148718. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés vékony lemezek vastagságának mérésére és/vagy azok vastagság szerinti osztályozására
2 148.718 gát mérési eredménnyé és/vagy a mérési eredménytől függő vezérlő jelekké átalakító szervekkel. A találmányunk szerinti berendezés egyik kiviteli alakja azzal van jellemezve, hogy mozgó fényrekesze a megvilágító fénysíkkal párhuzamos tengelyű, egy vagy több réssel ellátott, forgó hengerpalást. A találmányunk szerinti berendezés egy másik kiviteli alakja azzal van jellemezve, hogy mozgó fényrekesze a megvilágító fénycsíkkal párhuzamos, egy vagy több réssel rendelkező, haladó mozgást végző síklemez. Találmányunkat részleteisebben, ábráink kapcsán ismertetjük. 1. ábránk a találmányunk szerinti berendezés egyik kiviteli alakját ábrázolja vázlat formájában, 2. ábránk az optikai rendszer képsíkjában megjelenő képiét szemlélteti, 3. ábránk a mozgó fény rekesznek síklemezként kialakított alakját ábrázolja, míg 4. ábránk diagram formájában egy a fényelektromos átalakító által szolgáltatott impulzuspárt szemléltet. Az 1. ábrán a találmányunk szerinti berendezés egyik kiviteli alakjának vázlata látható. A 14 lemezek a 10 adagoló berendezésből egyéniként, célszerűen szabályos időközökben a 9 továbbító rendszerbe kerülnek, mely azokat a 12 mérési térbe továbbítja. Innen a 14 lemezkék a 11 osztályozó rendszerbe jutnak, melyet az említett, a mérési eredménytől függő vezérlő jelek működhetnek oly módon, hogy az azonos vagy közel azonos vastagsági méretcsoportba tartozó lemezkéket Jkülön-tkülön tárolja. A 12 mérési- térben a 14 lemezkéket egy Sohmaltz-féle fénymetszéses optikai rendszerrel világítjuk meg. Ez a rendszer áll a 8 megvilágító egységből, ahol egy izzólámpa fényét egy résen és egy objektíven keresztül a kristály síkjával 45°-os szöget bezáróan vetítjük úgy, hogy a fénycsík egy része a lemezkékre, másik része a referenciafelületként kiképezett, lehetőleg a reflektáló felületre esik, ez a felület célszerűen a továbbító rendszer alkotórészét képezi. Az optikai rendszer képsíkjában a 2. ábrán látható kép jelenik meg. Itt az I fény csík a 14 lemezkéről, a II pedig a referenciafelületről visszaverődött fénynek felel meg. A két fénycsík d távolsága a lemezke vastagságától függ. Ezt a képet tapogatja le a 2 fényrekesz, mely az optikai rendszer képsíkjá'ban mozog és célszerűen rés alakú kiképzéssel bír. A rés párhuzamos az optikai rendszer által leképezett fénycsíkkal. A rést vagy réseket célszerűen a fénycsíkkal párhuzamos tengely körül forgó 3 hengerpaláston alakítjuk ki. Másik kiviteli alak esetében a mozgó fényrekeszt ugyancsak rés(ek) alakjában képezzük ki síklemezen a 3. ábránk szerint, mely síklemez az optikai rendszer képsíkjában alternáló mozgást végez. Több rés alkalmazása, esetén a rések egymástól váló távolsága célszerűen nagyobb, mint a két fénycsík várható maximális távolsága. Hogy azonos vastagságú lemezek esetén a két fényimpulzus időbeli távolsága mindig azonos maradjon, gondoskodni kell arról, hogy a rés(ek)nek a 13 leképezési mezőn való áthaladása mindig azonos, meghatározott törvényszerűség szerint menjen végbe. .Ha a fény rekeszek a leképezési mezőn való áthaladásuk ideje alatt egyenletes sebességű mozgást végeznek, a mérési pontosság vastagságegységekiben lesz állandó. Ezzel szemben, ha a fényrekeszek a leképezési mezőn való áthaladásuk ideje alatt meghatározott exponenciális törvényszerűség szerinti lassuló mozgást végeznek, úgy a százalékos mérési ponr toss ág lesz állandó. Természetesen a mérési feladatnak megfelelően más mozgási törvényszerűségek is célszerűek lehetnek. A fényrekesz által letapogatott képet a 4 fényelektromos átalakító (pl. fotocella, fotomultiplier, stb.) segítségével alakítjuk át elektromos impulzusokká. Ezen impulzusok időbeli távolsága a lemezvastagság függvénye. Az így kapott elektromos impulzuspár (4. ábra) az egyik példa szerinti kiviteli alaknál egy bistabil multivibrator indító-, ill. leállító jele gyanánt szolgál, így a keletkező impulzus szélessége a két impulzus időbeli távolságával egyenlő. Az impulzus szélességét integráló tag, impulzus-szélesség demodulator vagy hasonló ismert eszközök segítségével alakíthatjuk át elektromos feszültséggé vagy árammá, amelyet műszer és/vagy osztályozószerikezet működtetésére ill. vezérlésére használunk fel. A találmányunk szerinti eljárás másik foganatosítási módja az, hogy az. első impulzus hatására megindul egy meghatározott ismétlődési idővel bíró impulzus, vagy rezgésso-rozat, mely a másodszorra beérkező impulzus hatására megszakad. Az impulzusok számát valamely ismert impulzus-számlálási módszerrel megszámolva és az eredményt pl. dekatroncsövön feltüntetve, ismét a kristály vastagsággal összefüggő mérési eredményt, ill. vezérlő jelet nyerünk. Ezen vezérlő jelek a már ismert módszerek egyike szerint működtetik a 11 osztályozó berendezést, melyben a kristályok az előre beállított vastagsághatárértékeknék megfelelően külön-külön csoportokban gyűjthetők össze. Természetesen találmányunk nem korlátozódik a fentiekben leírt foganatosítása módokra és kiviteli alakokra, hanem értelemszerűen magábanfoglalja a találmányunk alapgondolata szerint megvalósítható foganatosítási módok és kiviteli alakok összességét. Szabadalmi igénypontok: 1. Eljárás vékony lemezek vastagságának mérésére önmagában ismert fénymetszéses (Schmaltzféle) optikai rendszerrel, azzal jellemezve, hogy ezen optikai rendszer képsíkjában mozgó fényrekesszel az optikai rendszer által alkotott képet letapogatjuk, a letapogatott képet áramimpulzusokká alakítjuk és a kapott impulzusokkal vezéreljük a mérő és/vagy osztályozó -berendezést. 2. Az 1. igénypont szerinti eljárás foganatosítási módja, azzal jellemezve, hogy a mérendő lemez'kéket adagoló és továbbító rendszer segítségével egyenként — célszerűen szabályos időközökben —• juttatjuk a mérési térbe, onnan tovább egy osztályozó rendszerbe, melyet az említett, a
