Kovács Petronella (szerk.): Isis - Erdélyi magyar restaurátor füzetek 8-9. (Székelyudvarhely, 2009)

Puskás Éva: A Szatmári Római Katolikus Egyhámegye kulturális javaainak megmentése

ajută la determinarea compoziţiei, este o metoda simplă şi ieftină, iar WDS este proeminent în cazul limitei de detectare şi selectivitate.

în fig. 29. apare un spectru de raze X, în cazul unei probe de PbS măsurată cu metoda energiei dispersive (albastru) şi lungimi de undă dispersive (roşu). în spectrul EDS prezenţa sulfului se poate vedea numai prin deconvoluţie, în timp ce în spectrul WDS cele două peak-uri (vârfuri) sunt bine separate.

EDS este o metodă rapidă, dovada fiind fig. 30., unde se poate urmări înregistrarea simultană a 10 elemente.

Detectarea, prelucrarea semnalelor şi a datelor (metode de corecţie), prelevarea probei, pregătirea probei de măsurare şi interpretarea datelor de măsurat pot fi găsite în completarea articolului prezent.

Lajos Attila Tóth PhD, CSc fizician

Academia de Ştiinţe ale Ungariei

Institutul de Cercetare în Fizică şi Ştiinţa Materialelor al Academiei Maghiare 1121 Budapesta Konkoly-Thege u 29-33.

Tel: +36-1-392-2691 Mobil: +36-30-984-3763 E-mail: tothal@mfa.kfki.hu

Traducere: Beatrix Magó

ILUSTRAŢII

Fig. 1. Părţile componente ale unui sistem analitic de măsurare Fig. 2. Secţiunea transversală a unui tub modem de raze X Fig. 3. Schiţa microanalizorului cu fascicul de electroni Fig. 4. Target de aur Eo= 2 keV: dispersie de 43%

Fig. 5. Target de carbon Eo= 2 keV: dispersie de 10%

Fig. 6. Target de aur Eo= 20 keV: dispersie de 47%

Fig. 7. Target de carbon Eo= 20 keV: dispersie de 5%

Fig. 8. Relaţia dintre profunzimea R a volumului excitat şi energia Eo fasciculului primar

Fig. 9. Target de carbon, Eo= 20 keV, înclinat la 80 de grade: dispersie elastică 46%

Fig. 10a Devierea unui electron în mişcare sub acţiunea unui câmp electric cu încărcătură punctiformă pozitivă (dispersie Rutherford)

Fig. 11. Distribuţia energiei electronilor emişi Fig. 12. Domeniile de informare ale semnalelor emise din diferite profunzimi ale volumului excitat

Fig. 13. Intensitatea fluxului în funcţie de diametrul radiaţie la energii între 2,5 şi 20 keV în cazul unui SEM tradiţional cu catod de W şi La/6

Fig. 14. Imaginea SEI la mărirea timpului de colectare cu lOx în cazul unei plăci de Al care conţine sfere mici de Sn.

Fig. 15. Traseul semnalului electronilor secundare (SEI) prin unele componente ale detectomlui Everhart-Thomley (EHT) Fig. 16. Detectorul Everhart-Thomley (EHT)

Fig. 17.

Fig. 18. Detectare BEI-TOPO cu ajutorul unui scintilator asimetric Fig. 19. Detectare BEI-COMPO cu ajutorul unui detector cu semiconductor simetric

Fig. 20 a-b. Imagine cu detectorul lent BEI-TOPO cu o staţionare de 0 us şi 100 us. Detectoml este în partea superioară a imaginii (efectul de umbră).

Fig. 21. BEI-TOPO efectul perturbator al reliefului amănunţit şi al urmelor de şlefuire

Fig. 22. BEI-COMPO: contrast de număr atomic Fig. 23. SEI: efectul perturbator al detaliilor morfologice (margini, particule) şi sarcina perturbatoare, lipsa stratului din partea dreaptă.

Fig. 24. XEI: harta de elemente superponată.

Fig. 25. Liniile roentgen a atomului Ca Fig. 26. Experimentul şi ecuaţia Moseley

Fig. 27. Schema spectrometrului cu dispersie după lungimea de undă (WDS)

Fig. 28. Schema spectrometmlui cu dispersie după energia radiaţiilor (EDS)

Fig. 29. Spectru EDS (albastru) si WDS (roşu) al suflurii de plumb Fig. 30. Spectrul EDS a setului de elemente din stratul de vopsea şi din suprafaţa metalizată.

124