191628. lajstromszámú szabadalom • Eljárás félvezető elrendezések előállítására

101 628 A találmány tárgya eljárás félvezető elrendezések, különösen pedig olyan nagy-integráltságú, a továbbiak­ban LSI 44771 4070 Kk felvezetők előállítására, ahol a közös hordozóanyag egyik oldalára előnyösen ala­­csonynyomásii poliszilícium leválasztással vagy plazmás maratással diszkrét alkatrészeket állítanak elő. Félvezető elrendezéseket lényegében többféle ismert eljárás lépéssorozatban hoznak létre, ahol az egyes lépé­sek, a földfémoxid- és vezérlőelektróda oxidréteg előál­lítása, a poliszilicium leválasztás, a leválasztott poliszi­­licium réteg és a vezérlő elektróda oxidréteg alakra for­mázása, az emitter és kollektorrészek szennyezésének a bevitele, valamint az így kialakított elrendezés passzív és/vagy aktív áramköri elemekkel történő kiegészítése. A sziliciumrétegek leválasztását általában önmagában ismert alacsonynyomású vagy normálnyomású eljárással végzik el. A normálnyomásos eljárás esetében a réteggel borítandó hordozóanyagot egy betételemre helyezik el, így a hordozóanyag hátoldalán nem képezünk ki réteget. Ezzel ellentétben az alacsonynyomásos eljárás eseté­ben a félvezető hordozóanyag mindkét oldalát réteggel borítjuk, mivel ennél az eljárási formánál a hordozóanya­got egy erre a célra kiképzett tartószekezetre erősítik fel és helyezik a reakciócsőbe. Az alacsonynyomásos eljárás alkalmazása esetén nagy­fokú termelékenység érhető el, ezen túlmenően a létre­hozott alkatrészeknél a rétegvastagság igen homogén és a rétegekben igen kevés a hibás helyek száma. A leválasz­tott rétegeket azután fotomaszkkal fedik, megvilágítják és előhívják, majd azt követően a legkülönbözőbb mara­tási eljárásokkal vagy száraz maratással, például plazma­maratással készre formálják. Annak érdekében, hogy a fotomaszkkal fedett területeken alámarás ne jöhessen létre, illetőleg az alámarást minimális értéken lehessen tartani, általában olyan maratási eljárást alkalmaznak, amely a sziliciumréteget egy előre meghatározott legked­vezőbb irányba marja. Ennek a félvezető hordozóanyag előlapja felületére merőlegesen ható maratásnak így egy­általában nincsen, vagy ha igen, úgy nem reprodukálható mértékben van hatása a hordozóanyag hátoldalára. így van ez például a planárplazmareaktoroknál is, ahol a hordozóanyag hátoldalai a rendszer egyik elektródáján fekszenek fel. A hordozóanyagnak tehát az előlapját a kívánt mértékben kimarjuk, ami azonban a hátoldalát illeti, az továbbra is sík marad teljes felületén, mintha alacsonynyomású leválasztást alkalmaztunk volna. A további eljárási lépések során szükség van azonban arra, hogy a hordozóanyagnak villamosán jól vezető hát­oldala legyen, hogy a tokozásnál egy megfelelően biztos villamosán vezető kapcsolatot lehessen megvalósítani a hordozóanyag és a tartósávok között, amelyre a félveze­tő elrendezés fel van erősítve. Alihoz azonban, hogy a hordozóanyag hátoldalán is villamosán jól vezető réteg legyen, szükség van a hordo­zóanyag hátoldalán található szigetelőréteg, például föld­­fémoxidréteg eltávolítására. Ennek a fent említett problémának a megoldására is­meretes egy olyan eljárás, ahol utólagos nedves maratás­sal végzik el, az adott esetben fémoxid szigetelőréteg el­távolítását úgy, hogy közben a már megfelelően kialakí­tott elülső oldalt teljes felülete mentén védő lakkré­teggel