193759. lajstromszámú szabadalom • Multiprocesszoros rendszertechnikai elrendezés digitális LSI, VLSI áramkörök tesztelésére
1 A találmány tárgya multiprocesszoros rendszertechnikai elrendezés digitális LSI, VLSI áramkörök tesztelésére, amely a mérendő eszközök DC paramétereit és funkcionális működését egyaránt ellenőrzi, mind szeleten, mind tokozott kivitelben. Ezen túlmenően alkalmas LSI memóriák, mikroprocesszorok és egyéb katalógus, valamint felhasználói (custom) áramkörök vizsgálatára is. A mérendő eszközök vizsgálata három fő részfeladatból áll: — tesztprogram készítés, javítás, — tesztelés (a teszt futtatása), — mérésadatgyűjtés, megjelenítés. A találmány szerinti megoldás felhasználható az integrált áramkör gyártóknál végellenőrzésben, valamint a felhasználóknál beérkező áramkör ellenőrzésben. Mindkét felhasználási területen lehetővé teszi számítógépes tervező, gyártó, ellenőrző (CAD, CAT, CADMAT) rendszerekbe történő integrálást úgy, hogy az illesztési, illeszkedési feladatokat (hardware, software) a találmány tárgya szerinti multiprocesszoros rendszertechnikai elrendezés egyik intelligens processzoros rendszere oldja meg. A világon tesztberendezést, melyek LSI, VLSI digitális áramkörök tesztelésére alkalmas kb. 50—70 cég gyárt. Kialakításuk is jelentősen eltér egymástól, a lényeges rendszertechnikai eltérések a következők: — teszter több mérőhellyel; egy közös számítógéprendszer több mérőhelyet képes vezérelni. Mérés alatt rendszervezérlő számítógéprendszeren a mérésadatgyűjtés megjelenés mellett más feladat, mint program előkészítés nem végezhető. Ilyen célra szolgáló rendszerek pl.: MEV ICOMAT 115, FAIRCHILD XINCOM, MINATO 9300 M, GEN RÁD 16. — több teszter közös programozó állomással; Ennél a megoldásnál az önmagukban is mindhárom funkciót ellátni képes (programkészítés, tesztelés, mérésadatgyűjtés) tesztereket közös programozó állomás (általában miniszámítógépes rendszer) szolgálja ki, teszi lehetővé az off-line programozást. A programozó állomás azonban nem része a rendszernek, megvásárlása csak több teszter használata mellett gazdaságos a többletköltségek miatt. A programozó állomások fejlettebb változatai mérésadatgyűjtési feladatokat is megoldanak. Ilyen célra alkalmas rendszerek pl.: ADAR MX-17, GR 1732. — teszter csak mint mérőhely: Ennél a megoldásnál a teszteren nem végezhető programkészítés, ezt a feladatot egy különálló programozó állomáson kell elvégezni, a mérésadatgyűjtő funkció is korlátozott. Fejlettebb változatoknál on-line módon vezérli a programozó állomás több mérőhelyet. 2 Ilyen teszter pl.: MEGATEST Q2/60. — teszter a programozó állomással együtt; Ebben az esetben a teszter vezérlő számítógéprendszerével végezhető el mind a programkészítés, mind a futtatás, valamint a mérésadatgyüjtés, de egyszerre csak egy funkció. Teszt futása alatt nem lehetséges a programkészítés, a teszt befejezésekor mérésadatgyűjtés van, majd új 'tesztelés indul, vagy programkészítés. Ilyen célra szolgáló rendszerek pl.: FAIRHILD SENTRY VIL, VIII., SERIES 10, 21, TEKTRONIX S-3260, MEV ICOMAT 200. A találmány szerinti megoldás célul tűzte ki az ismert megoldások hiányosságainak megszüntetését és olyan rendszertechnikai elrendezés létrehozását, amely: — tesztelés és a hozzákapcsolódó mérésadatgyűjtés és megjelenítés alatt programozási, javítási, szerkesztési vagy más integrált rendszer részeként adódó feladatok (pl. custom áramkör tervezéssel összefüggő tevékenység) elvégzését tegye lehetővé, — külön programozó állomás nélkül biztosítsa a mérendő eszközök vizsgálatához szükséges valamennyi lényeges funkció (tesztprogram készítés, tesztelés, mérésadatgyűjtés) ellátását, — más számítógépes tervező, gyártó, ellenőrző rendszerek integráns részként felhasználható legyen, — energiatakarékos tápegységrendszerrel működjön. A találmány szerinti rendszertechnikai elrendezés azon a felismerésen alapul, hogy ha olyan multiprocesszoros felépítést hoznak létre, amelynél az egyik processzoros rendszer (intelligens terminál) végzi a programdőkészitési, javítási és más rendszer integ-áns részeként adódó feladatokat, mialatt ezzel egyidejűleg egy másik mikroprocesszoros rendszer (rendszervezérlő) a teszt futtatásával, mérésadatgyűjtéssel, megjelenítéssel kapcsolatos tevékenységet látja el, akkor a digitális LSI, VLSI áramkörök tesztelése programozó állomás nélkül, gazdaságosan megvalósítható. A találmány szerinti megoldást részletesebben rajzok alapján ismertetjük, melyek a következők: Az 1. ábra a találmány szerinti rendszertechnikai elrendezés tömbvázlatát, a 2. ábra az intelligens terminal tömbvázlatát, a 3. ábra a rendszervezérlő tömbvázlatát, a 4. ábra a rendszer tápegységek tömbvázlatát ábrázolja. Az 1. ábrán a rendszertechnikai elrendezés tömbvázlata látható, amely tartalmaz 4 pattern processzort, amelyek 41 címbusza, 42 adatbusza és 43 controllbusza, 5 időzítő generátor, 6 DC paramétermérő, 7 PIN elektronika kijelző és 10 mérendő eszköztápegységek 51, 61, 71, 101 címbuszára, 52, 62, 3 193759 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65
