145426. lajstromszámú szabadalom • Eljárás piezoelektromos kristályok hőfüggőségének nagy pontossággal való mérésére

145.426 3 a magasabb hőfoknak megfelelő frekvenciával rezeg. Ekkor a (10) katódsugároszcilloszkópon a (2) változtatható frekvenciájú generátor megváltozott frekvenciájának megfelelően az alapképtől eltérő képet kapunk, ami a (2) változtatható frekvenciájú — és az (1) etalon-generátorok frekvenciakülönbségének felel meg. Ezt a különbséget bármilyen ismert módszerrel számszerűen megállapíthatjuk. E frekvenciakülönbség mértéke osztva a hőfokkülönbséggel adja a kristály hőfoktényezőjét: Hz/C°. A találmányban alkalmazott eljárással. és mérési módszerrel egy 3,10~8

/C° hőfoktényezőjű kristály hőfoktényezője jól reprodukálható mérési eredménnyel kimérhető. Szabadalmi igénypontok: 1. Eljárás piezoelektromos kristályok hőfüggőségének nagy pontossággal való mérésére, jellemezve azáltal, hogy a kristálynak a hőmérséklet függvényében változó soros rezonáns frekvenciáját különböző hőmérsékleteknél nulla fázisforgatás mellett mérjük. 2. Az 1. igénypont szerinti eljárás megvalósítási módja, jellemezve azáltal, hogy egy Jt-tag vízszintes ágába helyezett kristály hőmérséklet függvényében változó, nulla fázisforgatás melletti soros rezonáns frekvenciáját finoman hangolható változtatható frekvenciájú generátorral katódsugároszcilloszkópon indikáljuk ás a nulla-fázisforgatásnak megfelelő beállítást a kristály helyére kapcsolt, vele azonos soros rezonáns ellenállású,1 reaktaneiamentes ellenállással ellenőrizzük. 1 rajz A kiadásért felel: a Közgazdasági és Jogi Könyvkiadó Igazgatója. 2426. Terv Nyomda, 1959. - Felelős vezető: Gajda I^szlő