183075. lajstromszámú szabadalom • Mérési eljárás és berendezés kiskoncentrációjú anyagok szedimentációjának, molekulasúlyának ultracentrifugában való süllyedési sebességgel történő meghatározására

1 183 075 2 A találmány tárgya mérési eljárás és berendezés kiskoncentrációjú anyagok szedimentációjának il­letve molekulasúlyának ultracentrifugában való süllyedési sebességgel történő meghatározására kétszektorú mérőcellán párhuzamos fénysugár át­­bocsátásával. Évtizedek óta ismeretesek olyan exakt fizikai el­veken alapuló eljárások, amelyek óriásmolekulák alakjának, tömegének, kölcsönhatásának tanulmá­nyozására, továbbá a a molekulasúlynak, a mole­kulasúly eloszlásának, az anyagok szedimentáció­jának és diffúziós tényezőjének meghatározására alkalmasak. A molekulasúly meghatározására leggyakrab­ban analitikai ultracentrifugát alkalmaztak. Ala­csony koncentrációjú anyagok szedimentációs se­bességének, molekulasúlyának meghatározásánál a legérzékenyebb módszerként az interferencia és a diffrakció elvét alkalmazzák. Az eljárás pontossá­gát kétszektorú cella alkalmazásával növelik, ahol az egyik szektor az oldatot, a másik pedig csupán az oldószert tartalmazza. Ilyen felépítésű például a MOM 3170/b típusú analitikai ultracentrifugája. Ennél a megoldásnál a cella deformációjából eredő alapvonal eltolódás ki van kompenzálva. Az interferencia-módszerrel kapott eredmények kiértékelése nem mindig egyszerű, és az ismert meg­oldásoknál általában egyetlen interferencia felvétel nem értékelhető ki egyértelműen. Például: egyensúlyi mérés esetén az egyensúly beállta előtt, azaz amikor a diffúzió és a szedimen­­táció még nem tart egyensúlyt, az interferencia módszerrel kapott csíkrendszer nehezen értékelhe­tő ki. Ennek az az oka, hogy a törésmutató-válto­zás nagyobb a berendezés által adott felbontásnál. Azaz az állandó koncentrációjú helyeket összekötő görbe a felvételen nem jelenik meg. Ezen a problé­mán az interferencia-vonalak számának növelésé­vel részben segíteni lehet, az elméleti problémákra való tekintettel azonban ez a vonalszám növelés nem lehetséges minden határon túl. A kiértékelést elősegítheti, ha a felvétellel gya­korlatilag egyidőben valamilyen másfajta módszer­rel meggyőződnek a törésmutató gradiens jellegé­ről, illetve annak a cellán belül elfoglalt helyéről. A fent említett MOM 3170/b típusú ultracentrifu­gánál két egymástól független felvételt kell készíte­ni, egyet az interferencia rács alkalmazásával, majd egy másodikat — 2 — 3 perccel később - a schlie­­ren-rés alkalmazásával. Ennek az a hátránya, hogy a schlieren-rést minden esetben vissza kell állítani, és a beavatkozás miatt az optikai regisztrálás nem automatizálható. Az ismert kiértékelési módszer egy másik hiá­nyossága, hogy egynél több komponensű oldat vagy nem-homogén anyageloszlás esetében előfor­dulhat, hogy a nem szakember (például laboratóri­umi asszisztens) által készített interferencia-felvéte­lek kiértékelhetetlenek. A szakképzett felhasználó által készített schlieren felvétel alapján lehet eldön­teni, hogy a minta egy vagy több különböző szedi­­mentációjú komponenst tartalmaz, és ennek megfe­lelően kell a kiértékelésre alkalmas módszert kivá­lasztani. A találmány célja a fenti hiányosságok kiküszö­bölésével olyan mérési eljárás és berendezés kidol­gozása, amellyel kiskoncentrációjú anyagok szedi­­mentációja illetve molekulasúlya ultracentrifugá­ban süllyedési sebességgel meghatározható, ha két­szektorú mérőcellán párhuzamos fénysugarat bo­csátunk át. A találmány szerinti eljárás során a fényforrás fényét kondenzoron és a kondenzor bel­sejében elrendezett résen és színszűrőn keresztül párhuzamosítva, egyesített schlieren-interferencia rácson és kollimátoron át mérőcellába képezzük, a mérőcellában levő oldat által megtört fénysugarat ezután kéttagú leképezőrendszerrel fázisszálra vagy -lemezre képezzük, a mérőcella és a fázisszál vagy -lemez együttes képét pedig hengerlencsével film­­sikra vetítjük. A fenti eljárás kivitelezéséhez olyan berendezést hoztunk létre, amely optikai tengely mentén egy­más után elrendezett fényforrást, réssel és színszű­rővel ellátott kondenzort, réssel ellátott elemet, kol­­limátort, mérőcellát, kéttagú leképezőrendszert, fá­zisszálat vagy -lemezt, hengerlencsét és filmsíkot tartalmaz, ahol a találmány szerint réssel ellátott elem egyesített schlieren-interferencia rács, amely a mérőcellát megvilágító kollimátor fókuszsíkjában van elrendezve, és amelyen egymástól azonos távol­ságokban levő átlátszó és átlátszatlan csíkokból álló optikai rács, valamint legalább egy darab, a csíkokra merőleges hossztengelyü rés van kialakít­va, mely rés hosszirányú szimmetriavonala egybee­sik az optikai rácsnak a csíkokra merőleges szim­metriavonalával. Előnyös, ha az átlátszó (vagy az átlátszatlan) csíkok száma három és húsz között van. Előnyös továbbá, ha az optikai rács átlátszó és átlátszatlan csíkjai azonos hosszúságúak, és hosz­­szúságuk a rés szélességének legalább a háromszo­rosával egyenlő. Az optikai rácsnak az átlátszó és átlátszatlan csíkokkal párhuzamos szimmetriavo­nala az optikai tengelyen kívülre is eshet. A találmány szerinti mérési eljárást és berende­zést az alábbiakban kiviteli példa kapcsán a mellé­kelt rajz alapján ismertetjük részletesebben, ahol az 1. ábrán a találmány szerinti berendezés vázlata látható; a 2. ábrán egy ultracentrifuga kétszektorú cellájá­nak vázlatos rajza látható; a 3. ábrán egy interferencia-felvétel látható; a 4. ábrán egy-egy különálló interferencia- illetve schlieren-felvétel látható; az 5. ábrán a találmány szerinti berendezés optikai rácsának és részének a méreteit tüntettük fel; a 6. ábrán a 3. ábrához hasonló, de a találmány szerinti eljárásban egy lépésben készített interferen­cia- és schlieren-felvétel látható; és végül a 7. ábrán a szimmetriavonalak egymáshoz viszo­nyított helyzetét mutatjuk. Az 1. ábrán mutatjuk be a találmány szerinti eljárást és berendezést. Az ábrán az optikai tengelyt pont-vonallal tüntettük fel. Ennek mentén van el­rendezve 1 fényforrás, 2 kondenzor, amely közepén rést tartalmazó elemet és 3 színszűrőt foglal magá­ba, 4 egyesített schlieren-interferencia rács, 5 kolli­mátor, 6 mérőcella, 7 és 8 kéttagú leképezőrend­szer, 9 fázisszál vagy -lemez, 10 hengerlencse és 11 filmsík. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 5C 55 6C 6E 2

Next

/
Oldalképek
Tartalom