171896. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés fényképészeti anyagok roncsolásmentes vizsgálatára

5 171896 6 céljára a vizsgált anyag hátrafelé szórt sugárzását (remisszióját) használják fel, ezzel a fentiekben körvonalazott kritikus helyzetfüggőséget megkerülik. Az eljárás azonban csak akkor alkalmazható, ha a letapogató sugárzás intenzitása kellően 5 nagy,, mint ahogy ez az említett eljárásnál megvalósítható, minthogy annak célja már megvilágított és előhívott keskeny szalagszerű fényképészeti anyagok, például mozifilmek hibahelyeinek feltárása. Alacsony intenzitású sugárzás esetén a remisszió 10 roppant csekély, s csupán nagyon csekély hibaérzékenységű eljárást tesz lehetővé. A találmány célját fényképészeti anyagok folytonos, az anyag teljes terjedelmére kiterjedő ron- 15 csolásmentes vizsgálatára, és ezzel a meglevő hibahelyek (belső vagy felületi hibahelyek) objektív megállapítására alkalmas olyan eljárás,, valamint annak foganatosítására alkalmas berendezés kialakítása képezi, amely az anyag minőségét károsan befolyá- 20 soló említett hibahelyek gyors megállapítását, és ennek alapján a gyártási folyamatba való azonnali beavatkozás foganatosítását teszi lehetővé, és ezzel a fellépő veszteségekét messzemenően minimumra csökkenti. A konkrét célt 1,25 m-ig terjedő széles- 25 ségű fényképészeti anyagpályák már említett jellegű roncsolásmentes vizsgálatára alkalmas, olyan hullámhosszúságú sugárzás segítségével megvalósított optikai letapogatás útján foganatosított eljárás kialakítása képezi, amely egyrészt nem hoz létre a 30 vizsgált anyagban látens képet, másrészt az anyag minőségét nem befolyásoló, a fényképészeti szempontból inaktív rétegekben meglevő áttetszőségkülönbségek hibahelyként történő értékelését kiküszöböli, s amely egyidejűleg és nagy biztonsággal 35 teszi lehetővé az anyag minőségét csökkentő belső és felületi hibahelyek feltárását is, továbbá amelynél a mérőrendszer hibaérzékenységét az alkalmazott szerkezeti elemek öregedése vagy elszennyeződése nem befolyásolja, és ugyancsak nem hatnak 40 hátrányosan a mérés illetve vizsgálat eredményére az anyagpálya vezető- és terelőelemein képződött lerakódások és szennyeződések, valamint az anyagpálya továbbítása során fellépő rezgések, lengések, hullámosodás illetve gyűrődés sem. 45 A kitűzött célt olyan tárgyi jellegű eljárás kialakításával és alkalmazásával érjük el, amelynél a találmány értelmében a vizsgálandó anyagpálya érzékenységi tartományhézagainak és a fényképészeti 50 szempontból inaktív segédrétegek maximális áttetszőségének megfelelő hullámhosszúságú letapogató sugárzást irányítunk az egyértelműen meghatározott helyzetben vezetett vizsgált anyagpályára, az anyagpályán majd ezt követően az utóbbit vezető terelő- 55 elemen áthatolt szórt sugárzást fényvezető rúddal összegyűjtjük és folyamatosan legalább egy fényelektronikus jelátalakítóhoz vezetjük, miközben az anyagpálya minden sorának letapogatását követően egyidejűleg alapjelösszehasonlítást is végzünk, és a 60 vizsgált anyag hibátlan felületrészei, valamint felülethibás tartományai által visszavert sugárzásokat érzékelőelemmel felfogjuk. A találmány szerinti eljárás előnyös foganatoátási módjánál a letapogató. sugárzás intenzitás- 65 ingadozásait és az érzékelőelemek érzékenységváltozásait az anyagvizsgálat közben az anyagpálya mellett elhelyezett sűrűségetalonnal végzett állandó alapjelösszehasonlítás révén megfelelő szabályozószervvel kompenzáljuk. A találmány szerinti eljárás foganatosításánál előnyösnek bizonyult, ha a letapogató sugárzás sugárbeesési helyét a vizsgált anyagpályán az utóbbi alátámasztás nélkül is állandó helyzetű tartományában választjuk meg. A találmány szerinti eljárás foganatosítására alkalmas, ugyancsak találmány szerinti berendezésnek a letapogató sugárzás beesési helyének közvetlen közelében (kb. 3 mm) a vizsgálandó anyagpályát vezető terelőelemként elrendezett forgó, polírozott átlátszó üreges hengere van, amelynek belsejében a terelőelem anyagpálya felőli faltartományának közvetlen közelében fényvezetőrúd van elrendezve, ahol is a fényvezetőrúdnak a vizsgálandó anyagpályán átmenő sugárzás felé néző oldalán az anyagpálya szegélyélén kívüli tartományban sűrűségetalon, míg a sugármenettel ellentétes oldalán magas (>0,9) albedójú anyagból álló betétet befogadó horony, míg homlokvégein legalább egy fényvillamos érzékelőelem van elrendezve, továbbá a hibátlan anyagpálya által közvetlenül visszavert sugárzás visszaverődési szögétől néhány (kb. 2°) fokos szögeltéréssel elrendezett további érzékelőeleme is van. A találmány szerinti eljárás és az annak foganatosítására alkalmas fenti berendezés az eddig ismert azonos rendeltetésű eljárásokhoz képest érzékenyebb és biztonságosabb hibahely-feltárást tesz lehetővé különösen annak révén, hogy a vizsgált anyagpálya által visszaszórt kevésbé intenzív letapogató sugárzás kiértékelése helyett a kiértékeléshez az erősen irányérzékeny és intenzív, közvetlenül visszavert sugárzást használjuk fel, mégpedig oly módon, hogy e közvetlenül visszavert sugárzás hibátlan felülettartómányokről a sugármenetben elrendezett érzékelőelem mellett néhány centiméterrel halad el, míg felületi hibahelyről történő visszaverődés esetén legalább kétszeres iránytörés mellett az érzékelőelemre vezetjük. A találmány szerinti eljárás értelmében a letapogató sugárzás konstans intenzitását az optikai rendszerek konstans átviteli viselkedésével együttesen oly módon biztosítjuk, hogy minden egyes sor letapogatását követően az érzékelőelemek kimenőjelének ellenőrzésére sűrűségetalon letapogatásával alapjelösszehasonlítást végzünk, ahol is az alapjelet konstans alapjeladóból nyerjük, és a rendszer erősítését ismert szabályozástechnikai módszer szerint az esetlegesen tapasztalt ingadozásokat kompenzáló értelemben módosítjuk. A találmány szerinti eljárás értelmében a letapogatósugárzás beesési helyét a vizsgálandó anyag olyan pályatartományában választjuk meg, amely tartományban az anyagpálya helyzetét sem a terelőelemen esetlegesen lerakódott szennyeződések, 3