198342. lajstromszámú szabadalom • Eljárás mágneses adatrögzítésben használt fejek mágneses terének mérésére
1 2 198.342 vékonyrétegre egy vékony 5 tükröző réteget kell előzőleg felvinni valamilyen nem mágneses anyagból (célszerűen például alumíniumból), hogy visszavert fényben megfigyelhető legyen a jelenség. Ezután a mikroszkópban vizuálisan megfigyelhető, szükség esetén lefényképezhető, hogy adott nagyságú I áram, az 1 fej szélétől adott távolságra elhelyezett 3 vékonyréteg doménszerkezetét hogyan módosítja. A 3. a,b,c. ábra azt mutatja, hogy a 2. ábra szerinti elrendezésben egy 3 pm-es résszélességű ferritfej hogyan módosítja a közvetlenül reá helyezett, 5 jum vastag és tér nélkül 5 /am szélességű doménekkel bíró epitaxiális gránátréteg doménszerkezetét, az 1 fej 2 tekercsén átfolyó I áram függvényében. A 3a ábrán 1=25 mA, a 3b ábrán 1=35 mA, és a 3c ábrán 1=75 mA. A detektorként szolgáló mágneses vékonyrétegnél előzőleg meg kell határozni, hogy milyen nagyságú merőleges, illetve a réteg síkjában fekvő külső mágneses tér viszi telítésbe. Ennek ismeretében a fej téreloszlása kvantitatíve is feltérképezhető. Az eljárást kétféleképpen lehet alkalmazni, ha eph taxiális mágneses gránátrétegeket használunk a detektálásra. Az első esetben csak egy réteget használunk detektálásra, olyan, amely egyaránt érzékeny a mágneses térnek a réteg síkjára merőleges (függőleges) és a réteg síkjába eső (vízszintes) komponensének megváltozására. Ugyanis a fej által a környező térrészbe kiszórt mágneses tér két komponesre, egy függőleges és egy vízszintes összetevőre bontható. A fenti típusú réteg alkalmazása esetén nem tudjuk szétválasztani a tér összetevőit. Ez az eljárás arra alkalmas, hogy például új, ismeretlen tulajdonságú fejek téreloszlását már ismert fejek téreloszlásával hasonlítsuk össze. A hely- és áramfüggés, valamint a mágneses tér térbeli inhomogenitásai könnyen, gyorsan kimutathatók ilymódon. A másik esetben két egymástól különböző tulajdonságú réteggel végezzük el a vizsgálatot, egymást követően. Az egyik réteg mágneses paramétereit úgy választjuk meg, hogy (bizonyos határokig, de ez az általában alkalmazott fejek tartományán belül van) csak a függőleges irányú tér változtatására érzékeny, míg a másik réteg doménszerkezetét a függőleges tér nem befolyásolja, viszont érzékeny a vízszintes tér megváltoztatására. Ilyen módon már igényes, kvantitatív vizsgálatok végezhetők, és a fejek által keltett mágneses tér komponensei is meghatározhatók, két egymást követő mérés során. A fentiekben ismertetett eljárás előnyösen alkalmazható a mágneses adatrögzítésben használatos jelenlegi és ezután kifejlesztendő fejek vizsgálatára. Az eljárás előnyei a következők: — gyors, egyszerű, roncsolásmentes vizsgálatot tesz 5 lehetővé, — egyaránt alkalmas a fejek gyors, rutinszerű ellenőrzésére (hogy egy adott távolságban előállítják-e adott árammal a megkívánt nagyságú és területű mágneses teret), valamint a fejek alaposabb, több paramé. _ tér változását is figyelembe vevő vizsgálatára, ' ” - látható, lefényképezhető képet ad, — a téreloszlás laterálisán, mélységben és áramfüggésben egyaránt vizsgálható, a tér esetleges torzulásai, Inhomogenitásai felfedezhetők, — bármely fejre alkalmazható, 15 - egyen és váltóáramú vizsgálatok is végezhetők, — kvantitatíve meghatározhatók a keltett mágneses terek, — a detektorként alkalmazott rétegek paramétereinek megfelelő megválasztásával az adott fej-típus vizsgalathoz legjobban illeszkedő réteg használható, 20 -ugyanez a detektor réteg használható az összes mérésre. Szabadalmi igénypontok 25 i Eljárás mágneses adatrögzítésben használt fejek mágneses terének mérésére, amelynek során a fej tekercsére áramot kapcsolunk és ezzel mágneses teret hozunk létre, azzal jellemezve, hogy előzetesen meghatározzuk, hogy milyen nagyságú mágneses tér visz telítésbe egy vizuálisan megfigyelhető u doménszerkezetű, és doménszerkezetét a mágneses tér hatására változtató, önmagában ismert mágneses vékonyréteget (3), amely átlátszó hordozó, (4) - célszerűen polírozott gadolinlum-gallium-gránát hordozón folyadékfázisú epitaxiális módszerrel - van kl- 35 alakítva, és nem mágneses anyagból, előnyösen alumíniumból készült vékony tükröző réteggel (5) van ellátva, majd a mágneses vékonyréteget (3) tükröző oldalával a mérendő fejre (1) helyezzük, és polarizációs mikroszkópban, visszavert fényben megfigyeljük a mágneses vékonyréteg (3) doménszerkezetét, ül. an- 40 nak változását valamely paraméter, pl. a fej (1) tekercsén (2) átfolyó áram függvényében. 2. Az 1. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve , hogy egymást követően két egymástól különböző tulajdonságú mágneses vékonyréteget (3) helyezünk a mérendő fejre (1), amelyek közül az e- 45 gyik a mágneses tér függőleges, a másik pedig vízszintes komponensének változására érzékeny. 2 db rajz Kiadja: Országos Találmányi Hivatal Felelős kiadó: Himer Zoltán o.v. KÓDEX 3
