187230. lajstromszámú szabadalom • Eljárás üvegszál átmérőjének mérésére a rezonáns visszaszórásos módszer felhasználásával és mérési elrendezés az eljárás foganatosítására

187 230 A találmány tárgya eljárás üvegszál átmérőjének mérésére a rezonáns visszaszórásos módszer felhaszná­lásával és mérési elrendezés az eljárás foganatosítá­sára. A találmány szerinti megoldás elsősorban a 10— 150 /im átmérőjű bevonatlan vagy bevonattal ellátott üvegszálak átmérőjének nagypontosságú mérésére használható. Vékony üvegszálak átmérőjének mérésére már több eljárás ismert. L. S. Watkins „Control of Fiber Manufacturing Processes (Proc. of IEEE, Vol. 70, No. 6, June 1982 pp 626—634) c. cikkében az átmérő mérésére olyan eljárást ismertet, amelynél az üveg­szálat a tengelyére merőleges irányból lézerfénnyel megvilágítják és az előreszórt fénysugarak intenzi­tásának szögeloszlását a nagyszámú fotodióda segít­ségével érzékelik és számítógéppel elemzik. Ez az eljárás az átmérő mérését 0,25 qm-es pon­tossággal teszi lehetővé, de csak kimondottan kis­­átmérőjű szálakhoz használható, mert az átmérő növelésekor az interferencia csíkok száma rohamosan növekszik, ami a kiértékelést nehezíti. Jó felbontó­­képesség eléréséhez nagyszámú (kb. 1000) foto­dióda alkalmazása szükséges, és ez, valamint a mikro­processzor használata az eljárást költségessé teszi. Az idézett cikkben az átmérő mérésére ismertet­nek egy másik eljárást is, amelynél a mérendő szálat egy fókuszált vagy fókuszálatlan lézersugárral a ten­gelyére merőleges síkban pásztázzák, a lézersugarat a szál mögött detektorral érzékelik, és azt a negatív impulzust elemzik, amely a szál által okozott ár­nyékból származik. Ezen impulzus időtartama a pász­tázási sebesség ismeretében jellemző a szál átmérő­jére. Ennek a mérésnek a pontossága ±0,5 /int körül van, és ez az érték az átmérő csökkenésével kedve­zőtlenebbé válik. Üvegszálak gyártása és ellenőrzése során az itt leírtaknál nagyobb mérési pontosságra van szükség. Egy erre alkalmas mérési módszert ismertet A. Ash­­kin, J. M. Dziedzic és R. H. Stolen: „Outer dia­meter measurement of low birefringence optical fibers by a new resonant backscatter technique” c. cikkében (Applied Optics, Vol. 20, No. 13, July 1981, pp. 2299—2303). Ezt a módszert közeltéri re­zonáns visszaszórásos eljárásnak nevezték, amely hangolt hullámhosszú lézerfénnyel megvilágított szálról visszaszórt fényből származó Fabry-Perot és felületi hullámok rezonanciáinak detektálásán alapul. A Fabry-Perot rezonanciák vizsgálata alapján vastag hírközlési üvegszál átmérőjének összehasonlító mérésénél 0,01 /um-es pontosság adódott. A közeltéri rezonáns visszaszórásos eljárásnál be­vonatlan üvegszálat a tengelyére merőleges irányból világítják meg egy sugárosztón keresztül lézerfénnyel, majd az ugyanebbe az irányba visszaszórt sugarakat a sugárosztó révén egy képalkotó rendszerhez (mik­roszkóphoz) irányítják és előállítják az üvegszál nagyított képét. A képsíkon a Fabry-Perot rezo­nanciába lépő sugarak és a felületi hullámból tengely­irányban visszaszórt sugarak elkülönülten jelennek meg és réssel a vizsgálandó sugarakat kiválasztják. Az elkülönített, csak azonos típusú visszaszórásból szár­mazó sugaraknak a hullámhossz hangolásakor kelet­kező minimumait és maximumait érzékelik, és ebből számítják ki az átmérőt. 