Kovács Petronella (szerk.): Isis - Erdélyi magyar restaurátor füzetek 8-9. (Székelyudvarhely, 2009)
Tóth Attila Lajos: Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia
21. ábra. BEI-TOPO: fölösleges domborzat és zavaró csiszolási 22. ábra. BEI COMPO: rendszámkontraszt, nyomok. 23. ábra. SEI: fölösleges morfológiai részletek (élek, részecskék) és zavaró töltődés, hiányzó réteg jobbról. 24. ábra. XRI: szuperponált elemtérképek. mechanizmust keresni, ami gyorsan, egyszerűen és megbízhatóan mutatja egy mikroanalízisre előkészített (vagyis síkra polírozott és vezető réteggel bevont) inhomogén, pl. réteges minta különböző fázisait. A két elektronjel, a három detektálási technika és a számos kontrasztmechanizmus a bőség zavarának látszatát kelthetik a szemlélőben. Elektromosan vezető - vagy párologtatással azzá tett - minták esetén van egy egyszerű hasonlat a SEI és BEI-TOPO képek értelmezésére. Mindkét esetben (és ez a többi képre is igaz) a felvételek perspektívája olyan, mintha felülről, a sugár irányából néznénk a mintára. A látott domborzati SEI képek hasonlóak egy diffúz megvilágítással készült „fotóhoz” (14. b. ábra). Ezzel szemben a BEI TOPO képek esetében mintha a detektor helyén levő spot lámpa adná a „fotó” megvilágítást, éles árnyékokat vetve (20. b. ábra). Lágy lankák kimutatására tehát a BEI-TOPO (18. ábra), apró részletek láttatására a SEI (20. ábra) alkalmas. Vizsgáljuk meg egy példán, melyik elektronkép használható leginkább a röntgenanalízis területének kiválasztására. A 21-24. ábra egyazon (beöntött) festék multiréteg keresztmetszet felületét mutatja a két különböző BEI leképzési módban, szekunder elektronképen és 6 alkotóelem eloszlását mutató XRI röntgenképen. Lássuk, melyik elektronkép mutatja meg az XRI által kimért összes réteget. Megfigyelhető, hogy a BEI-TOPO képet a domborzat és csiszolási nyomok, a SEI képet pedig a töltődés és a gyenge anyagkontraszt teszi alkalmatlanná arra, hogy egy mikroanalízis elővizsgálati módszere legyen (ráadásul bizonyos rétegek nem vagy csak nehezen látszanak ezeken a képeken). A BEI-COMPO viszont rétegről rétegre mutatja a szerkezetet, ily módon optimális a mikroanalízis előkészítésére. Felhozható a SEI mellett tagadhatatlanul jobb felbontása, ez azonban a felületközeli részekhez kötődik. A BEI-COMPO felbontása viszont még mindig kicsit 21
