198792. lajstromszámú szabadalom • Optikai mérőberendezés (érintés nélküli infravörös elemző) anyagösszetételek elemzésére

szerelhető fel az elemezendő összetételű anyag technológiai útjában, igy telepítése gyorsabban, kisebb költségvonzattal megva­lósítható. A találmányt az alábbiakban a rajz se­gítségével ismertetjük részletesebben. A raj­zon az 1. ábra a találmány szerinti mérőbe­rendezés egy lehetséges ki­viteli alakjának vázlatos el­vi felépítése, a 2. ábrán az 1. ábra szerinti mérőbe­rendezés szűrőtárcsájának előlnézete látható, a 3. ábra a találmány szerinti beren­dezés felfogóernyőjének és detektorának vizsgáló fény­sugárhoz viszonyított elhe­lyezkedésének magyarázatá­ra szolgál, a 4. ábrán a visszavert fénynyaláb út­ja látható a vizsgálandó összetételű anyag legna­gyobb vastagsága, illetve mérőberendezéshez képest legkisebb távolsága esetén, és az 5. ábrán a vizsgált anyagról vissza­vert fénynyaláb útja látható legkisebb anyagvastagság, illetve a mérőberendezéshez képest legnagyobb anyagtá­volság esetén. A példaképpeni bemutatott érintés nél­küli optikai mérőberendezés szélessávban su­gárzó 1 fényforrást, kvarc halogénizzót tar­talmaz, amely átfogja az ultraibolya tarto­mánytól a látható tartományon át a teljes kö­zeli infravörös tartományt. Az 1 fényforrás mögött fényvisszaverő 2 tükör van elhelyez­ve, míg az 1 fényforrás előtt 3 fényrekesz helyezkedik el, amely előtt a fénysugár útjá­ban 4 gyűjtőlencse van elhelyezve. A 4 gyűjtőlencse előtt 8, 9 ágyazásban 10 szűrő­­tárcsa van forgathatóan ágyazva, amelyben kerülete mentén több, a 2, ébrén látható esetben hét monokromatikus 11 szűrő van beépítve. A vizsgáló fénysugár a 4 gyűjtő­lencséről elemezendő összetételű 5 anyagra jut, amelyet az 1. ábrán 5a alsó anyagréteg­ként és 5f felső anyagrétegként ábrázoltunk. A 10 szűrólárcsa és az elemezendő összetéte­lű 5 anyag között van az arról visszaverő­dött fénynyalébot felfogó fotoelektromos át­alakítóra, azaz 7 detektorra továbbító 6 fel­­fogóernyö elhelyezve. A 6 felfogóernyő for­gási ellipszoid negyed óvszegmenséból kikép­zett fémtükör, amelyben a vizsgáló fénysuga­rat átengedő belső 15 nyílás van kialakítva. Amennyiben a mérőberendezés fénykivetitó rendszerének optikai középpontját, azaz a 4 gyűjtőlencse C pontját, valamint a vizsgáló fénysugár v vetítési tengelyét úgy rendez­zük el, hogy annak a 6 felfogóernyő forgási ellipszoidja n nagytengelyével bezárt oC szög 5 H U 3 azonos a 6 felfogóernyőnek az n nagyten­gellyel azonos optikai tengelye, és a forgási ellipszoid távolabbi F2 fókuszpontját a 6 fel­fogóernyő két szélső A,B pontjával összekötő rí, rí egyenesek által bezárt 0, *, szögek összegének felével, továbbá, ha a 4 gyűjtő­lencse c pontja beleesik a fénysugár v vetí­tési tengelyének és a 6 felfogóernyő vezér­görbe ellipszisének metszéspontjába, vagy legalábbis annak közvetlen tartományába esik, akkor az a helyzet áll elő, hogy meg­közelítően fél n nagytengelynyi szakaszon tetszés szerinti mélységben elhelyezkedő ele­mezendő 5 anyagról, azaz 5a alsó anyagré­tegről és 5f felső anyagrétegról a 6 felfogó­­ernyó a forgási ellipszoid közelebbi FI fó­kuszpontja közelében hozzávetőleg azonos nagyságú képet alkot, így az idehelyezett 7 detektor a vizsgált 5 anyag teljes megvilá­gított felületét érzékeli, tekintet nélkül an­nak a 6 felfogóernyűtől való távolságára. A fent leírtak jobb megértését segíti elő a 3. ábra, amelyen részletesen feltüntettük a találmány szerinti mérőberendezés 6 felfogó­­ernyöjének és 7 detektorának méretezéséhez, illetve elhelyezéséhez szükséges változókat. Látható tehát, hogy az elemezendő összetéte­lű 5 anyag a mérés folyamán 1 vastagságban változhat anélkül, hogy az a mérés eredmé­nyét befolyásolná. Ez az 1 vastagság hozzá­vetőleg megegyezik a 6 felfogóernyó forgási ellipszoidját alkotó ellipszis fél n nagyten­gelyével és az 5f felső anyagréteg az ellip­szis távolabbi F2 fókuszpontjának tartomá­nyában húzódik. Az 5a alsó anyagréteg és az 5f felső anyagréteg megvilágított, aktiv és a mérésben résztvevő területének tárg,yótmérő­­jét d, d’ hivatkozási jellel jelöljük. A javasolt mérőberendezés előnyös tu­lajdonságait meghatározó oC szög kiszámításá­hoz szükséges 0, szögek a matematikából ismert ellipszis összefüggések segítségével határozhatók meg:_________ bya* - xi2 ' arc sin 0=----------------------­a2 + xi b2 1 b’/a2 - xz2 ' arc sin ----------------------­a2 + xz\/a2 - b2' ahol a a 6 felfogóernyő forgási ellipszoidját meghatározó ellipszis nagy féltengelye, b az ellipszis kis féltengelye, xi a 6 felfogóernyó szélső A pontjának n nagytengely menti koordinátája, és X2 a 6 felfogóernyő szélső B pontjának n nagytengely menti koordinátája. Az 1. ábrán látható vázlaton a rajz zsú­foltságának elkerülése érdekében az optikai középpontot, azaz a 4 gyűjtőlencsét a 6 fel­fogóernyőn kivülesöen ábrázoltuk. A célul kitűzött pontosság és helyzet- és paraméter függetlenség érdekében azonban a 4 gyűjtő­­lencsét célszerű a 3., 4. és 5. ábrán látható B 0 98792 5 10 3 5 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 5

Next

/
Thumbnails
Contents