154533. lajstromszámú szabadalom • Szelektív statikus gerjesztett potenciál szelvényező eljárás és berendezés

154533 Ekkor az eljárás szerinti négy paraméter két szelvényen készíthető. A két ellenállásgörbe (szimmetrizált gradiens és potenciál) egy szelvényen, a két gerjesztett potenciál vagy PS görbe (abszolút és differenciál) egy második művelettel egy másik szelvényén vehető fel. A 6. ábra szerinti elektródaelrendezésnél a 4. ábra szerinti A,P, illetve A', P' elektródák helyett egy-egy elektróda van. A kérdéses rétegekre számítással egy vagy több pontra meghatározzuk az u. hányadost, ezt szorozzuk a zJPS differenciális értékkel és hozzáadjuk a PS abszolút potenciál értékhez. így a kérdéses pontban meghatároztuk a szelektív statikus SPP, illetve SPS értékét. A fentiek szerint, vagy grafikusan teljes szelvény is kivitelezhető. Az eljárás gyakorlati kivitelezéséhez szokásos karottázs mérőkörök alkalmazása esetén a gerjesztett potenciál mérőkörök ellenállását további soros tag beiktatásával előnyösen legalább R = 30 Kohm értékre választjuk. A találmány szerinti új eljárás a gerjesztett potenciál nagy szelektivitású mérését teszi lehetővé, és kizárja azokat a zavaró körülményeket, melyek az eddig alkalmazott méréstechnikai eljárásokat hátrányosan befolyásolták. A találmány szerinti eljárás és berendezés jelentősebb előnyei a következők: Nagy szelektivitásánál fogva a legjobb eredményességgel alkalmazható, sűrűn tagolt rétegsorok esetén. Statikus mérési jellege folytán kemény formációk vizsgálatánál is a legjobb eredményt szolgáltatja. Igen jó eredménnyel alkalmazható a rétegsorok anyagi minőségének megkülönböztetésére, így szén, porózus homokok, dolomit, szfalerit, kalkopirit, hématit, stb. rétegek jelenlétének, pontos mélységi elhelyezkedésének kimutatására is. Szabadalmi igénypontok: ' 1. . Szelektív statikus gerjesztett potenciál szelvényező eljárás, azzal jellemezve, hogy a potenciálra vonatkozóan egy abszolút potenciál (PP) értékét, szimmetrizált differenciális (zlPP) értékét, valamint a gerjesztett potenciálmérő rendszerhez- illeszkedő geomeriájú rendszerrel egy poteneiálszonda látszólagos ellenállásértékét (Up

) és egy gradiens szonda látszólagos ellenállásértékét (Ug) mérjük, a keresett statikus 5 gerjesztett potenciál érték meghatározásához egy abszolút potenciálmérő elektródapárhoz pulzáló egyenáramot vezetünk és a (PP) abszolút potenciálértéket mérjük, további egy gradiens elektródapáron (JPP) •differenciális poten-10 ciálértéket mérünk, valamint egy további elekaródapárhoz váltakozó áramot vezetünk és (Up

) potenciálszonda látszólagos ellenállásértéket, valamint (Ug

) gradiens látszólagos ellenállásértéket mérünk és az így nyert értékekből 15 a keresett statikus gerjesztett potenciál értéket meghatározzuk, illetve a mélység függvényében folyamatosan regisztráljuk, a nyert szelektív statikus gerjesztett potenciál adatokat a gerjesztés nélkül nyerhető szelektív statikus PS 20 adatokkal, illetve szelvénnyel összehasonlítjuk, az összehasonlítás alapján az egyes kitüntetett SPP értékkel jellemzett rétegeket kijelöljük, illetve a nyert szelektív statikus természetes potenciál értékekkel a rétegek jelenlétét, milyen-25 ségét, minőségét meghatározzuk. 2. Berendezés az 1. igénypontban meghatározott eljárás foganatosítására, azzal jellemezve, hogy ellenállásszelvényező, váltóáramú táp- és mérőkörei (7, 8), gerjesztett potenciálméréshez 30 és természetes potenciálméréshez egyenáramú táp- és mérőkörei (9, 10), valamint két vagy több mérőelektródás (elektródapáros) és egy vagy több, a mérőelektródákra szimmetrikus elrendezésű, árambevezető elektródapáros szon-35 dája van. 3. A 2. igénypontban meghatározott berendezés kiviteli alakja, azzal jellemezve, hogy osztó, szorzó és összegező áramkörökből álló, regisztráló körre csatlakozó kimenetű számító 40 egysége van. .4. A 2. igénypontban meghatározott berendezés kiviteli alakja, azzal jellemezve, hogy a mérőelektródákhoz (S, S') szimmetrikusan elrendezett, gerjesztő áramot és mérőáramot be-45 vezető, rövidrezárt két elektródapárja (P, P', illetve A, A') van, melyeknek megfelelő elektródái egymás mellett (PA <sc PP) vannak elhelyezve és egyik gradiensrnérő pontja mint szimmetrikus rövidrezárt elektródapár (S, S') 50 a központi elhelyezésű másik mérőelektróda (M) környezetében van. 4 rajz, 6 ábra A kiadásért ielel: a Közgazdasági és Jogi Könyvkiadó igazgatója. 6806941. Zrínyi (T) Nyomda, Budapest V., Balassi Bálint utca 21—23. 3