196509. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés kényszeráramlásos, célszerűen túlnyomásos elválasztástechnikai vizsgálatok végzésére planáris rendszerben
15 196509 Ifi kialakított elemeket a 17 alaplapban, a 20 felső testben, de szükség szerint a 18 munkalápban is elhelyezhetjük. A rendszer megvalósítható ultraibolya fluoreszcens sugárzásértékelókkel, de szükség szerint nem optikai érzékelési módszerek is alkalmazhatók. A rajzon ném bemutatott módon az elektroforetikus kifejlesztéshez szükséges egyenáramot ismert felépítésű tápforrásból biztosítjuk. A 28 készüléktestben helyezhetők el az ehhez szükséges kontaktusok. A találmány szerinti eljárás és az ezt megvalósító berendezés segítségével a kromatográfiai és elektroforetikus vizsgálatok külön vagy egyidejűleg, azonos vagy eltérő irányokban hajthatók végre. A gyakorlati tapasztalatok azt mutatják, hogy az egymásra merőleges irányú kifejlesztések révén a minták összetétele nagy felbontóképességgel határozható meg. Az adott feldolgozás révén ismert megoldásokkal lehet a mért értékeket értelmezni, kinyomtatni. A javasolt megoldásokkal a kromatográfiai és elektroforetikus vizsgálatok hatékonysága mind felbontás, mind időtartam tekintetében jelentősen javul. SZABADALMI IGÉNYPONTOK 1. Eljárás kényszeráramlásos, célszerűen tűlnyomásos elválasztástechnikai vizsgálatok végzésére planáris rendszerben, amikoris szorbensréteggel bevont réteglapra legalább egy mintát és a mintából meghatározott alkotórészeket meghatározott sorrendben elszállító vivőanyagot juttatunk, a vivőanyagot kényszeráramlásba hozzuk és vele a minta alkotórészeit a szorbensrétegben külön áramokban vándoroltatjuk, majd a réteglap szélét elhagyó vivóanyag külön áramait felfogjuk és egy anyagáramban egyesitjük, majd legalább egy összetevőjére vonatkozóan az áramló anyagban mérést végzünk, azzal jellemezve, hogy az összetevők meghatározását a vivóanyag gal vándoroltatok összetevőkhöz tartozó adott retenció eléréséig folytatjuk, majd a réteglapot kromatográfiai és/vagy elektroforetikus érzékelőegységhez viszonyítva mozgásba hozzuk, és a rajta maradt öszszetevók jellemzőit megmérjük. 2. Az 1. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy vivőanyagként kromatográfiai eiuenst juttatunk a réteglapra. 3. Az 1. vagy 2. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy vivőanyagként oldószert juttatunk a réteglapra. 4. Az 1-3. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a kényszerárammal a réteglapról levitt összetevőket átfolyócellás detektoregységgel, a réteglapon maradt összetevők jellemzőit denzitomélerrel mérjük. 5. Az 1-4. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a réteglap hőmérsékletét szabályozott módon változtatjuk. 0. Az 5. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a réteglap felületét sávokra osztjuk és a sávokban a hőmérsékletet előre meghatározott program szerint változtatjuk. 7. Az 1-6. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a vivőanyagot túlnyomással hozzuk kényszeráramlásba. 8. A 7. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a réteglapon maradt összetevők jellemzőinek mérése előtt a túlnyomást megszüntetjük. 9. Az 1-G. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a vivőanyagot elektroozmózissal hozzuk kényszeráramlásba. 10. Az 1-6. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a réteglap forgatásával keltett centrifugális erővel hozzuk kényszeráramlásba. 11. Az 1-10. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a kényszeráramlással egyidejűleg a réteglap környezetében elektromos erőteret hozunk létre. 12. Az 1-11. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a réteglapot és az érzékelő egységet az összetevők meghatározásának megkezdése előtt egymáshoz viszonyítva elmozdítjuk és anyagjellemzőket mérünk. 13. Az 1-12. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a mintát összetevőinek a vivóanyagba való bejuttatását megelőzően előtisztítjuk. 14. Berendezés elválasztástechnikai vizsgálatok végzésére, amely alaptest és fedötest között elrendezett, szorbensréteggel bevont legalább egy réteglapot, a réteglapban vivőanyagot kényszeráramlásban tartó egységet, mintabeviteli egységet, vivóanyagot a réteglap felületére juttató egységet, valamint a réteglap széléhez illesztett folyadékot elvezető vezetéket, továbbá a vezetékkel kapcsolódó legalább egy mérőelemmel ellátott detektort tartalmaz, azzal jellemezve, hogy a réteglap (19) szorbensréteggel fedett felületével szemben elrendezett érzékelő egységgel (F) van ellátva, ahol az érzékelő egység (F) és a szorbensréteggel ellátott réteglap (19) egymáshoz viszonyítva eimozdithatóan van megvezetve. 15. A 14. igénypont szerinti berendezés, azzal jellemezve, hogy a réteglaphoz (19) elektromos potenciálkülönbséget létrehozó elektródok (37) vannak illesztve. 16. A 14. vagy 15. igénypont szerinti berendezés, azzal jellemezve, hogy az alaptest és a fedótest kifejlesztő kamra (1) zárt terében (15) van elrendezve és a réteglap (19) a kifejlesztő kamrában (1) kialakított, az érzékelő egység (F) érzékelési tartományába benyúló megvezetéshez van illesztve. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 9
