164609. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés síküveg gyártására

17 164609 18 a 6. ábra egy eltérő kialakítású Pittsburgh­típusu berendezés egy részét függőleges hossz­metszetben mutatja, a 7. ábra egy további Pittsburgh-típusu berendezés egy részének függőleges hosszmetszete, 5 a 8. ábra a 7. ábrán feltüntetett berendezés­részt a 7. ábra szerinti VIII—VIII vonal mentén vett függőleges keresztmetszetben tünteti fel, a 9. ábra egy további Culburn-típusu beren­dezés egy részét függőleges hosszmetszetben 10 mutatja, a 10. ábra egy további Colburn-típusu be­rendezés egy részét függőleges hosszmetszetben mutatja, a 11. ábra egy további Colburn-típusu be- 15 rendezés egy részét függőleges hosszmetszetben mutatja, a 12—17. ábrák hat különböző üveghuzó berendezés kemencéinek részleteit tüntetik fel a kemencék hossztengelyével párhuzamos függőleges 20 metszetben, a 18 ábra egy további Kttsburgh-típusu berendezés egy részét függőleges hosszmetszetben mutatja, a 19. ábra egy további Pittsburg-típusú 2 s berendezés egy részét függőleges hosszmetszetben mutatja, a 20. ábra a találmány szerinti síküvegből vett próbatest anamorfikus fényképen (ún. strias­cop-on) megjelenő metszeti konturképét mutatja, 30 a 21. ábra a 20. ábrán feltüntetett síküveg­próbatesten átbocsátott fénysugárral létrehozott interferenciacsíkokat mutatja, amelyeket a No­marski féle ismert vizsgálati módszernek meg­felelően interferencia-mikrorefraktométerrel végzett 35 vizsgálat során állítottunk elő, a 22. ábra a hagyományos Pittsburgh-típusu huzási eljárással előállított síküvegből vett próba­test anamorfikus fényképen megjelenő metszeti konturképét tünteti fel, 40 a 23. ábra a hagyományos Pittsburgh-típusu huzási eljárással előállított síküvegből vett próba­testen átbocsátott fénysugárral létrehozott interfe­renciacsíkokat mutatja, amelyeket a próbatestnek a fentiekben említett Nomarski-féle vizsgálati 45 módszernek megfelelően interferencia-mikro­refraktométerrel végzett vizsgálata során állí­tottunk elő, a 24. ábra a hagyományos Iibbey-Owens típusú eljárással húzott síküvegből vett próba- 50 testen fotografikus módszerrel kimutatható tipikus hibavonal-képet mutat, a 25. ábra egy csíkozásvizsgáló (striascop) készüléket tüntet fel vázlatosan, amely síküveg keresztmetszetében az üveg homogenitásának fotog- 55 rafikus módszerrel történő rögzítésére szolgál, a 26. ábra a Nomarski-féle vizsgálati módszer végrehajtásához használható interferencia­-mikrorefraktométer optikai rendszerét ábrázolja vázlatosan. 60 Az 1. és 2. ábrákon feltüntetett berendezés az üvegolvadék-tömeg befogadására szolgáló 1 ke­mencével rendelkezik. A kemence alsó része a 2 fenéklemezből, a 3 alsó hátsó végfal-részből és a 4 és 5 alsó oldalfal-részekből áll. A felső részen 65 a kemence síkbeli méretei ki vannak bővítve a 6, 7 és 8 vízszintes fal-részek révén, amelyek az említett 3, 4 és 5 fal-részektől kifelé nyúlnak, és a 9 felső végfalat, valamint a 10 és 11 felső oldalfalakat tartják. Amikor a berendezés üzemel, az üvegolvadékot folyamatosan tápláljuk be a kemencébe a 3, 9 végfaltól távolabbi (nem ábrázolt) végénél, ilymódon az üvegolvadék 12 felületét a bejelölt szinten tartjuk a kemencén belül, miközben az üveget ettől a felülettől felfelé húzzuk a 13 üvegszalag formájában, amelynek széleit 14, 15 hivatkozási számmal jelöltük. A kemencében három 16 vízszintes elektróda van elhelyezve egymás felett, a kemence 9 felső végfal-részével párhuzamosan, azonban attól befelé távközzel elválasztva. Hasonlóképpen három 17 vízszintes elektródából álló elektróda­csoport van elrendezve a 10 felső oldalfal-résszel párhuzamosan, azonban attól befelé távközzel elválasztva, és egy harmadik, hasonlóképpen három 18 vízszintes elektródából álló elektróda­csoport van elhelyezve a kemence 11 felső oldalfal-részével párhuzamosan, azonban attól be­felé ugyancsak távközzel elválasztva. A 17 elektródáik folyamotosan elektromos áramot szol­gáltató 19 áramforrásra vannak kapcsolva^ mi­mellett a középső 17 elektróda az áramforrás egyik pólusához, a felső és alsó 17 elektródák pedig az áramforrás másik pólusához vannak kötve. A többi elektróda-csoportok, azaz a 16 és 18 elektródák hasonlóképpen elektromos áram­forrásokra vannak kapcsolva, ezeket az áram­forrásokat azonban az ábrán nem tüntettük fel. Az üveghuzó berendezés a kemencén kivül tartalmaz huzókamrát és torony-részt, amelyen az üvegszalagot görgők segítségével húzzuk keresztül. A berendezésnek ezek és egyéb részei meg­egyeznek az ismert berendezések megfelelő ré­szeivel, ezért részletesebb ismertetésük vagy áb­rázolásuk nem szükséges. A 16, 17 és 18 elektródákból álló elektróda­csoportoknál alkalmazott elektromos potenciál úgy van megválasztva, hogy folyamatos elektromos áram halad keresztül az üvegolvadékon a ke­mencében elhelyezett elektródacsoport különböző potenciálon levő elektródái között. A feszültséget úgy választjuk meg, hogy az üvegolvadékban az áramsűrűség sehol nem haladja meg a 0,4 A/cm2 értéket és az elektromos áramnak az üveg­olvadékon való áthaladása következtében az üveganyag hőmérséklete mindegyik elektróda­csoport szomszédságában kb. 40 C°-kal magasabb, mint egyébként lenne. Ilymódon mindegyik elektróda-csoportnál hőgát van előállítva és fenn­tartva. Ezen a helyen az üvegolvadék folyamatos felfelé irányuló áramlása jön létre, amely az alatta fekvő 6, 7 ill. 8 falrész melletti tartományból indul ki. A felfelé áramló üveg­olvadék egy része a kemencében levő üvegolvadék felszíne mentén befelé, a 13 üvegszalag tövénél elhelyezkedő meniszkusz felé, a felfelé áramló üvegolvadék többi része pedig a mellette fekvő 9, 10 ill. 11 falrész felé, kifelé áramlik. Mindegyik hőgát mögött viszonylag hideg üvegolvadék-zóna 9

Next

/
Oldalképek
Tartalom