Kovács Petronella (szerk.): Isis - Erdélyi magyar restaurátor füzetek 20. (Székelyudvarhely, 2020)
Morgós András - Sajó István - Minami Takeshi: Segesvár és Kőhalom környéki, 17 - 19. századi festett bútorok pigmentjeinek roncsolásmentes vizsgálata hordozható röntgen fluoreszcens elemanalizátorral. Adalékok a auripigment-indigózöldhöz és alkotóihoz
információt arról, hogy a sugár pontosan milyen mélyre hatolt be, ezért pl. az egymáson több festésréteggel rendelkező tárgy vizsgálatakor, nemcsak a legfelső festékrétegben, hanem nagy valószínűséggel az alatta húzódó rétegekben levő elemeket is kimutatja, összeméri. Ezért erre a kiértékeléskor feltétlenül gondolni kell, sokszor nem dönthető el egyszerűen, hogy egy adott elem karakterisztikus jele valójában melyik rétegből származik. • Elemazonosítási gondok: a pXRF készülékek energiadiszperzív, félvezető detektorokat használnak. Ezek energiafölbontása nem túl jó, így egyes elemek egymáshoz közel eső jellemző színképvonalait nem tudják elkülöníteni. A színképvonalak átfedése miatt előfordulhat, hogy a mérés is, és az elemek azonosítása is hibás. Emiatt a spektrumok kiértékelése a fölhasználó részéről hozzáértést és tapasztalatot igényel. • Kén-ólom probléma: ha a mérendő helyen kén és ólom együtt található, a kénre jellemző gyenge K spektrumvonal átfed (egybeesik) az ólom M erős vonalával, emiatt könnyen előfordulhat, hogy a két elemet öszszetévesztik a kiértékelésnél, és az egyik jelenlétében a másikat nem veszik észre. Ez előfordulhat pl. ólomfehér és gipsz együttes jelenlétekor. Ennek kiküszöbölésére ugyanazon a helyen hosszabb (pl. kétszeres vagy háromszoros) mérési idővel meg kell ismételni a mérést (lásd 1. táblázat 513. és 514. mérés). A felsorolt okok miatt a pXRF mérések mellett esetenként más vizsgálatokat is szükséges elvégezni. Ezekhez - pl. a mikroszkópos keresztmetszeti rétegszerkezeti vizsgálathoz, röntgen diffrakcióhoz stb. - általában mintavétel szükséges. A pXRF vizsgálatot nagyon jól kiegészíti a Raman mikroszkópia. 1.2. A módszer előnyei • A pXRF méréshez nem szükséges mintavétel, ami műtárgyak esetében igen előnyös, különösen, azoknál, amelyekből nem engedélyezik a mintavételt: pl. kisméretű, értékes régészeti leletek, kiemelkedő értékű festmények stb. Meg kell jegyezni, hogy esetenként a tárgyak felületének minimális előkészítésére szükség lehet pl. a vastag szennyeződés vagy korrózió eltávolítására. • A készülék hordozhatósága miatt helyszíni vizsgálat és mérés is lehetséges (1. kép), pl. múzeumokban vagy ásatáson. Rendkívül rövid idő szükséges (percek) az analízishez, ezért más vizsgálati módszerekkel szemben költséghatékony. • pXRF vizsgálattal a tárgyak szinte mérettől függetlenül vizsgálhatók. Különösen alkalmas a tárgyak felületén levő szervetlen anyagok (pigmentek, korrózió, fémtárgyak felületén helyi ötvözet-összetétel stb.) vizsgálatára. • Minőségi és esetenként mennyiségi elemzésre is alkalmas. • A nyomelemeket is kimutatja, ezért megfelelő lehet származási hely meghatározására. 1.3. Hátrányok és korlátok • A pXRF csak a kristályt alkotó elemek kimutatásra alkalmas, a kristályok szerkezetére nem, ellentétben a röntgendiffrakciós analízissel (XRD). • A pXRF analízis nem tudja megkülönböztetni ugyanannak az elemnek az izotópjait. • A pXRF műszer nem tud különbséget tenni ugyanazon elem különböző vegyértékű ionjai között. Pl. nem különbözteti meg a Fe2+-t a Fe3+-tól. • A potenciálisan heterogén felszínü tárgyak analízise problémás lehet, pl. nagyméretű felületi kristályok jelenléte esetén. • Nagyon heterogén összetételű anyag pXRF-fel többnyire nem vizsgálható. Több vastag rétegből álló tárgyak vizsgálata pXRF-fel csak keresztmetszeti mintavétel után lehetséges. • Egyes mátrixokban az elemek átfedése, pl. Fe/Co együttes jelenléte esetén hibás Co adatokat ad. Ilyen esetben a mátrixhoz igazított kalibráció segíthet. 2. A Segesvár és Kőhalom környéki festőasztalos munkákon végzett vizsgálatok és kiértékelésük Öt, Segesvár és Kőhalom környéki, a 17. század vége és a 19. század eleje közötti időből származó, festőasztalosok által készített festett bútor pigmentjeinek a vizsgálatát végeztük el 2011-ben Thermo Niton XL3t pXRF műszer TestAll Geo kalibrációs beállításával (1. kép).3 Ez a beállítás általában alkalmas volt az elemanalízisekhez. A vizsgálati helyeken a mérési terület átmérője 8 mm, a mérési idő 60 másodperc körüli volt, de alkalmaztunk 150 1. kép. A nagy laptéka 180(3?) pigmentjeinek vizsgálata Thermo Niton XL3t pXRF elemanalizátorrai. 3 Gyártó: Thermo Fischer Scientific, USA: https://www.thermofisher. com/order/catalog/product/10131166#/10131166 (letöltve: 2020.05.07.). 45
