Fogorvosi szemle, 2015 (108. évfolyam, 1-4. szám)
2015-09-01 / 3. szám
76 FOGORVOSI SZEMLE ■ 108. évf. 3. sz. 2015. 1. ábra: Nagy teljesítményű lézerrel kezelt felszínprofil SEM képe 200-szoros nagyításban, ahol jól ábrázolódik a felület elsődleges struktúrájának 50-60 mikrométeres mérete 2. ábra: Nagy teljesítményű lézerrel kezelt felszínprofil SEM képe 500-szoros nagyításban, jól látszik a felszín 10-15 mikrométeres másodlagos struktúrája a morfológia sokszínűségét. A lézerrel kezelt felület jellegzetes morfológiát mutat; szabályosan elhelyezkedő, hullámzásszerű elsődleges struktúra figyelhető meg egymástól 30-60 mikron távolságban pásztázó elektronmikroszkóp alatt. Ugyanakkor láthatóvá válik az úgynevezett körte formájú másodlagos struktúra is, amelynek nagysága 10-15 mikrométer és a felszíni dendritek, melyek a mikrométer vagy nanométeres nagyságrendű harmadlagos struktúrát alkotják. [2, 8, 10, 11, 15]. (1. és 2. ábra) Az előbb leírt eljárás - melyet a klinikumban az Uniplant SP implantátumok esetében alkalmaztunk - az MTA Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet Vékonyréteg és Nanoszerkezetek Osztálya szabadalmaztatta [18]. Az implantátumokat a hódmezővásárhelyi Protetim Orvosi Műszergyártó Kft. gyártotta és a budapesti Sanitaria Kft. forgalmazta. Az Uniplant SP implantátumok felületkezelése során a lézersugár teljesítménye 3 J/impulzus volt. Vizsgáltuk a fent említett módon történt felületkezelés után a 1997. január 1. és 2006. december 31. között beültetett implantátumok sikerességi és túlélési rátáját, valamint azt, hogy közép- és hosszútávon követett implantátumok milyen klinikai és radiológiai paraméterekkel rendelkeznek. Ezen adatok birtokában következtethetünk a lézeres felületkezelés eredményére, és összehasonlíthatjuk az értékekeket más szerzők jól dokumentált felületi morfológiai adataival [2, 4, 6]. Anyag és módszer A beültetett implantátumok felületkezelése nagyteljesítményű Nd/üveg lézerrel történt (Uniplant SP). Az implantátumokat két sebész helyezte be (D. T. és J. F. Á.) - akik szerzők is - a Semmelweis Egyetem Arc-, Állcsont-, Szájsebészeti és Fogászati Klinikán elfogadott és alkalmazott sebészi technikával. Az implantátumokat minden esetben a csont szintjébe helyeztük be, és korrekt protetikai pozícióban, jó primér stabilitással rendelkeztek. A páciensekkel levél útján felvettük a kapcsolatot és felkértük őket a klinikai kutatásban történő részvételükre. A Helsinki Deklarációnak megfelelően minden beteget írásban tájékoztattunk a vizsgálat céljáról. Kérdőív alapján vizsgáltuk a betegek általános egészségi állapotát, különös tekintettel gyógyszerszedési és dohányzási szokásaikra és ez eltelt években felmerülő - biológiai és technológiai - problémáikra, amelyek összefüggésben lehettek a beültetett implantátumukkal. Az esetekről fotódokumentációt készítettünk. A radiológiai vizsgálatoknál a panorámaröntgen-felvételek mellett minden implantátumról intraorális (long-cone) felvételt is készítettünk. A következő klinikai és radiológiai paramétereket mértük: 1. Vizsgáltuk a periimplantitis jelenlétét vagy hiányát 2. Plakk jelenlétét vagy hiányát 3. ínyvérzés jelenlétét vagy hiányát 4. A szondázási mélységet (Probing Depth, PD): parodontális szondával, hat helyen az implantátum körül 5. Az implantátum válla és a marginális mucosa közötti távolságot (Distance from the Implant shoulder to the mucosal Margin, DIM value), parodontális szondával, hat helyen az implantátum körül [6] 6. Az implantátum válla és az első csontimplantátum kontaktpont közötti távolságot (Distance from the implant shoulder to the first Bone-to Implant contact, DIB-value), párhuzamos, long-cone technikával készült kisfelvételen, mesialis és distalis oldalon [6] Mértük a sikerességi és túlélési rátát, elemeztük a vizsgálatban részt vevő páciensek általános egészségi állapotát. Rögzítettük a vizsgálatban résztvevők átlagéletkorát és a férfi/nő arányt. Továbbá vizsgáltuk a protetikai indikációt (egy fog hiány, sorvégi hiány, hosszú sorközi hiány, teljes fog
