144040. lajstromszámú szabadalom • Optikai eljárás a fényt kettősen törő fonalak, különösen gyapot osztályozására és készülék az eljárás foganatosítására
2 144.040 a gyakorlatilag tekintetbe jövő körzetben a 'késlekedés változásával arányos. E körülmény folytán az intenzitás a mérési körzet legfelső határáig a késlekedés változásának módjára állandóan növekedik vagy csökken. Ama mérési szakasz szSmára pedig, amelybe a mérendő fonalak túlnyomó száma esik, ez a növekedés a késlekedés növekedésével arányosnak tekinthető. Ennek következtében a fényintezitásnak a találmány szerinti mérése folytán a fénynek a vizsgált anyagban való késlekedésére, továbbá az ezzel összefüggő minőségre, illetve érettségre egyértelmű következtetést vonhatunk. Pamutfonalak minőségének meghatározásánál a vizsgáló fény hullámhosszát az infravörös körzetből választjuk. Az eljárás további foganatosítási 'módjai, amelyek fonalak, például pamutfonalak minőségi meghatározásának egyszerűsítését célozzák, valamint az eljárás foganatosítására való készülék példaként felvett kiviteli alakjai a következő leírásból tűnnek ki. Az 1. ábra az eljárás foganatosítására szolgáló készülék példaként felvett kiviteli alakjának vázlatos rajza. A 2. ábra részletrajz. A 3. ábra a készüléknek a mérés egyszerűsítését célzó, példaként felvett kiviteli alakjának ugyancsak vázlatos rajza. A következő leírásban az eljárást például gyapot osztályozására való alkalmazásában ismertetjük. Az F fényforrásból kijövő fénynyalábot a K, kondenzátor párhuzamosítja. A párhuzamos fénysugárnyaláb a P polarizátoron halad át és átvilágítja a két üveglemezből álló T tárgytartón levő gyapotmintát. A fénykúp azután a P polarizáló prizmával keresztező szörjet bezáró A analizátoron és K2 kondenzátoron ár C fényvillamos eszközhöz jut, amely például fényvillamos cella vagy tetszőleges más, a mindenkori anyag számára, a konkrét esetben gyapot számara szükséges hullámhosszkörzetben érzékeny fényvillamos elem lehet. Ama sugárzás biztosítása végett, amelynek a vizsgálathoz szükséges hossza van és a nem kívánatos hullámhosszak kirekesztése céljából a sugármenet pályájába G szűrőt iktatunk vagy pedig olyan fényvillamos eszközt használunk, amely csak a kívánt hullámkörzetben érzékeny. Nem eléggé érzékeny eszköz használata ^setében E elektromos erősítőt iktatunk be. A megállapított értéket az M mérőműszer mutatója mutatja. Az ismertetett elrendezés a gyapotmintára jellemző értéket csak abban az esetben adna, ha a mérést mindig azonos számú egyes fonalakkal lehetne foganatosítani, ami azonban nagyon körülményes volna. Ha azonban a mérést — bizonyos határok között —- tetszőleges számú egyes fonalakkal végezzük el, akkor a mérés eredményét a fonalszámmal vonatkozásba kell hozni. Minthogy pedig nem az abszolút fonalszám. hanem ama felület mérvadó,, amelyet a fonalak a. sugárnyaláb keresztmetszetéből lefödnek, szükséges, hogy a megállapított értéket a lefödött keresztmetszettel — amelyet a következőkben ,,fedés"-nek nevezünk — vonatkozásba hozzuk. Ezt azzal érjük el, hogy a P polarizátor helyett G, szűrőt iktatunk be. Ha már most az A analizátoron átmenő fény intenzitását először a fonalminta közbeiktatása nélkül és ezt követőleg annak közbeiktatása után mérjük, akkor a két mérési érték különbözete a „fedés" mértékét adja és ezt az értéket már most azzal az értékkel hozzuk vonatkozásba, amelyet az eszköz beiktatott polarizátor esetében előzőleg mutatott. A mérés egyszerűsítése végett előnyös kiviteli alaknál, a „fedés" nagyságának megfelelően, az erősítést (vagy az eszköz érzékenységét) változtathatjuk. Ezt egyszerűen azzal érjük el, hogy a szűrő közbeiktatása esetében az erősítést (illetve a mérőműszer érzékenységét) akként szabályozzuk, hogy annak mutatója bizonyos kitérést adjon, például az eszköz S skáláján (2. ábra) a 100 osztásig térjen ki. A mérendő anyagpróba beiktatása után az eszköz, a- „fedés"-nek megfelelően, kisebb értéket ad meg, mint előbb. A mutató az S skálán (2. ábra) például a 80 osztásra áll be. A mutató két kitérésének különbözete — az összes egyes fonalak azonos vastagságának feltételezése mellett — a „fe^ dés"-sel arányos. Ennek megfelelőeri kell azután az erősítést (vagy az eszköz érzékenységét beállítani). Ezt az S főskála mellett elrendezett H segédskála segélyével érjük el, amely akként van kalibrálva, hogy az erősítés (vagy az érzékenység) szabályozása útján, a mutatónak a főskálán előzőleg leolvasott skálaértékre való beállításánál, a konkrét példánál tehát a 80 osztásra való beállításnál, az erősítés (illetve az eszköz érzékenysége) olyan mértékben változik, hogy polarizált fényben való következő mérésnél, tehát a P polarizátor újból való beiktatásánál a mérőműszer mutatójának kitérését állandó fonalszámmal, vagy helyesebben mondva, a „fedéssel vonatkozásba hozzuk. Minthogy ily módon a mutató kitérése most már csakis a mért anyag minőségétől függ, a minőségfokozatok az eszköz skáláján egyértelműen leolvashatók. A G, szűrő használatára azért van szükség, hogy lehetővé tegyük, hogy a merest polarizált és polarizálatlan fényben, szűk határok között, az azonos eió'sítés mellett foganatosíthassuk. A G szűrő természetesen mellőzhető, ha az érzékelő elem a mérési határokon belül eléggé szelektív, vagy pedig az F fényforrás szelektíven sugároz. A találmány szerinti eljárás párhuzamos polarizátorokkal is foganatosítható. Ebben az esetben a mérendő anyag kettős fénytörése — bizonyos határok között — fénycsökkenés alakjában nyilvánul. E berendezés előnye abban áll, hogy a „fedés" mérését ugyanolyan nagyságú fényintenzitás mellett végezzük el, mint a pilarizációs mérésnél, miértis a G-, szűrő mellőzhető. Az eljárás egyszerűsített foganatosítási módjánál, amely úgy keresztezett, mint párhuzamos polarizátoroknál alkalmazható, a találmány az önmagában ismeretes kompenzációs eljárást javasolja. Az említett célból, amint azt a 3. ábra mutatja, a vizsgálandó anyagon áthatoló fényt sugárnyalábmegosztó B alkatelem (például Prandlt-féle prizma) útján megosztjuk. Az R, tükörtől visszavert sugárnyalábrész a Ka kondenzátoron át a C 2 fényvillamos cellába jut, míg a második sugárnyalábrész az A analizátor útján a K2 kondenzátoron át
