A Budapesti Műszaki Egyetem Évkönyve 1979-1980
Tudományos szakirodalmi tevékenység 1979-ben
signals developed for electrical machine testing. = Periodica Polytechnica. Ser. Electrical Engineering, 23. 1979 . 3-4. 273-274. p. 553. GESZTI Péter - SÓLYMOSS Endre : Villamosgépek vizsgálatához kifejlesztett digitális tárolású analógjel rögzítő műszer. = Elektrotechnika, 72. 1979. 10. 319-324. p. 554. GESZTI, P. Ottó - TEVAN, György : A simple variation of Krön’s method of solving networks based on the theorem of linear vector spaces. = Periodica Polytechnica. Ser. Electrical Engineering, 23. 1979. 1. 59-92. p. 555. GIBER János : Bevezetés az alkalmazott szilárdtest-fizikába. /Jegyzet./ Bp. Tankönyvkiadó, 1979. 423 p. 556. GIBER János : A BME Fizikai Intézet Felületfizikái laboratóriumában elért legújabb eredményekről. /Szakelőadás./ Szilárdstestkémiai Munkabizottság, Budapest, 1979. 557. GIBER, János - HOFER, W.O.: Ein Massen-Spectrometer zur Gas und Festkörperanalyse. = Frühjahrstagung Münster, 1979. Deutsche Physikalische Gesellschaft 558. GIBER, János : Die Forschungsarbeit der Untersuchungen von Oberflächen mit SIMS und Auger-methode. /Szakelőadás./ Kontaktseminar TU Wien — TU Budapest, Wien, 1979. 559. GIBER, János : Konzepte und Möglichkeiten für quantitative SIMS-Unter- suchungen an Oberflächen. /Szakelőadás./ 1. Symposium. Oberflächen- und Elektronenphysik zum Thema Reaktion an Metalloberflächen, Dresden, 1979. TU Dresden 560. GIBER, János : The localized states of interfaces and their physical models. /Szakelőadás./ Summer School on new Developments in Semiconductor Physics, Szeged, MTESZ, 1979. 561. GIBER, János : Neue Möglichkeiten der quantitativen SIMS. /Szakelőadás./ Kontaktseminar TU Wien-TU Budapest, Wien, 1979. TU Wien 562. GIBER, János: Die physikalische Struktur der Oxid Oberflächen und Grenzflächenschichten auf Metallen, untersucht mit SIMS. /Szakelőadás./ 1. Symposium. Oberflächen- und Elektronenphysik zum Thema Reaktion an Metalloberflächen, Dresden, 1979. TU Dresden 563. GIBER,János : Some experience on parallel and complementer SIMS and SAM examinations. /Szakelőadás./ Nagy laterális felbontóképességű Scanning-Auger spektroszkópia, Budapest, 1979. MTA 259