vonják be. Ez az eljárás azonban az általánosan elterjedt pohsziliciummaró anyagokkal szemben nem mutat kellő ellenállóképességet és így gyakran hibásodik meg a már kész félvezető. Ez a hátrány je­­o lentkezik a plazmareaktorcsőben végzett maratás­nál is. Egy másik ismert eljárást az jellemez, hogy a félve­zető hordozóanyagot elülső oldalával fektetik fel planár­­plazmamaró elektródjára, és a hátoldalon a zavaró réte­get ilymódon távolítják el. Ennek az eljárásnak hátránya, hogy egyrészt az igen érzékeny elülső oldal esetenként megkarcolódhat vagy elpíszkolódhat, és ez abban az eset­ben is előfordulhat, ha egyébként az elülső oldalt védő lakkréteggel borítjuk, másrészt pedig a maróhatás érez­hető hatást fejt ki a hordozóanyag elülső oldalának a pe­remrészeire is, ami annak a következménye, hogy a hor­dozóanyag a tartószerkezetre nem teljesen a sík mentén fekszik fel. A találmánnyal az volt a célunk, hogy olyan eljárást dolgozzunk ki félvezető elrendezések előállítására, amelynek segítségével további költségek nélkül a hordo­zóanyag hátoldalán villamosán vezető réteget hozzunk létre. A találmány feladatát abban látjuk, hogy olyan eljá­rást fejlesszünk ki félvezető elrendezések előállítására, ahol a szigetelő rétegek (Si02, Si N4) nem akadályoz­zák meg a villamosán vezető hordozóanyaghátoldal ki­alakítását. A találmány szerinti eljárás félvezető elrendezések előállítására vonatkozik, amely lényegében a földfém­oxid- és vezérlő elektróda oxidréteg előállításából, poli­­szilicium leválasztásból, a leválasztott polisziliciumréte­­gek, valamint a vezérlő elektróda oxidrétegének a formá­zásából, az emitter-, és a kollektor-szennyezés bevitelé­ből, valamint az ilymódon létrehozott elülső oldalnak passzív és/vagy aktív félvezető elemekkel történő kiegé­szítéséből áll. A találmány szerinti eljárás lényege abban van, hogy miután a félvezető hordozóanyagra a földfémoxidréte­­get önmagában ismert módon felvittük, a félvezető hor­dozóanyag elülső oldalát lefedjük, és maratással a hát­oldalon az előző eljárási lépésben keletkezett szigetelő­­réteget (SiO, Si304) eltávolítjuk. A találmány szerinti eljárást a továbbiakban példa­­kénti foganatosítási módja segítségével ismertetjük rész­letesebben. A félvezető elrendezést önmagában ismert módon hozzuk létre úgy, hogy a félvezető hordozóanyagra ter­mikus oxidációval, az aktív területeknek maszkkal törté­nő lefedésével visszük fel az egyes alkatrészeket egymás­tól síkban elválasztó szigetelő fémoxid részeket. Ezzel egyidejűleg a szilícium hordozóanyag másik ol­dalán, a hátoldalán, a teljes felületen földfémoxidréte­­get növesztünk. Az ionbeültetés után a szilícium hordozóanyag elülső oldalát fotolakkal vonjuk be. Ezt követi a szilícium hor­dozóanyag lakkmentes hátoldalának a maratása egy olyan maratószerrel, amelynek a fotolakk ellenáll. A következő eljárási lépés az alacsonynyomású poliszüiciumleválasztás, amelynek segítségével biztosít­va van a rétegvastagság homogenitása, valamint a kis hibasűrűségű rész a már leválasztott rétegben. Ezt köve­tően azután plazmamaratással vagy más ismert eljárással a további aktív és/vagy passzív alkatrészeket felvisszük a szilícium hordozóanyag elülső oldalára. Szabadalmi igénypont Eljárás félvezető elrendezés előállítására, amely lé-5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65

Next

/
Oldalképek
Tartalom