152079. lajstromszámú szabadalom • Eljárás félvezető termékek nagy keresztmetszetű átmeneteinek előállítására

15207Ö róképességét az ötvöző fém és félvezető kris­tály fém-félvezető felületi záróképessége fogja meghatározni a szigetes tartományokon, mely lényegesen kisebb, mint a p—n átmenet záró­képessége; b) csökken az egyenirányító átütési szilárd­sága, mivel az áramsűrűség egyenetlen elosz­lása az aktív tartományon belül helyi felmele­gedéseket okoz; c) a b) pontban leírtak miatt csökken az egyenirányító átmenő irányú terhelhetősége. A szigetes p—n átmenetek tranzisztoroknál is a paraméterek leromlásaihoz vezetnek. így az emitterátmenetben az emitterhatásfok. csök­kenését, a kollektor átmenetben pedig az Ic o és a zajszint növekedését okozzák. Az ötvözési technológiák alapvető kívánalma tehát, hogy ezen hibát kiküszöbölje. Az általuínik kidolgozott ötvözési eljárás a szigetkópződés lehetőségét alapjaiban szünteti meg. Eljárásunkat ábráink segítségével ismer­tetjük részletesen. Az 1. ábra az ötvözés mechanizmusát mu­tatja erősen nagyítva és torzítva, keresztmet­szetben, vázlatosan. A 2. ábrán a találmány szerinti eljárás ke­resztülviteléhez való ötvöző kazetta példákép­peni kiviteli alakja van feltüntetve metszetben, míg A 3. ábra az ötvöző kazettákat az ötvöző kályhában mozgató szállítószalagra helyezve tünteti fel, szét-, ill. összetolt helyzetben, felül­nézetben. Az 1 félvezetőkrístályra ráhelyezett 2 ötvöző fémet a kristállyial együtt az ötvözési hőfokra felmelegítve, nem kapunk sík, folyamatos p—n átmenetet, hanem 3 helyeken p—n, n—n"'", ill. p—p+ átmenet keletkezik, míg 4 helyeken szi­getek jönnek létre (ü. ábra). Ezen strukturális hibák kiküszöbölésére, ill. a szigetképződés lehetőségeinek megszünteté­sére úgy járunk el, hogy a félvezető kristályt és az ötvöző anyagot egymástól térben elkülö­nítve melegítjük fel. Ily módon lehetővé válik, hegy a felmelegedési periódusban redukáló vagyr inert atmoszférába adagolt redukáló, ill. oxidoldó anyagok — célszerűen H2, HCl vagy HF — adagolásával a félvezető kristályt és az ötvöző fém felületét egyenletesen meg lehessen tisztítani. Amikor a felmelegedési és tisztítási periódus végén a maximális ötvözési hőmérsékletet el­értük, az ötvöző anyagot és a félvezető kris­tályt kontaktusba hozzuk egymással. Ez tör­ténhet pl. úgy, hogy az ötvöző fémet a fél­vezető kristály felületére cseppentjük. Másik módszer, hogy a félvezető kristályt — pl. kül­ső manipulátor segítségével — az ötvöző sab­lonban elhelyezett ötvöző fém felületére ejtjük. A találmány szerinti eljárás alkalmazásával rétegegyenirányítóknál és tranzisztoroknál mind az ohmikus kontaktus, mind a p—n átmenet ötvözése szigetmentesen megoldható. Eljárásunkat az alábbi konkrét, példán mu­tatjuk be: Az 1 félvezető kristályokat behelyezzük az ötvözősablon alsó 5 részében kialakított 11 fészkekbe. A középső 6 részt az alsó részre — nem ábrázolt tájolóelemek segítségével — úgy 5 helyezzük rá, hogy az abban levő 10 furatok a 11 fészkekkel egytengelyűén helyezkedj ének el. A középső részre ráhelyezzük a felső 7 részt, mely azon eltolható. Felhelyezéskor a felső 7 10 részt abba a helyzetébe kell hozni, amikor a benne kialakított 9 furatok a 10 furatok és ,11 fészkek közös tengelyvonalán kívül esnek, vagyis amikor a 9 és 10 furatok nem esnek egybe. Ekkor a 9 furatokba behelyezzük az 15 ötvöző fémet, majd a kazettát ráhelyezzük a 12 mozgatószalagra, mely a kazettákat az öt­vözőkályháha viszi (2. ábra). Az ötvözőfcályháhain való haladás során a kazettákban levő kristályok — melyek a példa 20 esetében genmániumkristályok — és az ötvöző ' fém — mely a példában indium — fokozato­san felveszik az ötvözési hőmérsékletet, mely 500 C°. Eközben a kályhában levő redukáló atmoszférába adagolt redukáló, ill. oxidoldó 25 anyag — példánkban H2 — segítségével- a fél­vezetőkristály és az ötvözőfém felületét egyen­letesen megtisztítjuk.. A felmelegedési és tisztítási periódus után az ötvöző kályha belsejében a mozgatószalag 30 felett elhelyezett 8 ütközőn kialakított kény­szerpálya a kazetták felső 7 részét elmozdítja és abba a helyzetbe hozza, amikor a 9 és 10 furatok tengelye egybeesik. Ebben a helyzet­ben a megolvadt 2 ötvözőfém a 10 furaton ke-35 resztül az 1 félvezető kristály felületére csep­pen és az ötvöződés megtörténik (3. ábra). A találmány szerinti eljárás alkalmazásával elérjük, hogy a hőmérsékletnek megfelelő öt­vözőfém -— félvezetőanyag egyensúlyi összetétel 40 nem állhat be folyamatosan a felmelegedési periódus alatt, így a telítődés sem történhet meg egy-két ötvözési ponton keresztül, hanem a teljes felületen nagy sebességgel megy végbe és a gázzárvány képződése ki van zárva. 45 A beötvöződési mélységet és a visszakristá­lyosodott réteg vastagságát ez esetben is a maximális ötvözési hőmérséklet és az ötvöző­fém mennyisége határozza meg, a fázisdia­gramnak megfelelően. Ugyanakkor a p—n át-50 menetek keresztmetszete, mely különösen tran­zisztoroknál döntő jelentőségű, az ötvözősablon kialakításával egyértelműen beállítható. 55 Szabadalmi igénypontok: 1. Eljárás félvezető termékek p—n átmene­tén ék és/vagy ohmikus kontaktusának ötvözé­ses előállítására, azzal jellemezve, hogy a fél­vezető kristályt és az ötvözőanyagot egymástól 60 térben elkülönítve melegítjük fel, a felmelege­dési periódus alatt redukáló vagy inert atmosz­férába adagolt redukáló, ill. oxidoldó anyagok — célszerűen H2, HCl vagy HF — alkalmazá­sával felületi tisztítást hajtunk végre, majd a 65 maximális ötvözési hőmérsékleten a félvezető 2

Next

/
Oldalképek
Tartalom