203598. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés üvegtárgyak, főként palack- és öblösüvegek fenékalji káros feszültségeinek integrális optikai vizsgálatára

1 HU 203 598 A 2 A találmány tárgya eljárás és berendezés üvegtárgyak, főként palack- és öblösüvegek fenékalji káros feszült­ségeinek integrális optikai vizsgálatára, amelynek se­gítségével a vizsgálandó üvegtárgyak gyors, objektív minőségi osztályozása végezhető el. Folyadékok, konzervipari termékek stb. tárolásá­nak leggyakoribb módszere a különböző méretű és for­májú üvegekbe történő palackozás. Az üvegtárgyak élettartama nagymértékben függ a bennük levő káros mechanikai feszültségektől. Különösen fontos a nyo­mással töltött üvegtárgyak feszültségmentessége a fel­robbanási veszély csökkentésére. Az üvegtárgyak gyártási technológiája (préselés, fújás) olyan, hogy ká­ros mechanikai feszültségek keletkezésére gyakran le­het számítani. Igen fontos feladat különösen az üveg­tárgyak fenékalji részében fellépő káros mechanikai feszültségek felderítése, ellenőrzése, mind selejtcsök­­kentési, mint biztonságtechnikai okokból. Szükség van tehát olyan vizsgálati-minősítési módszerre és beren­dezésre, amely alkalmas a gyártott üvegtárgyak MEO jellegű végellenőrzésére, vagyis gyors mérésére és mi­nőségi szelekciójára. Az üvegiparban erre a feladatra jelenleg polariszkó­­pot (feszültségvizsgáló készüléket) alkalmaznak. A ké­szülék működésének alapjául a feszültségoptikai ket­tős törés jelensége szolgál. Nevezetesen, mechanikai feszültség hatására az eredetileg optikailag izotróp üveganyag kettősen törővé válik, vagyis a törésmutató eloszlása az üvegtárgyban többé már nem izotróp, ha­nem irányfüggő. így az ún. törésmutató felület nem gömb, hanem ellipszoid. A kettőstörővé vált üvegtárgyon áthaladt fény pola­rizációs állapota megváltozik a belső fény polarizációs állapotához képest, nevezetesen lineárisan poláros fényből általában elliptikusán poláros fény lesz. Az említett készülékben tehát a vizsgálandó üveg­tárgyat a fenékalj felőli oldalról lineárisan poláros fe­hér fénnyel megvilágítják, mégpedig oly módon, hogy a megvilágító fénynyaláb keresztmetszeti intenzitáse­loszlásának homogenizálására részben fényáteresztő fénydiffúzer ernyőt használnak, majd ezt követi egy nagy átmérőjű (30-40 cm) polárszűrő. Az így előállí­tott megvilágító fény útjába helyezik az üvegtárgyat, amelynek forgástengelye párhuzamos a megvilágító fénynyalábbal. A fenékaljon áthaladt fényt polároszű­­rőn (analizátoron) keresztül észlelik vizuálisan, még­pedig oly módon, hogy az üvegtárgy tengelyének elfor­gatásával a nyakon keresztül lehet a fenékalj egy-egy látható részét megvizsgálni. A polárszűrő után színes csíkok (izokromaták) lát­hatók, amelyek a feszültségnek a fenékalji részben történő eloszlását jellemzik. Ismeretesek a szakiro­dalomból (Vermes Miklós: A poláros fény, Műszaki Könyvkiadó, 1967; Üvegipari Kézikönyv, Műszaki Könyvkiadó, 1964) optikai anyagok mechanikai fe­szültségeinek vizsgálatára szolgáló más módszerek is. Egyik ilyennél monokromatikus, síkban poláros be­eső fényt alkalmaznak fehér fény helyett és a polár­szűrő után kialakuló fekete csíkok rendszere szolgál a feszültségek síkbani eloszlásának jellemzésére, ami igen bonyolult módon, kvalifikált vizuális észlelés és elemzés közbeiktatásával végezhető csak el. Az ismert módszereket összefoglalva megállapít­hatjuk: 1. )Az észlelés szubjektív, ami különösen kis feszült­ségnél, ahol a „színeltolódás” kicsi, okoz nagy mé­rési bizonytalanságot. 2. ) A kiértékelés lassú, a feszültségeloszlás műszeres kijelzése nem megoldott. 3. )A fenékalj teljes területét integrálisán jellemző, minősítést szolgáló „mérőszám” előállítására nem alkalmasak. 4. ) Kis nyakátmérőjű palacküvegeknél a fenékalj tel­jes területében történő, egyidejű vizsgálatát a szo­kásos párhuzamos vagy diffúz megvilágítási mód­szerek nem képesek biztosítani. 5. )Kis feszültségnél az észlelhető fényintenzitás rend­kívül piciny, a detektálható legkisebb feszültséget a fényforrás polarizációs foka, monokromaticitása és a környezeti fény nagymértékben befolyásolják. Ismeretesek olyan eljárások is, amelyeknél a külön­böző anyagok vizsgálatára a lézer fényforrást elteijed­­ten alkalmazzák. A technika állásához tartozó, US 4 469 442 lajst­romszámú amerikai szabadalmi leírásban ismertetett megoldás vékonyrétegek tisztaságvizsgálatára szolgál. A vizsgálat célja, hogy a vékonyrétegben levő inho­mogenitást (por, göb, zárvány, réteghiba, egyéb szennyezettség), ami optikai szórócentrumot képez, a szórt fény depolarizálásával keletkezett apoláros (po­­larizálatlan) fény észlelésével kimutassák és ennek alapján a megvizsgált vékonyréteg tisztaságát minő­sítsék. A berendezés lézer fényforrást, spirális letapogató!, gyűjtőlencsét, fénynyaláb szaggatót, polárszűrőt, lé­zerszűrőt, diffúzon, fénydetektort, alacsonyfrekven­ciás szűrőt és oszcilloszkóp displayt tartalmz. Ez a megoldás vékonyrétegek tisztaságvizsgálatának elvég­zésére és optikai úton történő minősítésére szolgál, azonban üvegtárgyak káros mechanikai feszültség­­vizsgálatára és az ilyen jellegű hibák kimutatásiba nem alkalmas. A találmány célul tűzte ki az ismert megoldások hi­ányosságainak megszüntetését és olyan eljárás és be­rendezés létrehozását, amely üvegtárgyak, főként pa­lack- és öblösüvegek fenékalji káros feszültségeinek integrális (felületi átlagot képező) optikai vizsgálatát és a vizsgálat minősítését nagy érzékenységgel és ob­jektív módon teszi lehetővé. A találmány szerinti megoldás a következő felisme­réseken alapul:- A vizsgálandó üvegtárgyak fenékalji részét az üveg­tárgy nyaka felől meghatározott magasságú és kép­szögű .képformájú” fénynyalábbal kell megvilágí­tani a teljes fenékalj egyidejű megvilágításának biz­tosítása, valamint az üvegtárgy oldalfala megvilágí­tásának elkerülése érdekében.- A különböző hosszméretű üvegtárgyakhoz illeszke­dő fénykúpok előállításának biztosítására lineári­san polarizált fényű lézert, lyukblendét és kis fó­5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 3

Next

/
Oldalképek
Tartalom