Vándor Andrea szerk.: Janus Pannonius Múzeum Évkönyve 50-52/2 (2005-2007) (Pécs, 2008)

Velledits Lajos, Dezső József, Kaposvári Ferenc, Sajó István Természettudományos vizsgálatok Csontváry palettájának megismerésére a Pécsi Janus Pannonius Múzeumban Tapasztalatok és kutatások az átfogó XRF vizsgálatok előtt

nok lökődnek ki röntgenfotonok hatására, majd felsőbb pályákról pótlódik a hiányzó elektron, miközben a keletkezett energiakülönbséget az atom egy másodlagos röntgenfoton formájában kisugározza (a kapott fluoreszcens röntgenfoton energiája diszkrét, arányos a keresett elem rendszámának négyzetével). Ezután egy félvezető detektor begyűjti őket és elektromos impulzusokká alakítja, majd egy sokcsatornás analizátor energiaértékük szerint osztályozza az impulzusokat, megjelenítve egy számítógép képernyőjén. így kapjuk meg a vizsgált anyag úgynevezett karakterisztikus röntgenspektrumát. Az energiacsúcsok értékét leolvasva egyértelműen következtetni lehet az elemi összetételre minőségileg, mennyiségileg egyaránt. Mint említettük, a műszer fizikailag nem kerül kontaktusba a mintával, a gerjesztő röntgen intenzitás pedig oly kicsi, hogy semmiféle roncsoló hatást nem fejt ki az egyébként igen kényes műtárgyak anyagára. Ezt a gyakorlati tapasztalatok is igazolták. Az XRFnek viszonylag kedvezően széles a detektálási tartománya, esetünkben a nátriumtól az uránig. További előny, hogy a műszer az anyagon mért fő összetevők mellett igen kis mennyiségek kimutatására is alkalmas, ez ideális esetben akár egymilliomod(l) tömegrészt jelent (pl. a nyomelemek figyelembevétele fontos lehet a festékanyagok eredetének megítélésében). Mintáról felvett energiaspektrum RoHS/WEEE Application Pb | Cd Pb | Y •A., -I ywy vA 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30 32 34 Energy (keV) A Janus Pannonius Múzeum Évkönyve 1 237