említett jelenségek a visszavert sugár-40 zást normál helyzetéből ugyanúgy kitérítik, mint ahogy az a vizsgált anyagpálya felülethibás tar­tományai révén bekövetkezik. A találmány szerinti megoldás révén egyidejűleg azt is elérjük, hogy a terelőelem mentén való súrlódás következtében fel-45 lépő esetleges anyagkopás okozta csekély szennye­ződések a mérési eredményt nem befolyásolják hátrányosan. A fentieken túlmenően a vizsgált anyagpálya belső, valamint felületi hibahelyeinek egy menetben történő vizsgálati lehetősége egyetlen 50 berendezés alkalmazásával azt eredményezi, hogy a fényképészeti anyagot további sugárterhelés már nem éri, továbbá a feltárt hibák helyének identifi­kálása, amely két különböző rendszer alkalmazása esetén nehézségekbe ütközik, a találmány szerinti 55 megoldásnál lényegesen egyszerűbbé válik. A találmány szerinti eljárás további előnye, hogy nem igényli a vizsgált anyag szórt sugárzásá­nak összegyűjtésére egyébként szükséges, reflexió 60 és abszorpció révén a mérendő sugárzáshányadot azonban csökkentő járulékos hengerlencse alkalma­zását. Ezzel a szerkezeti méretek kisebbre választ­hatók és a rendszer kevesebb költséggel alakítható ki. A már említett hibahely-feltárási biztonság-65 növekedést előnyösen befolyásolja, hogy a vevő-4

Next

/
Thumbnails
Contents