Kovács Petronella (szerk.): Isis - Erdélyi magyar restaurátor füzetek 11. (Székelyudvarhely, 2011)
Tóth Attila Lajos: Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak
Primer elektronsugár Auger elektronok (1 nm mélységből) Szekunder elektronok SE információs tartomány (10 nm) Visszaszórt elektronok (BE) információs tartománya (100 nm) Röntgensugárzás (XR) információs tartománya (1000 nm) A gerjesztett térfogat mélysége 6. ábra. Gerjesztett térfogat és a belőle származó jelek mélységi eloszlása. 7. ábra. Egyik oldalán aranyozott fémszalag külső és belső oldalának analízise (illusztráció).- speciális mérési és kiértékelési módszerekkel (több behatolási mélységgel mérve) a mélység és az összetétel szimultán meghatározása. A mélység egzakt előzetes beállításához a minta sűrűségére és átlagos rendszámára van szükség. Ha sikerül olyan röntgenvonalakat választanunk, melyek elég kis energiájúak lévén gerjeszthetők akkora energiával, melynél a gerjesztett térfogat az aranyrétegen belül marad - szerencsénk van (6. ábra). Szerencsés esetben tehát a két oldal analízise jellemzi az aranyozást és az alapfémet (7. ábra). 1 (nanometers) 9. ábra. Vékonyan aranyozott fémszalag Au rétegvastagságának meghatározása több elektron-energiával végzett mikroanalízis sorozatból STRATA programmal készült kalibrációs görbék felhasználásával. Ha a gerjesztés mélysége nagyobb a felületi réteg vastagságánál,- mint az elektrokémiai úton leválasztott vékony aranyréteg esetében - az analízis eredményébe az alapfém elemei is bekerülnek. Ilyenkor a több energiával végzett pontanalízis segíthet (8. ábra). A különböző behatolási mélységek különböző látszólagos összetételt eredményeznek. Kisebb behatolásnál inkább a réteg, nagyobb behatolásnál inkább az alapfém járul hozzá a „hamis” átlagösszetételhez. Ezután szimulált görbékkel összehasonlítva, vagy a STRATAgem programot futtatva megkapjuk a rétegvastagságot és összetételt. A program - kihasználva, hogy az évtizedek folyamán egyre fejlesztett korrekciós eljárások eljutottak oda, hogy a röntgensugárzás keletkezésének mélységét és mélységi eloszlását nanométer nagyságrendben tudjuk modellezni, lehetővé teszi ismeretlen rétegszerkezetek vastagságának és összetételeinek szimultán meghatározását. Leírása megtalálható a gyártó honlapján ( http://www.samx.com/microanalysis/products/stratagem us.html) Esetünkben azt kapjuk, hogy a tiszta Au réteg 36 +/- 10 nm vastagságú (9. ábra). 11
