203598. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés üvegtárgyak, főként palack- és öblösüvegek fenékalji káros feszültségeinek integrális optikai vizsgálatára

1 Hü 203 598 A 2 kusztávolságú gyűjtőlencsét alkalmazunk, amelyek együttesen eltolhatók és egymáshoz mért távolsá­guk is változtatható.- A különböző formájú üvegtárgyakhoz illeszkedő fénykúpok előállításának biztosítására a lyukblen­­de átmérőjét változtatjuk.- A lineárisan polarizált fényű lézer után közvetlenül a lézernyaláb polarizációs síkjával párhuzamosan átereszti irányú polárszűrőt alkalmazunk a lézerből (annak kisülési csövéből) és a környezetből érkező apoláros vagy részben poláros zajfény lecsökkenté­sére és az érzékenység növelésére.- A lézernyaláb Gauss-görbe szerinti keresztmetszeti intenzitáseloszlását integrális optikai rendszerrel úgy befolyásoljuk, hogy a fénykúp a vizsgálandó üvegtárgy fenékalji részének teljes területét közelí­tőleg homogén intenzitással világítsa meg az integ­rális mérés biztosítása érdekében.- A lézernyaláb intenzitását az érzékenység növelésé­re és a környezeti zajfény hatásának csökkentésére fényszaggatóval időben moduláljuk. A találmány tárgya tehát eljárás és berendezés üvegtárgyak, főként palack- és öblösüvegek fenékalji káros feszültségeinek integrális optikai vizsgálatára. Az eljárás során a vizsgálandó üvegtárgy fenékalji részét lineárisan polarizált fényű lézerrel világítjuk meg, a fenékaljon átengedett fényt negyedik gyűjtő­­lencsével összegyűjtjük, második polárszűrőn keresz­tül fotodektorra vezetjük és a fotodetektorra jutó fé­nyimpulzusok amplitúdójával arányos 12 n T = -/l -cos(—cod)/ 2 10 összefüggés alapján, ahol T az optikai rendszer transzmissziója, rrás hullámhossza, c a feszültségoptikai állandó, nyú mechanikai feszültség, d a fenékalj vastagsága, a fotodetektorhoz csatlakozó elektronikus jelfel­dolgozó egységgel kiértékeljük. Az eljárásra jellemzó, hogy a vizsgálandó üvegtárgy fenékalji részének meg­világítására a lineárisan polarizált fényű lézer kimenő lézernyalábját első polárszűrőn és fényszaggatón ke­resztül első és második gyűjtőlencséből álló nyalábtá­­gítóra, majd az abból kilépő lézernyalábot lyukblendé­­re vezetjük. Azután a lyukblende keresztmetszetében Gauss-görbe szerinti intenzitáseloszlást mutató lézer­nyalábból közelítőleg egyenletes intenzitáseloszlású átengedett lézernyalábbal a vizsgálandó üvegtárgy nyaka felől fenékalji részét a lyukblendét a fenékalji rész síkjába leképező harmadik gyűjtőlencsével előál­­líott, változtatható magasságú és kúpszögű megvilágí­tó fénykúppal úgy világítjuk meg, hogy a vizsgálandó üvegtárgy nyaka felől fenékalji részét a lyukblendét a fenékalji rész síkjába leképező harmadik gyűjtőlen­csével előállított, változtatható magasságú és kúpszö­gű megvilágító fénykúppal úgy világítjuk meg, hogy a vizsgálandó üvegtárgy fenékalji részének síkjába leké­pezett lézerfolt intenzitásának homogenitása 5%-nál jobb legyen. A megvilágító fénykúp vizsgálandó üvegtárgy hosszméretétől függő magasságának beállítására a lyukblendét és a harmadik gyűjtőlencsét a kilépő lé­zernyaláb tengelyével párhuzamos irányba eltoljuk, miközben a lyukblende és a harmadik gyűjtőlencse egymáshoz mért távolságát is változtatjuk. A megvilágító fénykúp vizsgálandó üvegtárgy for­májától függő kúpszögének beállítására a lyukblende átmérőjét változtatjuk. A lineárisan polarizált fényű lézer kisülési csövéből és a környezetből érkező apolá­ros vagy részben poláros zajfény csökkentését és az érzékenység növelését a kimenő lézernyaláb polarizá­ciós síkjával páhuzarnos áteresztési irányú első polár­­szűrővel végezzük. A kimenő lézernyaláb intenzitásának időben törté­nő modulálását fényszaggatóval valósítjuk meg. A találmány szerinti berendezések lineárisan pola­rizált fényű lézere, negyedik gyűjtőlencséje, második polárszűrője, elektronikus jelfeldolgozó egységhez csatlakozó fotodetektora van. A berendezésre jellem­ző, hogy a lineárisan polarizált fényű lézer kimenő lé­zernyalábjának polarizációs síkjával párhuzamosan beállítható áteresztési irányú első polárszűrője, a ki­menő lézernyaláb intenzitásának időben történő mo­dulálására szolgáló fényszaggatója, első és második gyűjtőlencséből álló nyalábtágítója van. A berendezésnek továbbá a második gyűjtőlencsé­ből kilépő lézernyalábbal megvilágított, változtatható átmérőjű lyukblendéje, a lyukblendét a vizsgálandó üvegtárgy fenékalji részének síkjába leképező harma­dik gyűjtőlencsével előállított, változtatható magassá­gú és kúpszögű megvilágító fénykúpja van. A találmány szerinti megoldást részletesebben az 1. ábra alapján ismertetjük, amelyen a berendezés blokkvázlata látható. A találmány szerinti eljárásnál a vizsgálandó 12 üvegtárgy fenékalji részét lineárisan polarizált fényű 1 lézerrel világítjuk meg, a fenékaljon átengedett fényt negyedik 13 gyűjtőlencsével összegyűjtjük, má­sodik 14 polárszűrőn keresztül 15 fotodetektorra jutó fényimpulzusok amplitúdójával arányos 1 2n T = -/l - cos (—cad)/ 2 10 összefüggés alapján, ahol T az optikai rendszer transzmissziója, rrás hullámhossza, c a feszültségoptikai állandó, rányú mechanikai feszültség, d a fenékalj vastagsága, a 15 fotodetektorhoz csatlakozó elektronikus jel­­feldolgozó egységgel kiértékeljük. Az eljárásra jellem­ző, hogy a vizsgálandó 12 üvegtárgy fenékalji részének megvilágítására a lineárisan polarizált fényű 1 lézer kimenő 2 lézernyalábját első 3 polárszűrőn és 4 fény­­szaggatón keresztül első és második 5,6 gyűjtőlencsé­ből álló nyalábtágítóra, majd az abból kilépő 7 lézer­nyalábot 8 lyukblendére vezetjük. Azután a 8 lyukb­lende keresztmetszetében Gauss-görbe szerinti inten­5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 4

Next

/
Thumbnails
Contents