3 Bár a módszer pontossága igen nagy, alkalmazá­sánál (különösen kis átmérők esetén) az alábbi nehéz­ségek lépnek fel. Az igen nagy nagyítást igénylő le­képzés miatt a szál legkisebb mértékű és a gyakor­latban nem megakadályozható elmozdulása is azt eredményezi, hogy a visszaszórt sugarak a réshez képest eltolódnak és így a mérés nem végezhető el, vagy hamis minimumok adódnak. Ez a nehézség a szálátmérő csökkenésekor fokozott mértékben fel­lép, hiszen egyrészt az egészen vékony szálak rez­gési hajlama nagyobb, másrészt kisebb átmérőnél nagyobb nagyítást kell alkalmazni. Az elmozdulás iránti érzékenységen kívül a sugár­osztó jelenléte sem kedvező, mert a megvilágító fény­hez képest igen kis intenzitású visszaszórt fény erős­ségét a sugárosztó által okozott mintegy 4-szeres csil­lapítás tovább csökkenti. A közeltéri rezonáns visszaszórásos eljárás egysze­resen vagy többszörösen bevont üvegszálak átmérő­jének vizsgálatára a bevonatok által előidézett op­tikai hatások miatt csak mérsékelten alkalmas. A kép­­továbbítás céljából használt üvegszálak általában kettős bevonattal rendelkeznek és átmérőjük a 10—20 A^m-es tartományba esik. Ilyen üvegszálak átmérőjének mérése ezzel az ismert módszerrel csak nagyon nehezen végezhető el. A találmány feladata olyan eljárás létrehozása üvegszál átmérőjének mérésére, amely megfelelő pon­tosságú mérést tesz lehetővé kis- és nagyobb átmérőjű bevont és bevonatlan üvegszálaknál egyaránt, és amelynél nem lépnek fel a közeltéri leképzésből és a vázolt egy éb okokból adódó problémák. A találmány tárgya tehát eljárás üvegszál átmérő­jének mérésére a rezonáns visszaszórásos módszer fel­­használásával, amelynek során az üvegszálat lézerfény­nyel megvilágítjuk, a róla visszaszórt fényből adott irányba eső, kis térszög által befogott visszaszórt sugarak intenzitását detektáljuk, a lézerfény hullám­hosszát adott sávon belül folyamatosan változtatjuk és az átmérőt a detektált intenzitás szélső értékeihez tartozó hullámhosszak alapján határozzuk meg, és a találmány szerint a megvilágító lézersugár és a detektálandó visszaszórt sugarak útjait a megvilágító lézersugárnak az üvegszál tengelyvonalára merőleges irányhoz viszonyított megdöntésével és/vagy az emlí­tett adott irány és a megvilágító lézersugár irányának az üvegszál tengelyére merőleges síkban történő el­választásával elkülönítjük, és a detektálást a vissza­szórt sugaraknak a leképzés nélkül nyert távoltéri (együttes) intenzitása alapján végezzük. A találmány szerinti eljárás a megvilágító lézer­sugár és a detektálandó visszaszórt sugarak útjainak kismértékű elkülönítésével szükségtelenné teszi sugár­osztó alkalmazását, ami önmagában mintegy négy­szeres intenzitás növekedést eredményez. A távol­téri eredő intenzitás detektálása a mérést legjobban zavaró leképzést teszi szükségtelenné, bár a kiválasz­tott sugarak helyett az eredő sugárkép detektálása nehézségeket is okoz különösen bevont szálak esetén, amelyeket azonban a kiértékelés során minimálisra lehet csökkenteni. A Fabry-Perot rezonanciákat befolyásoló egyéb visszaszórt sugarak hatásának csökkentése szempont­jából előnyös, ha a megvilágító lézersugár polarizá-4 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 3

Next

/
Oldalképek
Tartalom