175547. lajstromszámú szabadalom • Eljárás szilícium alapú félvezető eszközök p-n átmenetének kialakításához adalék-forrás előállítására

3 175547 4 kező: Tetrahidrofurfuril alkoholban feloldjuk a kívánt adalék-koncentráció eléréséhez szükséges mennyiségű bórsavat, majd az oldathoz a salét­­romossav megfelelő sóinak vizes oldatát kever­jük. Ezáltal lehet beállítani az oxidnövesztéshez szükséges elektrolit vezetőképességét. Az oldatot galvanizáló cellába töltjük. Az elektrolitba — anódként — behelyezzük az előkészített felületű oxidálandó szilícium lapkát. Katódként platina lemezt használunk. A növesztett oxidréteg vas­tagsága arányos a formáló feszültség értékével. A szükséges oxid rétegvastagság elérése után az elektrolitikus kezelést megszüntetve, az adalé­kolt oxiddal bevont szilícium lapkát kivesszük a fürdőből, leszárítjuk és így az, a további fel­­használásra alkalmas. Az oxidréteg minősége szempontjából nagyon jelentős szerepe van az elektrolit tisztaságának. Példaképpen ismertet­jük p-n átmenetek előállítását a találmány sze­rinti elektrolitban növesztett adalékolt oxid fel­használásával. N-típusú szilíciumegykristály lap­kát megtisztítunk, majd oxigéngáz atmoszférá­ban 1100 °C hőmérsékleten termikus első szilí­­ciumoxid réteget hozunk létre, melynek vastag­sága 0,4 gm. Az első szilíciumdioxid réteg meg­határozott részeit ismert fotogravírozási techni­kával eltávolítjuk, így szabaddá tesszük a szilí­cium felületet azokon a helyeken, ahol p-n át­menetet akarunk létrehozni. Az így előkészített szilíciumszeleteket megfelelő befogó szerkezetbe helyezzük, amelyben a szilícium szelethez jó elektromos kontaktust biztosítunk. A találmány szerinti elektrolit fürdőben létrehozzuk az adalé­kolt második oxidréteget 1000—1500 A vastag­ságban. Az anódos oxidálás sajátságából adódóan az adalékolt második oxidréteg csak a fotograví­­rozással előállított ablakban nő a szilícium felü­letére. A szilícium lapkát eltávolítva a fürdőből etilalkoholban leöblítjük és argon gázban leszá­rítjuk. Ezután a szilícium lapka teljes felületére adalékolatlan, tiszta harmadik szilíciumdioxid réteget csapatunk le gáz fázisból, például tetra­etoxiszilán 600 °C hőmérsékleten való oxidálá­­sával a diffúziós behajtási hőkezelés közbeni bőr kipárolgás megakadályozására. Ezután az első, második és harmadik szilíciumdioxid ré- 5 teggel ellátott szilícium lapkákat diffúziós be­hajtási hőkezelésnek vetjük alá, pl. 1200 °C-on úgy, hogy a kívánt mélységű p-n átmenetet elő­állítsuk. A diffúziós művelet után a második és harmadik szilíciumdioxid réteget hidrogén- 10 fluorid vizes oldatával lemaratjuk és a p-n át­meneteket kontaktus fémmel látjuk el, vagy to­vábbi műveletekre készítjük elő. 15 Szabadalmi igénypontok 1. Eljárás szilícium alapú félvezető eszközök p-n átmenetének kialakításához szükséges ala­csony — N<O018 atom/cm3 — felületi bór-kon-20 centrációt eredményező adalék-forrás előállításá­ra, az N-tipusú szilícium egykristály lapka tisz­títása, oxigéngáz atmoszférában 1100 °C-on tör­ténő termikus első szilíciumdioxid réteg létre­hozása, fotogravírozása és anódos oxidálás út- 25 ján, azzal jellemezve, hogy tetrahidrofurfuril al­kohol oldatban feloldjuk a kívánt adalék-kon­centráció eléréséhez szükséges mennyiségű bór­savat, majd az oldathoz salétromossav sóinak vizes oldatát keverjük, az oldatot galvanizáló 30 cellába töltjük, anódként behelyezzük az előké­szített felületű szilícium lapkát, kátédként pla­tina lemezt használunk, a kívánt oxidréteg vas­tagság elérése után az elektrolitikus kezelést megszüntetjük, az adalékolt oxidréteggel bevont 35 szilícium lapkát leszárítjuk. 2. Az 1. igénypont szerinti eljárás foganato­­sítási módja harmadik sziliciumdioxid réteg lét­rehozásával, azzal jellemezve, hogy az anódos 40 oxidálás után a szilíciumegykristály lapka teljes felületére adalékolatlan, tiszta harmadik szilí­ciumdioxid réteget csapatunk le gáz fázisból. A kiadásért felel: a Közgazdasági és fog! Könyvkiadó igazgatója 80.619.66-C Alföldi Nyomda, Debrecen — Felelős vezető: Benkő István igazgató 2

Next

/
Oldalképek
Tartalom