Kovács Petronella (szerk.): Isis - Erdélyi magyar restaurátor füzetek 5. (Székelyudvarhely, 2006)
Galambos Éva: Általánosan a festett műtárgyak fotótechnikai és mikroszkópos vizsgálatáról
Ezzel a vizsgálattal tovább juthatunk a rétegszerkezetek megismerésében, mivel az UV sugárzásban ugyanazok az anyagok a keresztmetszeten is másképp jelennek meg, mint normál fényben. Nagyon hasznos lakkok, szigetelőrétegek, ragasztások vizsgálatánál, mivel azok nagy része lumineszkál, azaz jól megfigyelhető, míg normál megvilágításban gyakran sötéten jelenik meg. Mind a lumineszcencia színe, mind az intenzitása, illetve akár a hiánya is adatként szolgálhat. (IV. tábla 36., 39., 41. kép) Ebben az esetben is nagyon fontos, hogy ugyanarról a részletről készüljön a normál- és a lumineszcens felvétel, különben nagyon nehéz a kiértékelés. Például előfordul, hogy a normál felvételen látott sötét barnás lakkréteg a lumineszcens felvételen világosan jelenik meg, de ahhoz, hogy biztosan tudjuk, tényleg az a réteg lumineszkál, mellé kell tenni a normál sugárzásban készített hasonló nagyítású mikroszkópos felvételt, különösen, ha nagyon sok réteget tartalmaz a mintánk. A kötőanyag és pigmentáltság különbségei is sokszor jóval kontrasztosabban jelentkeznek: például gyakori, hogy a normál megvilágításban több azonos színű réteg egy rétegnek látszik, mert nagyon hasonló színű pigmenteket tartalmaznak, míg a lumineszcens képen egyértelműen elkülöníthetőek. (IV. tábla 35-36. kép) A lumineszkáló kötőanyagban a nem lumineszkáló pigmentek is általában jól látszanak, így a rétegek egy- vagy több-neműsége, stb. is olykor részletesebben tanulmányozható. Az anyagok lumineszcenciájából, illetve annak hiányából is következtetéseket vonhatunk le. Pl. a réztartalmú pigmentek sötéten jelennek meg, egyes pigmentek, mint a természetes krapplak, cinkfehér pedig maguk is lumineszkálnak. Nagyon nagy figyelmet kell azonban szentelni a kiértékeléskor, hogy helyesen állapítsuk meg, mi lumineszkál, és mi az amit esetleg, a mellette lévő lumineszkáló anyag által gerjesztett sugárzás világít meg! Ugyanez a tárgyfelvételnél is igaz lehet, pl. ha egy lumineszkáló lakkréteg megvilágítja az alatta lévő, vöröses réteget és ettől a felvételen a lakkréteg lumineszcenciáját rózsaszínnek látjuk, vagy a keresztmetszeten azt hihetjük, hogy a vörös réteg lumineszkál, pedig csak a lakk világítja meg. Ilyen kérdéses esetben a keresztmetszetnél az egész réteg vastagságát érdemes megnézni, mert általában a nem lumineszkáló rétegnek a valóban lumineszkáló rétegtől távolabbi fele sötétebben jelenik meg, míg ha a réteg ténylegesen maga lumineszkál, akkor az egész egységen világosan. Ugyanilyen fontos, hogy tudjuk, a pigment lumineszkál-e vagy a kötőanyag, vagy esetleg egy hozzáadott töltőanyag. Az azurit például, mivel réztartalmú pigment nem lumineszkál, sötéten kell megjelennie a lumineszcens képen, de ha erősen lumineszkáló kötőanyagban van, az át tudja világítani a szemcséket, és azok kékes színben jelennek meg a felvételen. Vizsgálatok átmenő polarizált fényben A festékrétegekből származó pormintákat (néhány szemcse is elegendő) ismert törésmutatójú közegbe - pl. kanadabalzsam, immerziós olaj - ágyazva, tárgylemezen, fedőlemezzel letakarva átmenő polarizált fényben is vizsgálhatjuk. (II. tábla 18-19. kép) így meghatározhatjuk az anyagok szemcsekarakterét, illetve optikai tulajdonságait. (III. tábla 29-30. kép) A szemcsekarakter alatt a szemcse színe, alakja — tűszerű, hasábos, kerekded, szilánkszerű, dentrikus-mérete, hasadása, felülete stb. értendő, az optikai tulajdonságok a törésmutató, kettőstörés, pleokroizmus, tengely stb. A felismert tulajdonságok alapján sokféle anyag meghatározható, amit alátámaszthat az infravörös és lumineszcens felvételen való megjelenésük valamint a nedveskémiai analízis is. (III. tábla 31. kép). A fent ismertetett eljárásokkal azonban gyakran csak a meghatározás egy szintjéig lehet eljutni, kizárásos módszerrel bizonyos tulajdonságok jelenléte, illetve hiánya alapján, és további ún. nagyműszeres vizsgálatokra van szükség. Ezek - XRD, XRF, AES, EDX, EDS, FTIR,5 stb. - előtt mindenképp érdemes elvégezni az átmenőfényes, polarizációs mikroszkópos vizsgálatot, főként azért, hogy a természettudományos végzettségű szakembert igénylő, drága nagyműszeres vizsgálatokat csak az igazán kérdéses anyagok esetében kelljen alkalmazni, illetve azért, hogy a minta tényleg megfelelően előkészített legyen. A polarizációs mikroszkópos vizsgálatok (PLM) a kiértékelésen múlnak - azon hogy a vizsgáló személy mennyire biztosan tudja megállapítani az adott anyagok tulajdonságait, felismeri-e azokat - ezért alkalmazásuk gyakorlatot igényel. Mivel azonban e vizsgálathoz mikroszkópon kívül különösebb felszerelés nem szükséges a restaurátorok számára a leghatékonyabb, leggyorsabb, viszonylag könnyen megtanulható, és mindenekelőtt legkönnyebben kivitelezhető vizsgálati módszer. A felsorolt példákkal, a teljesség igénye nélkül, csak a vizsgálati folyamatok egymásra épülését, annak rendszerét szerettük volna felvázolni, kisebb gyakorlati tanácsokkal kiegészítve. A legegyszerűbb fototechnikai vizsgálatokkal is - ha azok megfelelően kivitelezettek, illetve kiértékeltek - sok adatot kaphatunk a tárgyakról. Ezekre érdemes építeni a mikroszkópos, illetve ha szükséges a pontosabb adatokat nyújtó nagyműszeres vizsgálatokat. Szeretnénk hangsúlyozni, hogy a fototechnikai és mikroszkópos vizsgálatok mindenképp szükségesek, és sokszor elegendőek is a restaurálási terv kidolgozásához, 5 XRD: röntgen diffrakciós vizsgálat (kristályszerkezetre), XRF: röntgen fluorescens elemanalízis, AES: Auger felületi elemanalízis, EDX és EDS: energia diszperzív röntgen mikroanalízis (mikrométeres térfogatok elemanalízisére), FTIR: Fourier transzformációs infravörös spektroszkópia (szerves anyagok vizsgálatára) 57
