176840. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés akusztikusan anizotróp akusztikai egykristályok felhasználás szempontjából kitüntetett irányainak meghatározására

MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG SZABADALMI 176840 LEÍRÁS SZOLGÁLATI TALÁLMÁNY Ak Nemzetközi osztályozás: löt Bejelentés napja : 1976. IX. 28. (MA—2814) G 01 N 21/46 G 01 N 29/00 G 02 F 1/33 Közzététel napja: 1980. XI. 28. ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL Megjelent: 1981. XII. 31. Feltalálók : Szabadalmas: Márkus Lenk Attila villamosmérnök, 25% MTA Számítástechnikai és Automa-Podmaniczky András fizikus, 45% tizálási Kutató Intézete, Budapest Tőkés Szabolcs fizikus, 20% Závodszky Péter fizikus, 10% Budapest Eljárás és berendezés akusztikusán anizotrop akusztooptikai egykristályok felhasználás szempontjából kitüntetett irányainak meghatározására 1 2 A találmány eljárás és berendezés akusztikusán an­izotrop akusztooptikai egykristályok felhasználás szem­pontjából kitüntetett irányainak meghatározására. Ki­tüntetett irány bármely felhasználás szempontjából meg­határozott irány lehet pl. az az irány, amelynél az ultra- 5 hangot keltve a fénysugárral való akusztooptikai köl­csönhatás erőssége maximális. Az akusztooptikai eszközök — fényeltérítők, inten­zitásmodulátorok stb. — műszaki jellemzőik kiválósága és mérsékelt áruk miatt a modern optikai berendezések (pl. lézeres adatrögzítő berendezések, lézeres megjele­nítők, lézeres adatátviteli vonalak, holografikus memó­riák stb.) alapvető építőeszközei. Az akusztooptikai eszközök működése hanghullám (többnyire ultrahang) és fényhullám kölcsönhatásán 15 alapul. E kölcsönhatás bizonyos anizotrop és úgyneve­zett akusztooptikai egykristályokban különösen erős, ha a kölcsönható hang- és fényhullám bizonyos jól meg­határozott irányokban haladnak. Ezért az akusztoopti­kai egykristályokat az eszközkészítés előtt orientálni 20 kell, vagyis az egykristályokon olyan síkfelületeket kell kialakítani, amelyek normálisa a kristályrács szimmetriá­jához simuló koordinátarendszerben meghatározott irá­nyokba mutatnak. Ismeretesek olyan klasszikus eljárá­sok, amelyekkel egykristályok orientálása a megenge- 25 dett pontatlansággal (akusztooptikai egykristályok ese­tén kisebb, mint ±0,5°) elvégezhető. Ezek az eljárások a Röntgen-sugaraknak a kristályrácson való diffrakció­ján alapulnak. Az orientálás szokásosan Röntgen­­diffraktométerrel vagy reflexiós ill. transzmissziós 30 Laue-felvételek készítésével történik. Ezek az eljárások igen költséges berendezéseket igényelnek, valamint az orientálási folyamat hosszú a nagy orientálási pontos­sághoz szükséges hosszú átvilágítási idő miatt. Ismeretesek továbbá olyan optikai eljárások is, ame­lyek a többnyire optikailag is anizotrop kristályok törés­mutatója irányfüggésének mérésén alapulnak. Ezek hát­ránya az, hogy csak az ún. optikai tengely határozható meg gyorsan és kielégítő pontossággal. A még legalább 10 egy szükséges irány nem határozható meg, mert a rend­ellenes törésmutató irányfüggését leíró másodrendű tenzort reprezentáló törésmutató-ellipszoid többnyire forgási ellipszoid, a rendes törésmutató irányfüggését leíró felület pedig gömbfelület. Ismeretesek még bizonyos kémiai reagensekkel vég­zett maratáson és a maratás után létrehozott reflexiós fényszórás szimmetriájának vizsgálatán alapuló mód­szerek is. E módszerek alkalmazásának előfeltétele a csak egy adott kristályhoz alkalmazható speciális mara­tási technológia kidolgozása. Ezenkívül az anyagkiol­­dási sebesség irányfüggése az adott kristály esetén is erős kell legyen, hogy a reflexiós fényszórási kép jól kiérté­kelhető legyen. Hátrányuk továbbá az, hogy az intenzív nyalábú, jól kollimált lézerekkel a fényszórási kép vizs­gálata nem végezhető el, mert a képet a koherens lézer­nyaláb alkalmazása miatt fellépő fényzaj elmossa. A fenti módszerek hátrányainak kiküszöbölésére olyan eljárás és berendezés létrehozását tűztük ki célul, amellyel az akusztooptikai egykristályok orientálása 176840

Next

/
Oldalképek
Tartalom