152099. lajstromszámú szabadalom • Eljárás nyomdaipari mélynyomtató formák maratási időtartamának megállapítására

1 3 vagy tapmtótű mozgását elektromos impulzusokká alakítva, mérik a kimart mélységeket. Valamennyi említett rendszernek — viszonylagos használhatóságuk elismerése mellett — legnagyobb hátrányuk abban áll, hogy egyik rendszer sem ad a maratás munkafolyamata alatt objektív és exakt mérési értékeket és így szerszámként nem használható, mert csupán a művelet elvégzése után való ellenőrzésre alkalmas és erre is csak kisebb-nagyobb mértékben, tehát ha a maratás folyamatát a kelleténél korábban vagy későbben szakították meg, a hibát már javítani nem lehet. A felsorolt nehézségeket a találmány szerinti eljárás igen egyszerű módon küszöböli ki és lehetőséget ad arra, hogy a méréseket nagy pontossággal, gyorsan, objektív módon végezhessük és a maratási mélységet a maratás folyamata alatt is ellenőrizhessük. A találmány szerinti eljárásnál a nyomdaipari mélynyomtató formák maratási mélységét, illetve a maratás megfelelő időtartamát oly módon állapítjuk meg, hogy a nyomóhenger felületén a maratandó ábraráccsal együtt legalább egy, de célszerűen két vagy több azonos kivitelű ellenőrző etalont, például szürke éket helyezünk el, amelyeket az ábrával azonos körülmények között ismert módon maratunk a nyomóhenger felületére, a maratás folyamata alatt egy-egy ellenőrző etalonról (szürke ékről) megfelelő idő elteltével eltávolítjuk a védő zselatinréteget és objektív méréssel ellenőrizzük a maratás előrehaladását és a mérés eredményéből állapítjuk meg a még szükséges további maratási időtartamot. Az ellenőrző etalonokat a nyomó-henger kerülete vagy alkotója mentén helyezhetjük el. Ilyen módon elérhető, hogy azonos értekékből több etalon áll rendelkezésre és ezeket munka közben a maratás folyamata alatt fel tudjuk használni. A találmány szerinti mérés előnyös voltára az jellemző, hogy a) a méréseket a műveletre etalonokon eszközöljük, b) a maratás folyamata alatt, tehát munka közben, illetőleg mérés köziben az etalonról el tudjuk távolítani a diffúziós védőzselatint, tehát a maratás tartama alatt végezhetünk objektív mérést, c) minthogy célszerűen több etalonskálát alkalmazunk, a maratást nyugodtan folytathatjuk, majd a második, harmadik stb. etalonskála példányon újabb ellenőrző méréseket eszközölhetünk. Ahány példány etalonnal rendelkezünk, annyiszor kaphatunk ellenőrző mérés útján objektív részeredményt a mélységek alakulásáról. d) Az alkalmazott etanolok a maratandó képpel azonos vonalsűrűségű rácsrendszerrel -vannak ellátva és ez biztosítja a mérésből vont következtetés megbízhatóságát. Természetesen nem föltétlen szükséges, hogy teljes szürke ékeket alkalmazzunk etalonokként, megfelel erre a célra az ábra például egy vagy több jellemző mélységének megfelelő etalonfolt is. 2099 4 Még nagyobb mérési pontosságot érhetünk el akikor, ha nem keresztrácsrendszerrel kiképzett etalonokat alkalmazunk, hanem egyirányú vonalráccsal kiképzetteket, mert ezáltal a rendg kivül kényes mérés biztonságát és pontosságát nagymértékben növelhetjük és a hibalehetőségeket csökkenthetjük. Az etalonként használt tónusskála gyakorlatilag felöleli a maratásban szereplő képek, raj-10 zok, árnyalati értékeit. Ezek az értékek, azonos viszonyok között egyidejűleg alakulnak ki. Ilyen módon az etalon értékei párhuzamosak lesznek a maratott ábrák és rajzok mélységeinek értékeivel. ^5 A találmányunk szerinti eljárásnak tehát az a jellemzője és nagy előnye, hogy a rács, illetőleg vonalrendszer több példányban áll rendelkezésre és ennek krómzselatin védőrétege a maratások közben eltávolítható. A maratás 2o közben végzett objektív mérés is hozzásegíthet a nagyobb pontossághoz, de vitathatatlanul a helyes megoldás az, hogy legalább két azonos etalont alkalmazzunk. A találmány szerinti eljárást és egyr

kedvező 25 mérési módszert, valamint a méréshez használt, más területen ismert eszközt rajzok alapján ismertetjük részletesebben, példakénti megoldásokon. Az 1. ábra egy 'kimart, ún. szürke ék etalon 30 felülnézetét ábrázolja vázlatosan, nagyított léptékben, a 2. ábra az 1. ábra szerinti etalon keresztmetszetét mutatja az 1. ábra II—II vonala mentén, az 1. ábrával azonos léptékben, 35 a 3. ábra az etalonok elhelyezésének lehetőségeit ábrázolja, a 4. ábra nagyított léptékben egy keresztrácsos részt mutat,, az 5. ábra nagyított léptékben egy vonalrá-40 csos részt, a 6. ábra pedig a találmány szerinti eljárás megvalósítására alkalmas, önmagában ismert mérőeszközt ábrázol metszetben és használata magyarázatára szolgál. ^5 Amint az 1. ábrából látható, a kimart 1 hornyokban a vonalkázás sűrűségével igyekeztünk ábrázolni a 2. ábrán látható növekvő mélységet, amelynek megmérésére szükség van. Amint a 3. ábrán látható, a 2 nyomóhenge-30 r€

n a. 3 etalonok a henger kerülete mentén, míg a 4 etalonok a henger egy alkotója mentén vannak elhelyezve. A 4. ábrán a közismert keresztrácsot, annak . egy részletét ábrázoltuk, amelyben a kimart 5 55 mélyedések világosan felismerhetők. Az 5. ábra az 1. és 2. ábrához hasonló vonalrács egy kimetszett részletét mutatja, itt az 1 hornyok jól szemlélhetek. Különösen vonalrácsos etalon alkalmazása 60 esetén nyilik mód a találmány szerinti eljárásnál egy más területről ismert igen gyors és jól alkalmazható mélységmérési módszerre, amikor is. a sík felületek felületi finomság méréséből ismeretes pneumatikus tapintófej és vonalrács 65 együttes alkalmazásával gyors méréseket tu-2