149793. lajstromszámú szabadalom • Egycsatornás impulzusamplitúdó-analizátor

149.793 3 szelektív regisztrálására. A mérési pontokat ugyancsak az 1. ábra szerinti elrendezéssel vettük fel három mérési sorozatban. (Lemezvastagság: d, beütésszám: Z.) A találmány szerinti egycsatornás analizátorkapcsolásnak egy kiviteli példáját az 1. ábra mutatja. Amint az ábrából látható 1 elektronsugárcső 2 anódrekeszt tartalmaz és anódáram ebben a csőben csak akkor folyik, hogyha a csőnek és 4 sugáreltérítő elektródáján — a csőalkatrészek készítési toleranciájának figyelembevételével — azonos potenciál van. Az anódáram — sugáreltérítőfeszültség — jelleggörbének ennél a csőnél éles maximuma van, mégpedig a 3 sugáreltérítő elektródának olyan potenciáljánál, amely potenciál megegyezik a második, potenciál szempontjából rögzített 4 sugár eltéri tő elektróda potenciáljával. Ha az analizálandó és első közelítésben négyszögletesnek tekintett jelimpulzusokat a kapcsolás E bemenetén keresztül a 3 sugáreltérítő elektródára vezetjük, úgy akkor kapunk impulzust az 5 anódon, ha a bemenő impulzusoknak potenciálja a másik, potenciál szempontból rögzített 4 sugáreltérítő elektróda potenciáljának például a 2 anódrekesz hasábszélessége szerint megfelel. Az anódimpulzus amplitúdó nagysága az elektronsugárnak a rekesznyílásban való tartózkodási idejétől, azaz a négyszögimpulzus hosszától függ. Ez utóbbi összefüggést a 2. ábrán látható diagramban ábrázoltuk. Ebből a 2. ábrán bemutatott szoros függőségből, amely az 5 anódon keletkező U anódimpulzusamplitudó és az elektronsugárnak a 2 rekesz nyílásában való T tartózkodási ideje között fennáll, az adódik, hogy az 5 anód után kapcsolt elektronikus berendezésnek — például impulzussűrűségmérőnek működési küszöbértéke szerint az egyes impulzusok közül csak olyan négyszög alakú impulzusok kerülnek regisztrálásra az E bemenetre érkező jelimpulzusok közül, amelyek egy — az 1 cső geometriai felépítése által is meghatározott — definiált amplitúdó közben {analizátor csatorna) helyezkednek el és lényegében az 5 anód után kapcsolt berendezés működési szintje által meghatározott minimális időtartamot elérik. Olyan impulzusoknál, amelyek például szcintillációs mérőfejekből származnak és amelyek gyorsan emelkednek és esésük ugyanakkor lassú, megközelítően exponenciális olyan T tartózkodási időket kapunk az anódrekesznyíláson belül, amelyeknek függőségét az S jelimpulzus nagyságától a 3. ábrán bemutatott kihúzott vonal ábrázolja. A minimális B impulzusnagyságnál kisebb impulzusoknál az 1 csőben az elektronsugarat a 3 eltérítő elektróda a 4 eltérítő elektróda adott meghatározott előfeszültsége mellett egyáltalán nem téríti el a 2 rekesz nyílásáig. Ennélfogva tehát az ebben az esetben a nyílásban való tartózkodás ideje nulla. Miután elértük azt a jelimpulzus nagyságot, amely a B ponthoz tartozik, a rekesznyílásban való tartózkodási idő eleinte gyorsan növekszik a — például szcintillációs mérőfejből eredő — impulzusok ellaposodása következtében. Ha a jelimpulzusok olyan, csúcspotenciált érnek el, amelynél az elektronsugár a 3 elektróda eltérítő hatása következtében a 2 rekesznek a 3 elektróda oldalán levő szélét éppen eléri, akkor az elektronsugár további impulzusamplitúdó növelésnél most már jelimpulzusonként kétszer tartózkodik az anódrekesz nyílásában, mégpedig egyszer az odafelé és egyszer a visszafelé-mozgásnál. Ezáltal az 5 anódán két impulzus is keletkezik, amelyik időben szét van választva. A már említett, utána kapcsolt berendezés működési szintje számára ezek közül az 5 anódán megjelenő impulzusok közül csak az a kimenő impulzus érdekes, amely az elektronsugárnak a 2 rekesz nyílásában való hosszabb tartózkodási idejéhez tartozik. Ez azonban az 5 anódon megjelenő kimenő impulzusok közül az, amely a (szcintillációs-) jelimpulzus hátsó oldalához tartozik, mert a szcintillációs impulzusok hátsó oldalának időbeli lefutása kevésbé meredek, mint a homloka. Ebből a fejtegetésből adódik, hogy a 3. ábrán látható diagram C-vel jelölt abszcissza értékénél az elektronsugár tényleges tartózkodási ideje a 2 rekesz nyílásában változóan olyan értékre csökken, amely az adott impulzusformánál lehetséges legnagyobb tartózkodási idő felével egyenlő, vagy annál nagyobb. A jeiimpulzus amplitúdót tovább növelve, a tartózkodási idő a feltételezett impulzusformánál monoton csökken. Az előzőkben egyszerűség kedvéért először tárgyalt esetet, amikor négyszög alakú jelimpulzusok jelennek meg, a 3. ábrában vonalkázva rajzoltuk be. A vonalkázott görbe lefolyásnak magyarázata minden további nélkül adódik az előbbiekben a szcintillációs impulzusok esetében leírt viszonyoknak a négyszögimpulzusok esetére való alkalmazásából. A 2. ábrának, illetőleg az azon bemutatott diagram-lefolyásnak figyelembevételével a 3. ábrából ki lehet küszöbölni a T tartózkodási idő paramétert. A 4. ábra kvalitatíve mutatja az ilyen módon egyszerűen kapott összefüggést, amely az 5 anódon keletkező U impulzus amplitúdók és az S jelimpulzus nagyságok között fennáll. Itt a B és C pont ismét olyan jelimpulzus nagyságokhoz tartozik, amelyeknél a sugár éppen pontosan, a 2 rekesz nyílásának szélét éri. Egy olyan diszkriminátorszint, amelyet az anódimpulzusoknak — feltételezésünk szerint — meg kell haladniok, ezek szerint az analizátor csatorna szélességét nem négyszögimpulzusok esetében lényegesen befolyásolná. Amint azt a 4. ábra mutatja, ha egy — például ismert — impulzusamplitúdó diszkriminátort kapcsolunk az elektronsugáreltérítőcső anódkimenete és az — például az A pontban (1. ábra) csatlakozó —- impulzussűrűségmérő közé, akkor az analizátor csatorna szélességét tág határok között változtathatjuk azáltal, hogy a 10 szintet (4. ábra) az 1. ábrán 6-tal jelzett, alapjában ismert impulzusain pli tudó diszkriminátor például 7 és/vagy 8 potenciométere segítségével eltoljuk. Az így kapott csatornaszélességet a 4. ábrán 11 mutatja. Az 1. ábrán bemutatott kapcsoláselrendezéssel vettük fel péld.ául az 5. ábrán látható Cs—137 spektrogramot. Ennél a példánál, amelynél az elektromos impulzusamplitudók eloszlását regisztráltuk NaJ (TI), szcintillációs kristállyal felszerelt szcintillációs mérőfejből származó jelimpulzus spektrumot feszültségerősítés után az 1. áb-