182000. lajstromszámú szabadalom • Mérési eljárás és berendezés fonalak, előfonalak és szalagok keresztmetszeti egyenetlenségeinek mérésére
(19) HU MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG SZABADALMI LEÍRÁS (11) 182000 Nemzetközi osztályozás : Bejelentés napja: (22) 1977.1. 4. (21) (ZE—453) (51) NSZOj D 01 H 13/22 *9* Elsőbbsége : (33) 1976. (32) III. 22. (31) (3559/76) Svájc (Sfroap'qafe*?' GOit> ?($£( ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL Közzététel napja : (41) 1983. (42) I. 28. Megjelent : (45) 1986. VI. 30. Talál \ i. &a6adaIrri Tár. ■ S''^^Ujdo m Feltaláló : (72) Szabadalmas : (73) Feller, Peter, elektromérnök, Benglen, Svájc Zellweger Uster AG, Uster, Svájc (54) Mérési eljárás és berendezés fonalak, előfonalak és szalagok keresztmetszeti egyenetlenségeinek mérésére í A találmány tárgya mérési eljárás és berendezés fonalak, előfonalak és szalagok keresztmetszeti egyenetlenségeinek mérésére. A textilanyagok méréstechnikájában eléggé ismertek folyamatosan működő mérőberendezések, amelyek keresztmetszet egyenetlenségek mérésére szolgálnak. Ezek mérési elve optikai, kapacitív, mechanikai vagy másfajta fizikai készülékeken alapul, amelyeknek segítségével a vizsgált anyag keresztmetszetének megfelelő villamos jelet kapnak, és ezen jeleket megfelelő átalakítás és erősítés után kijelzik. Az ilyen készülékek igen terjedelmesek, tekintettel arra, hogy jelentős ráfordítás szükséges megfelelő mérési állandóság biztosítására és ezért csak arra alkalmasak, hogy központilag, laboratóriumokban állítsák fel őket, ahova a vizsgálandó anyagot a termelésből vett szúrópróbák alakjában szállítják. A szúrópróbák eredményei alapján végzett statisztikai számításokból kell a teljes termelés számára alkalmazható egyenetlenségi értékeket meghatározni. Ismeretes továbbá, hogy a mérési eredmény statisztikai megbízhatósága az értékelt vizsgált anyag hosszától függ. A kapott értékeket befolyásolja továbbá az egyenetlenségek spektrális összetétele, nevezetesen olyan értelemben, hogy a statisztikai megbízhatóság túlnyomóan rövidhullámú ingadozásoknál nagyobb, mint a túlnyomórészben hosszú hullámú ingadozásoknál. A mérési eredmények kívánt statisztikai megbízhatóságának elérésére ezért az anyag sebességétől és az egyenetlenségek spektrális eloszlásától függően, különböző mérési idők szükségesek. Laboratóriumi méréseknél, 2 amelyeknél a vizsgált anyagok sebessége ismert, a minimális mérési idő megfelelő táblázatokból állapítható meg. Megmutatkozott azonban, hogy folyamatos ellenőr- 5 zés és megfigyelés céljára rugalmasabban alkalmazható mérőkészüléket kell használni, amely közvetlenül a termelési helyen van alkalmazva, és ott a vizsgálandó anyaggal kapcsolatba hozva, rövid idő alatt eredményt tud szolgáltatni az egyenetlenségekre vonatkozóan. 10 A gyakorló szakember igénye, hogy könnyen kezelhető, főleg hordozható készülékekkel rendelkezzék, amely közvetlenül a gyártási helyen alkalmazható, és viszonylag rövid idő alatt szolgáltasson olyan eredményt a vizsgált anyag pillanatnyi egyenetlenségei szem- 15 pontjából, amely elégséges pontosságú. Minthogy a kérdéses gyártási helyek a vizsgált anyagot még ismeretlen anyagsebességgel szolgáltatják, az eddigi gyakorlattól el kellett térni, és a vizsgálatot előre meghatározott időtartamra kellett beállítani. 20 Találmányunk tárgyánál számoltunk ezekkel a követelményekkel. A találmány szerinti mérési eljárás fonalak, előfonalak és szalagok keresztmetszeti egyenetlenségeinek mérésére vonatkozik közvetlenül kijelző, előnyösen hordoz- 25 ható mérőkészülék segítségével, amely mérőszervet, erősítő és jelátalakító áramköröket, valamint kijelzőkészüléket tartalmaz, és az jellemzi, hogy az egyenetlenségjelből származtatott mérőjelet legalább egy előre meghatározott vonatkozási értéken történő áthaladások száma 3C tekintetében vizsgáljuk, és az egyenetlenségekre vonat-182000
