179854. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés közvetlen hozzáférésű beírható-kiolvasható statikus félvezeőmemóriák (RAM) funkcionális vizsgálatára
MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG SZABADALMI 179854 LEÍRÁS JÉlá SZOLGÁLATI TALÁLMÁNY Nemzetközi osztályozás: f|3 • Bejelentés napja: 1980. IV. 23. (1007/80) G 11 C 29/00 NSZO3 ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL Közzététel napja: 1982. IV. 28. Megjelent: 1984. III.31. /y Szabadalmi Tár ) V * , Feltalálók: Gáspár J. Zoltán oki. villamosmérnök, Szakács Benő oki. villamosmérnök, Juhász László oki. villamosmérnök, Budapest. Szabadalmas: Egyesült Izzólámpa és Villamossági Rt., Budapest Eljárás és berendezés közvetlen hozzáférésű beírhatókiolvasható statikus félvezetőmemóriák (RAM) funkcionális vizsgálatára 1 A találmány tárgya eljárás közvetlen hozzáférésű beírható-kiolvasható statikus félvezetőmemóriák (RAM) funkcionális vizsgálatára, amelynek során a vizsgálandó memóriába és egy etalon memóriába egyidejűleg funkcionális RAM-hibafajták kimutatására alkalmas adatjelmintákat írunk be, majd a beírt memóriatartalmakat rendre kiolvassuk, a vizsgálandó memória és az etalon memória mindenkori kiolvasott memóriatartalmait egymással összehasonlítjuk, és eltérés észlelésekor a vizsgálatot megszakítva a hibát megállapítjuk. A találmány tárgyát képezi továbbá olyan különösen a fenti eljárás foganatosítására alkalmas berendezés is, amely órajel generátort, bináris (frekvenciaosztó) jelgenerátorokat, különböző logikai áramköröket, a vizsgálandó memóriák és egy etalon memória csatlakoztatására alkalmas típusfüggő szerkezeti egységet, logikai komparátort, valamint különböző kapcsoló és kijelző elemeket tartalmaz. Tömeggyártásban készülő félvezetőmemóriák gyártóműben és/vagy a felhasználónál történő vizsgálata lényegében három alapvető vizsgálati fázist, ill. vizsgálatfajtát ölel fel. A teljes körű vizsgálatok során mérik a statikus paramétereket, ún. funkcionális vizsgálatot és dinamikus méréseket végeznek. Ezek közül a legbonyolultabb és egyben legidőigényesebb a funkcionális vizsgálat, amelynek lényege és célja az áramkörök alapvető működési rendellenességeinek feltárása, valamint a parazita hatásokat figyelembevevő jelminta érzékenység ellenőrzése. Memóriaáramkörök, különösen statikus RAM áram-2 körök különböző topográfiai egységeiben ismert módon az alábbi fő hibafajták, ill. működési elégtelenségek fordulhatnak elő: Elsősorban a cellamátrix és a címdekóder áramkörre 5 jellemzőek a szakadások és rövidzárak. A külön-külön jól működő cellák között bizonyos jelminták esetén káros kölcsönhatások lehetnek, amit jelminta-érzékenységnek neveznek. A kölcsönhatás lehet villamos természetű (a sorok vagy oszlopok közös címzővezetékein keresztül 10 kapacitiv úton), de felléphet a topológiailag egymás mellett levő cellák között fennálló közvetlen csatolás révén, amit zavarérzékenységnek is neveznek. Ismeretes továbbá az ún. feléledési probléma, amely esetén a memória a megadott hozzáférési időn belül nem tudja kiadni a 15 megfelelő információt, ha minden olvasást közvetlenül megelőz egy írási ciklus. Érzékelő erősítő érzékenységről beszélünk, amennyiben az érzékelő erősítő nem tudja állapotát megváltoztatni, ha azonos adat bitek hosszú sorozatának kiolvasása után kellene egyetlen ellenkező 20 logikai szintű bitet kiolvasni. Amennyiben végül az egyes cellák hozzáférési ideje függ az egyes cellák megcímzésének sorrendjétől, ezt a hibafajtát címszekvencia érzékenységként tartják nyilván. A felsorolt hibafajták, ill. működési elégtelenségek ki- 25 mutatása, feltárása céljából a legyártott memória áramköröket funkcionális vizsgálatuk során különböző célirányos jelmintákkal vizsgálják. A jelminták a szükséges funkcionális mérések száma szempontjából a mérendő memória bitjeinek számával, azaz a cellamátrix N cella- 30 számával általában lineárisan, négyzetesen vagy 3/2 hat179854
