152868. lajstromszámú szabadalom • Polarizációs interferométer mikroszkóp
152868 Ez lehetővé teszi, hogy a vizsgált tárgy méretétől függő kívánt képdualitást válasszunk anélkül, hogy objektívet, vagy prizmát kellene cserélni. A homogén interferometrikus mezőben kapott maximális dualitás értékek sokkal na- 5 gyöbbak a találmány szerinti mikroszkópnál, mint az egyetlen kettőstörő prizmával rendel-" kező mikroszkópnál. Emellett a találmány sze-' rinti mikroszkóp alkalmazásának lehetőségei sokkal tágabbak és az alkalmias sokkal széle- 10 sebb tárgyak mérésére is, mint amilyenek például nagy sejtek, széles rostok vagy szövettani metszetek. A találmány szerinti polarizációs: interferometer mikroszkóp szerkezetét és működését" 15 példiakénti kivitelen, rajz alapján ismertetjük részletesebben. A találmány szerinti polarizációs interferometer mikroszkópot alkotó plapvető optikai egységek a következők: kettős-törő Wi és W2 20 prizmák, P polarizáló, D résdiafragma, K kondenzor, Ob objektív, M mi'krométérlap, amely a kettős-törő W2 prizma harántirányú eltolásának mérésére szolgál, A analizátor, kétokuláros ND sapka, Ok okulár, amely a vizsgált és a n tárgy- 25 síkban elhelyezett tárgy interferometrikus képének vizsgálatára szolgál, az MP segédmikröszkóp, amely az M mikrométerlapon a mérési eredmények leolvasására szolgál, ezen segédmikroszkóp L objektíve, ennek PO fókúszlapja 30 az indikátorral és az E okulár. A kettős-törő Wx és W 2 prizmák három-három kvarcból készült 1, 2, 3 ékből vannak összerakva. Ezek a kvarc-ékek isimert módon vannak a kristály optikai tengelyéhez viszonyítva 35 j kivágva, ezt a rajzon a kettős nyíl jelzi, ahol a tengely megegyezik a rajzlap síkjával és egy pont jelzi, ahol a tengely merőleges a rajz síkjára. Az 1 ék optikai tengelye merőleges az ék fénytörő élére és ß = 35°—45° szög alatt hajlik 40 az ék egyik homlokfelületére, míg a 2 és 3 ékek optikai tengelyei párhuzamosak a fénytörő élükkel. Az 1 ék csúcsszögének értéke megegyezik a 2 és 3 ékek csúcsszögeinek összegével mindkét Wi és W2 prizmánál. A legalkalmasabb 45 háromrészes kettős-törő prizmák helyett kétrészes Nowarsky-típusú prizmák is alkalmazhatók, amelyek két azonos csúcsszögű ékből állnak. A kettős-törő Wx prizma, amely az Ob objek- 50 tív részét képezi, az Ob objektív tengelye körül forgathatóan van elrendezve. A Wx prizma interferometrikus színképvonal elhelyezkedési síkja beleesik az objektív F képfókuszába. A kettős-törő W2 prizma a mikroszkóp tubusán 55 belül van felszerelve és lehetőséget biztosítunk arra, hogy az Ob objektív tengelyéhez képest a kettős nyilakkal jelzett w párhuzamos és p merőleges irányban. elmozgatható legyen. A W2 prizmának w irányú párhuzamos eltolásával azt 68 érjük el, hogy a különböző nagyítású cserélt objektívek képfókusza beleesik a prizma interferometrikus színképvonal elhelyezkedési síkjába; a W2 prizma merőleges p irányú eltolása fázisváltozást okoz a dualizált fényhullámok 65 között és arra szolgál, hogy la vizsgált tárgynál az optikai útkülönbséget mérjük. Ha a Wi és W2 prizmák <*i és a 2 csúcsszöge azonos irányban van forgatva, a vizsgált tárgy miaximális dualitását kapjuk, minthogy az a két W1 és W 2 prizma dualitásának összege. Ellentétes esetiben, fia a Wx és W 2 prizmák «x és . «2 csúcsszögei ellentétesen vannak forgatva, akkor a két dualitás kivonódik . egymásból. Közbenső helyzetben, amikor a Wi és W2 prizmák csúcsszögei 450j -.os szöge^ zárnak be, a teljes dualitás megegyezik a W2 prizma dualitásával. A maximális interferencia hatást akkor kapjuk, ha a D diafragma S rése, amely a kondenzor fókuszában van, párhuzamos a W2 prizma fénytörő élével és a P polarizáló'ban és A analizátorban levő fényrezgési síkok ugyanezen fénytörő éllel. 45°-os szöget zárnak be., -Tipikus mikroszkóp-objektívek esetén a Wi prizma a i csúcsszöge 15°-ig terjedhet, míg a W2 prizma «2 csúcsszöge, amely a szokásos biológiai mikroszkóp tubusán belül helyezkedik el, meghaladja a 4°-ot, a W2 prizmánál megengedhető vastagsági asztigmatizmus miatt. Ilyen módon két Wi és W2 prizmából álló rendszer maximális képdualitást tesz lehetővé, közelítően ötször akkorát, mint amekkorát az eddig alkalmazott mikroszkópokkal el lehetett érni, amelyeknél egy prizma van a tubusban elhelyezve. A találmány szerinti polarizációs interferometer mikroszkóp, amely különböző nagyítású objektívekkel van felszerelve, a kettős-törő Wi prizma forgatásával, amely prizmának csúcsszöge kb. 10°—15° értékű és vastagsága kb. 5 mm, valamint cserélhető W2 prizmák rendszerével több különböző «2 csúcsszögű W 2 prizmával (például 0°45', 3° és 12°), bármely_jiualitás elérését lehetővé teszi. Ez lehetővé teszi különböző interferometrikus kutatási módszerek alkalmazását, például homogén mezőben való differenciálás . módszerét («2 = 0 o 45'), a nagy képdualitás módszerét («2 == 3°~4 C ), és a színképvonalak módszerét nagy és differenciális képdualitással («2 rendkívül kevéssé különbözik az <\-től). A találmány szerinti polarizációs interfero-' méter mikroszkóp különösen biológiai kutatásoknál, a textiliparban és a kristálytani vizsgálatoknál alkalmazható nagy előnnyel. Szabadalmi igénypontok: - 1. Polarizációs interferometer mikroszkóp, a mikroszkóp tubusában elhelyezett kettős-törő prizmával, amely az objektív tengelyével párhuzamosan és arra merőlegesen eltolható, azzal jellemezve, hogy járulékos kettős-törő prizmája (Wi) van, külső interferometrikus vonalmező elhelyezéssel, amely járulékos prizma (Wx) a mikroszkóp objektív (Ob) optikai rendszere mögött annak közvetlen közelében helyezkedik el és a vizsgált tárgy képdualitását változtatóan az objektív tengelye körül forgathatóan van felszerelve. 2 '•
