153919. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés radioaktív sugárzás intenzitásának mérésére

153919 5 6 penzáló detektorra eső sugárnyalább intenzitá­sát változtató diafragmával (rekesszel), a su­gárforrás-detektor távolság változtatásával, a kompenzáló detektor érzékeny térfogatának változtatásával, vagy a feszültség, illetve egyéb paraméter (detektorparaméter) megváltoztatá­sával. A találmány szerinti eljárást és berendezést egy példakénti kiviteli alak kapcsán ismertet­jük részletesebben. A mérendő —, neutron­vagy egyéb 1 sugárzás intenzitását a külső 3 ionizációs kamra érzékeli. A 4 kompenzáló sugárzó és a 2 kompenzáló ionizációs kamra megvalósítható kb. 1 cm3 térfogatú rendszer­ben, mely teljes egészében a mérődetektoron belül helyezhető el. Közös 7 gyűjtőelektróda alkalmazásával és megfelelően választott 10 és 11 tápfeszültségek esetén a két ionizációs áram különbsége folyik a 7 közös gyűjtőelek­tródáról az ionizációs áramot érzékelő és cél­szerűen feldolgozó 8 egységbe. Ez az egység a mindenkori mérni kívánt mennyiséggel (dó­zisintenzitás, sugárzás és anyag kölcsönhatása alapján mérni kívánt sűrűség, vastagság, ösz­szetétel vagy egyéb jellemző mennyiség) egy­értelmű függvénykapcsolatban levő jelet szol­gáltat és regisztrál, továbbá ipari és egyéb folyamatszabályozó berendezést vezérelhet. Az 5 és 6 a mérő ill. a kompenzáló kamra fe­szültségelektródája. Az időben állandó kompenzáció mellett a rendszer előnye még, hogy a kompenzáló- és mérőkamra gáztöltése a 9 nyíláson közlekedik. Ezáltal a hőmérséklet- és nyomásváltozások­ból eredő áramváltozások nagyrészt kikom­penzálódnak, továbbá a rekombinációs viszo­nyokat döntő mértékben befolyásoló szennye­zőgázok mindkét kamrában azonos koncent­rációban jelentkeznek még akkor is, ha ez a kamra alkatrészein való adszorpció miatt idő­ben megváltoznék. A kompenzáló kamra kis méretét (a mérő detektorhoz viszonyítva) a kompenzáló sugár­zás nagy specifikus ionizációja teszi lehetővé. y vagy fékezési sugárzás mérése esetén kom­penzáló sugárzóként többnyire a y-aktív pre­parátum mint ß-lorr&s, illetve a fékezési su­gárzás előállításánál használt primer ^-forrás minden esetben alkalmazható. Neutron-sugár­zás mérése esetén a neutronforrásnál alkalma­zott «-preparátum használható kompenzáló sugárzóként. y-sugárzás mérése esetén ionizációs kamra­ként előnyösen nagynyomású kamra választ­ható. Ekkor a kompenzáló kamra néhány mm vagy cm nagyságrendű terében a ^-részek tel­jes energiájukat is leadhatják. A detektort ki lehet úgy képezni, hogy a kompenzáló sugárzás a külső, mérőkamrába nem juthat ki, ott zavaró jelet nem hozhat létre. y-sugárzás mérése esetén a (külső) mérő­kamrába a kompenzáló forrás y-háttere bejut, ez azonban csak additív konstans jelet szol­gáltat, amely így kikompénzálható (amennyi­ben kisebb a kompenzáló jelnél), és a mérő­rendszer elvi sémájára semmiféle .kihatással nincsen. Megfelelően kialakított kompenzáló sugárzóval ennek értéke a mérés dinamikája szempontjából igen alacsony relatív értékre szorítható le. Bár a mérendő y-sugárzás, vagy neutron­sugárzás a kompenzáló kamrán keresztül ha­lad, annak kicsiny érzékeny térfogata, ennek folytán kicsiny érzékenysége következtében a kompenzáló jel a külső (mérő illetve mérendő) sugárzással, főleg pedig annak változásaival szemben teljesen érzéketlen. A falihatásoktól eltekintve a kamrák térfogatuk arányában ér­zékenyek a külső sugárzásokra. így pl. 1 cm3 körüli kompenzáló- és 1 liter körüli mérőtérfo­gat esetén a mérendő jelváltozások ezreléke jelentkezne, mint kompenzáló jelváltozás (raá­sorrendben jelentkező mennyiségről van szó.) így a rendszer a mai világszínvonalnak meg­felelő igényeket messzemenőkig kielégíti. A detektorban elhelyezett sugárzó aktivitása általában a 10—100 p.o nagyságrendben mo­zoghat. Így a detektorház felszínén minden külön árnyékolás nélkül a 20 mr/óránál kisebb dózisintenzitások érhetők el még egészen nagy energiájú sugárforrások esetén is. (Pl. Co 60). Értelemszerű módosításokkal a példaként említett y—ß vágy n—a rendszeren és az in­tegráló ionizációs kamrás megoldáson kívül a fenti módszer átvihető más sugárfajtákra és detektortípusokra is (pl. ß—a, y—n stb. rend­szerek). A találmány szerinti eljárás általánosság­ban töltésnélküli részecskék, valamint mini­mális ionizációjú vagy kis fajlagos ionizációjú részecskék detektálásán vagy folyamatos méré­sen alapuló berendezések, amelyek műszerek és mérési eljárások területén alkalmazhatók. Bár a fentiek értelmében az alkalmazási te­rület rendkívül széles, a példaként említett ionizációs kamrás megoldás főleg gyakorlati alkalmazási lehetőségeit szeretnénk alább vá­zolni. Az ipari y-sugaras (illetve fékezési sugár­zásos) műszerek csoportjába tartozó számos műszertípust: abszorpciós és szóródásos elven működő vastagság, — bevonatvastagság, — és sűrűségmérők, anyagösszetétel- (koncentráció-, hamutartalom-, C H viszony) anyagtömörség­mérő, szintmérő- és szabályozó-, szakaszos, vagy folyamatos működésű rendszerek esetén az eddigi megoldásoknál lényegesen fejlettebb konstrukciókat lehet a találmány szerint meg­valósítani. Építőipari, mezőgazdasági, erdészeti és geo­fizikai célokra y-sugaras és neutronos sűrű­ség-, (tömörség), anyagösszetétel-, és nedves­ségmérő rendszerek alakíthatók ki előnyösen jelen megoldás szerint. Hordozható műszereknél különösen jelentős az aktivitás-, méret- és súlycsökkenés, melyet ez a megoldás nyújt. Geofizikai neutron és y­-karotázs berendezéseknél az adott méretű ke­resztszelvény, valamint a különleges hőmér-10 15 20 25 30 35 4Q 45 50 55 60

Next

/
Oldalképek
Tartalom