203598. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés üvegtárgyak, főként palack- és öblösüvegek fenékalji káros feszültségeinek integrális optikai vizsgálatára
1 HU 203 598 A 2 A második 14 polárszűrő áteresztési iránya úgy van beállítva, hogy merőleges legyen az első 3 polárszűrő áteresztési irányára. Ha a vizsgálandó 12 üvegtárgy fesztültségmentes, akkor a 15 fotodetektorra nem kerül fény, feszültséges 12 üvegtárgy esetén pedig a második a 14 polárszűrőre eső fény elliptikusán poláros lesz, és így a 15 fotodetektor fényt észlel. Számítással kimutatható és kísérletileg is ellenőrzésre került, hogy a 15 fotodetektorra jutó fényimpulzusok amplitúdója arányos a már ismertetett 1 2re T = - /I - cos (— c 0 d)/ 2 10 összefüggéssel. Ez az összefüggés a 0 egyirányú mechanikai feszültség egyértékű, monoton növekvő függvénye, tehát ily módon a 15 fotodetektor jelének nagysága a minősítés alapjául szolgál. A 15 fotodetektor kimenete egy elektronikus jelfeldolgozó egységhez csatlakozik, amelyben a fényintenzitás modulációs frekvenciájára hangolt sávszűrő van elhelyezve. A 15 fotodetektor impulzusait erre a sávszűrőre vezetjük, majd a sávszűrő kimenő jelének nagyságát integrálás után tetszőleges feszültségmérési módszerrel mérjük. A vizsgált 12 üvegtárgy minősítése a mért feszültség nagysága alapján történik. A találmány szerinti eljárás és berendezés célkitűzéseit megvalósította és segítségével az üvegtárgyak, főként palack- és öblösüvegek fenékalji káros feszültségeinek integrális optikai vizsgálata és a vizsgálat alapján történő minősítése nagy érzékenységgel és objektív módon végezhető el. SZABADALMI IGÉNYPONTOK 1. Eljárás üvegtárgyak, főként palack- és öblösüvegek fenékalji káros feszültségeinek integrális optikai vizsgálatára, amelynek során a vizsgálandó üvegtárgy (12) fenékalji részét lineárisan polarizált fényű lézerrel (1) világítjuk meg, a fenékaljon átengedett fényt negyedik gyűjtőlencsével (13) összegyűjtjük, második polárszűrőn (14) keresztül fotodetektorra (15) vezetjük és a fotodetektorra (15) j utó fényimpulzusok amplitúdój ával arányos 1 2n T = -/l-cos (—cod)/ 2 10 összefüggés alapján - ahol T az optikai rendszer transzmissziója, AO a fényforrás hullámhossza, c a feszültségoptikai állandó, a az egyirányú mechanikai feszültség, d a fenékalj vastagsága - a fotodetektorhoz (15) csatlakozó elektronikus jelfeldolgozó egységgel kiértékeljük, azzal jellemezve, hogy a vizsgálandó üvegtárgy (12) fenékalji részének megvilágítására a lineárisan polarizált fényű lézer (1) kimenő lézernyalábját (2) első polárszűrőn (3) és fényszaggaton (4) keresztül első és második gyűj tőlencséből (5,6) álló nyalábtágítóra, majd az abból kilépő lézernyalábot (7) lyukblendére (8) vezetjük, azután a lyukblende (8) keresztmetszetében Gauss-görbe szerinti intenzitáseloszlást mutató lézernyalábból közelítőleg egyenletes üvegtárgy (12) nyaka felől fenékalji részét a lyukblendét (8) a fenékalj i rész síkjába leképező harmadik gyűjtőlencsével (10) előállított, változtatható magasságú és kúpszögű megvilágító fénykúppal (11) úgy világítjuk meg, hogy a vizsgálandó üvegtárgy (12) fenékalji részének síkjába leképzett lézerfolt intenzitásának homogenitása 5%náljobb legyen. 2. Az 1. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a megvilágító fénykúp (11) vizsgálandó üvegtárgy (12) hosszméretétől függő magasságának beállítására a lyukblendét (8) és a harmadik gyűjtőlencsét (10) a kilépő lézernyaláb (7) tengelyével párhuzamos irányba eltoljuk, miközben a lyukblende (8) és a harmadik gyűjtőlencse (10) egymáshoz mért távolságát is változtatjuk. 3. Az 1-2. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a megvilágító fénykúp (11) vizsgálandó üvegtárgy (12) formájától függő kúpszögének beállítására a lyukblende (8) átmérőjét változtatjuk. 4. Az 1-3. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal j el lemezve, hogy a lineárisan polarizált fényű lézer (1) kisülési csövéből és a környezetből érkező apoláros vagy részben poláros zajfény csökkentését és az érzékenység növelését a kimenő lézernyaláb (2) polarizációs síkjával párhuzamos áteresztési irányú első polárszűrővel (3) végezzük. 5. Az 1-4. igénypontok bármelyike szerinti eljárás, azzal jel lemezve, hogy a kimenő lézernyaláb (2) intenzitásának időben történő modulálását fényszaggatóval (4) valósítjuk meg. 6. Berendezés üvegtárgyak, főként palack- és öblösüvegek fenékalji káros feszültségeinek integrális optikai vizsgálatára, amelynek lineárisan polarizált fényű lézere (1), negyedik gyűjtőlencséje (13), második polárszűrője (14), elektronikus jelfeldolgozó egységhez csatlakozó fotodetektora (15) van, azzal jellemezve, hogy a lineárisan polarizált fényű lézer (1) kimenő lézernyalábjának (2) polarizációs síkjával párhuzamosan beállítható áteresztési irányú első polárszűrője (3), a kimenő lézernyaláb (2) intenzitásának időben történő modulálására szolgáló fény szaggatója (4), első és második gyűjtőlencséből (5,6) álló nyalábtágítója, a második gyűjtőlencséből (6) kilépő lézernyalábbal (7) megvilágított, változtatható átmérőjű lyukbtendéje (8), a lyukblendét (8) a vizsgálandó üvegtárgy (12) fenékalji részének síkjába leképező harmadik gyűjtőlencsével (10) előállított, változtatható magasságú és kúpszögű megvilágító fénykúpja (11) van. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 6
