172944. lajstromszámú szabadalom • Eljárás gerjesztett potenciál-paraméterek mérésére

9 172944 10 így nyert együtthatókkal a tárolt zavar kompo­nens függvények együtthatóit megváltoztatjuk. A méréseket több időpontban, de változó inter­vallumban mindaddig ismételjük, amíg a tárolt s a mért függvények különbsége csak a kutatandó szerkezetből eredő komponenseket tartalmazza. Ezután a kutatandó képződményekből felépülő földtani szerkezet térbeli helyzetét a tárolt zavar­komponens függvény és az M, N mérőelektródá­kon megjelenő Ut potenciál különbségét mérve és a terítést változtatva határozzuk meg. A GP komponens együtthatók pontosságának növelésére célszerű a leírt módszerrel a különbség értékét a gerjesztést követően több időpillanatban mérni. Célszerű továbbá a jel/zaj viszonyt többszörös gerjesztéssel növelni. A találmányt részletesen az alábbi kiviteli pél­dákkal ismertetjük, ahol az 1. példa GP komponens együttható meghatá­rozása ismert érces képződményen, a 2. példa zavarkomponens függvény(ek) meg­határozása ismert horizontális kiterjedésű kuta­tandó képződmények környezetében ismételt ger­jesztéssel, a 3. példa szelvényezési eljárás több időpillanat­ból adódó GP komponens együtthatók átlagának mérésével, a 4. példa pedig szondázási eljárás. 1. példa Ha egy érctelér vagy érces kőzet bányavága­tokban felfúrásokban, felszíni árkokban egyértel­műen behatárolható, mérete a mérőelektróda rendszerhez képest nagy, akkor a találmány sze­rinti eljárás értelmében az érces kőzetre jellemző A*—rk GP komponens együtthatók in situ hatá­rozhatók meg oly módon, hogy a kutatandó objektumon legalább egy ponton, hosszú idejű gerjesztést követően meghatározzuk a zavarkom­ponens fuggvény(eke)t, amelye(ke)t a kutatás tár­gyát nem képező kőzetek és ásványok hoznak létre. A zavarkomponens-függvényt tároljuk, az ezt követő méréseknél a tárolt, és a GP összetett lecsengési függvény GP komponens paramétereket adó különbségét mérjük. 2. példa Ha csupán a kutatandó képződmény horizon­tális elterjedését ismerjük, úgy az előbbi példában ismertetett zavarkomponens-függvény(ek) meghatá­rozására irányuló eljárási lépéseket a kutatandó képződmények környezetében hajtjuk végre. A továbbiakban az 1. példában leírtakkal azonos mérési eljárást a kutatandó képződmény felett végezzük el, majd ismételt gerjesztést követően mérjük a GP komponens-együtthatók átlagát az előbbiekben leírt módon. 3. példa A kutatandó képződmény feletti méréseket előre meghatározott vonalak mentén, előre meg­határozott állandó elektróda elrendezéssel több ponton végezzük. A mérés további része meg­egyezik az előző példák szerinti méréssorozatok­kal, azzal az eltéréssel, hogy a GP komponens­­-együtthatóknak minden gerjesztést követően több időpillanatból adódó átlagát mérjük. 4. példa A kutatandó képződmény feletti méréseket előre meghatározott vonalak mentén több ponton, pontonként többféle elektróda-elrendezéssel végez­zük, az előző példákban leírt eljárások bárme­lyikének alkalmazásával. Szabadalmi igénypontok: 1. Eljárás gerjesztett potenciál-paraméterek mé­résére, amikor is először a fedő és beágyazó képződmények zavarkomponens függvényeit kőzet­mintán, fúrólyukban, bányavágatokban végzett olyan GP mérésekből nyerjük, ahol csak a fedő vagy beágyazó képződményeket gerjesztjük, vagy oly módon, hogy a felszínen a terítést csak a fedő, illetve beágyazó képződményekre telepítjük, a talajban a terítés szerint árambevezető elektró­dákat (A, B) helyezünk el, amelyeken keresztül a talajban elhelyezkedő kutatandó szerkezetet be­ágyazó, illetve fedő közeget elektromos egyen­árammal gerjesztjük, majd az önmagában ismert terítés szerint mérőelektródákat (M, N) helyezünk el, azzal jellemezve, hogy a mérőelektródákon (M, N) legalább egy gerjesztést követően mérjük és tároljuk a talajban keletkező, a fedő, illetve a beágyazó képződmények összetett zavarkomponens függvényét, ezt követően a kutatandó képződmé­nyek feletti terítéssel az árambevezető elektró­dákon (A, B) keresztül gerjesztést végzünk, majd az áram kikapcsolását követően több időpontban mérjük a mérőelektródákon (M, N) jelentkező, valamint a tárolt zavarkomponens függvény GP komponens együtthatókat adó különbségét, az így nyert adatokból meghatározzuk a kutatandó kép­ződményekből nem származó komponens együtt­hatókat, az így nyert együtthatókkal a tárolt zavarkomponens függvények együtthatóit megvál­toztatjuk, ezt követően a méréseket több idő­pontban, de változó intervallumban mindaddig ismételjük, amíg a tárolt és a mért függvények különbsége csak a kutatandó szerkezetből eredő komponenseket tartalmazza, ezután a kutatandó képződményekből felépülő földtani szerkezet tér­beli helyzetét a tárolt zavarkomponens függvény és a mérőelektródákon (M, N) megjelenő poten­ciál (Ut) különbségét mérve és a terítést változ­tatva határozzuk meg. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 5

Next

/
Oldalképek
Tartalom