201607. lajstromszámú szabadalom • Transzmissziós analizátor

HU 201607 A A találmány tárgya transzmissziós analizátor, amelynek vizsgálandó mintára a közeli infravörös tartományba eső monokromatikus fényt kibocsátó, fényforrást és adott esetben szűrőt tartalmazó op­tikai rendszere, mintatartóban elhelyezkedő min­tán áthatoló fénysugár intenzitását érzékelő mérő­detektora, a fényforrással optikai kapcsolatban álló referencia detektora, a detektorokhoz csatlakozta­tott adatgyűjtő, feldolgozó és vezérlő egysége van. A láthatóhoz közeli infravörös hullámhossz tar­tományban a meghatározott hullámhosszak ab­­szorbanciáját mérő transzmissziós analizátorok anyagösszetételt határoznak meg a vizsgált mintán áthatolt elektromágneses fénysugárzás spektrumá­ban levő információk feldolgozásával. Az ismert transzmissziós analizátorok sajátosan nyitott opti­kai rendszerében a fényt a levegőn vezetik keresz­tül, és az optikai elemek felülete az atmoszférikus változásoknak is kitett környezeti levegővel érint­kezik. Ez számos esetben a mérés eredményét ér­demben is károsan befolyásolhatja. Egyes esetekben a transzmissziós analizátor szerkezeti felépítésének célszerűsége egymástól el­térő optikai úthosszákat okoz, és az optikai szerke­zeti elemekről reflexióval szórt fény ugyancsak be­folyásolhatja a mérési eredményeket, így a szóródás és a reflexió ellen speciális konstrukciós és techno­lógiai megoldásokat kell foganatosítani. Ilyen kate­góriába eső transzmissziós analizátort ismertet az US-C 4.286.327 lajstromszámú szabadalmi leírás, amelyben az optikai rendszer fényforrásaként egy­mástól optikailag elszigetelt, azonos típusú széles­sávú fényemittáló diódák vannak sík nyomtatott áramköri lapon négyzetes rendben elrendezve, amelyek egy vagy több darabos sorozatból állnak, és a meghatározott hullámhosszúságok konkrét ér­tékeit a fényemittáló diódák elé helyezett szűrők biztosítják. A fényforrás által kibocsátott fény Fres­nel lencsén és homogenizátoron keresztüljut a min­tára, majd azon áthaladva a szilícium fényérzékelő mérődetektorra. Az ilyen elrendezéssel megvalósí­tott transzmissziós analizátor mérési pontosságát és a mérési eredmények reprodukálhatóságát az optikai elrendezés hátrányosan befolyásolja, mivel a különböző hullámhosszúságú fény úthossza a vizsgálandó mintában is különböző és a kis időál­landóval működő fényemittáló diódák fényintenzi­tás változását referencia detektor nem kompenzál­ja. A megoldás további hiányossága, hogy vala­mennyi hullámhosszúsághoz egy vagy több fénye­mittáló dióda tartozik, továbbá a szorosan egymás mellett elrendezett optikai szűrők a rendszert fényszórás érzékennyé teszik és így az optikai rend­szer felépítésénél a közeli infravörös hullámhossz tartományban fényt át nem eresztő anyagokat (mű­anyagokat) kell alkalmazni. Az optikai rendszer előnytelen tulajdonságai és követelményei összes­ségükben korlátozzák a felhasználás területét. A HU-186.069 lajstromszámú szabadalmi leírás olyan transzmissziós analizátort ismertet, amelyben fényforrásként kör mentén elhelyezett, közel mo­nokromatikus sugárzást kibocsátó elemek, előnyö­sen fényemittáló diódák vannak beépítve. A meg­határozott hullámhosszúságokat a fényforrások, il­letve a fényforrások elé elhelyezett optikai szűrők 1 biztosítják. A fénysugarat a kör tengelyében a fény­forráshoz képest forgathatóan elhelyezett tükör ve­títi a fényforrásokat tartalmazó kör síkjára merőle­gesen gyűjtőlencsén keresztül a mintatartóban levő mintára. Ez a szabadalmi leírás olyan fényvetítő tükörelrendezést is ismertet, amely a fényforrások­hoz képest rögzített gúlát tartalmaz, mely gúlának a fényforrásokkal egyező számú tükröző oldallapja van. A gyakorlati megvalósíthatóság szempontjából előnyösebb forgatható tükörelrendezés nagypon­tosságú pozícionált hajtást igényel, melynek hibája a mérés eredményét közvetlenül befolyásolja. A két mérési pozíció közötti forgatási idő a mérési sebes­ség szempontjából lassító tényező. Az optikai el­rendezés elvéből származóan az optikai rendszer befoglaló méretei az előző megoldáshoz képest lé­nyegesen, a szükségesnél is nagyobbak. Ennek a transzmissziós analizátornak az elsőként ismerte­tett megoldáshoz képest előnye, hogy a mérőrend­szerben szakirodalomból ismert fénykicsatolással és ehhez tartozó fényérzékeléssel jelhányados kép­zés révén semlegesíti a fényintenzitás tranziens je­lenségeit. Mindkét ismertetett megoldásban azo­nos, hogy a fényforrások által kibocsátott sugárzást időben egymás után a tükör forgatásával, illetve a fényforrások átkapcsolásával továbbítják a minta felé. Mindkét analizátorban közös jellemző az op­tikai elrendezés nyitottsága és az, hogy mindegyik megadott hullámhosszúsághoz legalább egy azonos vagy eltérő típusú fényforrás, célszerűen fényemit­táló dióda tartozik. Jóllehet az elsőként ismertetett megoldásban nem esik róla szó, a megoldás elvben alkalmassá tehető folyamatosan haladó minták analizására, azonban a rendszer nyitottsága az így kapott mérési eredmények megbízhatóságát lénye­gesen csökkenti. A másodikként ismertetett transz­­missziós analizátor felépítése révén automatikus, folyamatos mérésre önmagában nem alkalmas, hi­szen a minta mérése valamint a méréstechnikai szempontból etalon mérésként tekinthető levegő­mérés időben eltér és az eltérés összemérhető a minta haladási sebességével. Mindkét esetben csak úgy biztosítható a mérés folyamatossága, ha a minta haladását átmenetileg megszakítva végzik el a leve­gő etalon mérést. A találmánnyal célunk optikailag időben állan­dósított állapotú zárt optikai rendszerű transz­­missziós analizátor létrehozása, amely a felhaszná­lói körülményeket és a méréstechnikai követelmé­nyeket azonos építőelem választékból a mindenko­ri felhasználásnak megfelelően kielégítse és legyen alkalmas mind egyedi, mind sorozatos mérések au­tomatikus, szükség esetén távvezérelt elvégzésére megbízható mérési eredmény sorozat nyújtása mel­lett. Találmányunk alapfelismerése az a gondolat, hogy a fényforrás, a szűrő, a minta megfelelő elren­dezésével és ezek közvetlen vagy fényvezető szálop­tikán történő csatlakoztatásával nagymértékben megközelíthető az elméletileg helyesnek tartott zárt optikai rendszer és a száloptika alkalmazása a rendszer felépítését a mindenkori követelmények­hez igazodóan rugalmasan biztosítja. A kitűzött feladat megoldása során olyan transz­­missziós analizátorból indultunk ki, amelynek vizs­2 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 2

Next

/
Oldalképek
Tartalom