198246. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés felületek alakjának, alakváltozásainak vagy alakhibáinak háromdimenziós meghatározására a Moire-jelenség segítségével, inkoherens fény alkalmazásával
13 HU 198246 B 14 képezzük; továbbá, hogy tükrösen reflektáló felületek vizsgálata esetén mind a vetítő, mind a mérő optika elé rácsokat helyezve és a vizsgálandó tárgy előtt lévő rács helyére siktükrőt helyezve a vetítő optikát végtelenre, a mérő optikát pedig élesre fókuszálvu, vizsgálandó felületnek síktól való eltéréseit a vizsgálandó tárgy előtt elhelyezett siktükrőt kiemelve és oda ismét rácsot helyezve a mérő optikán át jelenítjük meg nioiré ábra alakjában; továbbá, hogy diffúzán reflektáló felületek mozgását vagy alakhibáját úgy vizsgáljuk, hogy csak a vetítő optikában helyezünk el rácsot, és hogy a vetítő optikát a vizsgálandó felületre élesen fókuszáljuk; majd a mérő optikán át fényképezőgéppel ugyanazon filmkockára a mozgás két fázisában, illetőleg a vizsgált és az etalon felületről egy-egy felvételt készítve a nioiré ábrát a filmen jelenítjük meg; továbbá, hogy a tükrösen reflektáló felületek mozgását, vagy azok hibáját a vetítő optikába helyezett ráccsal, a vetítő és mérő optikáknak végtelenre való fókuszálásával a mozgás két fázisában a mérő optikán megjelenő képeknek a fényképezőgéppel egyazon filmkockára felvett egy-egy felvétele útján jelenítjük meg; továbbá, hogy az alakhibákat a vizsgálandó felületnek számitógépes tervezéssel való megjelenítése esetén úgy határozzuk meg, hogy a vetitó objektívvei a rács képét a felületre vetítjük, amelyet a mérő objektívbe helyezett és számítógéppel készített kép kicsinyített diapozitív felvételével együtt szemlélve, vagy fényképezve a vizsgálandó felület alakhibáira jellemző moiré képet jelenítjük meg. 2. Berendezés az 1. igénypont szerinti eljárás megvalósításéra, felületek alakjának, alakváltozásainak, vagy alakhibáinak háromdimenziós meghatározására, a moiré jelenség alkalmazásával, melynek a vizsgálandó felületre vetítő optiakai eszközei fényforrásból, kondenzorból, homályos üveglapból, átlátszó rácsból, valamint fókuszálható objektívból állnak és hogy a reflektált fényt felvevő optika - amely a vetítő optikától eltérő szöghelyzetben helyezkedik el - ugyancsak fókuszálható objektlvet., rácsot, optikai érzékelő szervet, bírtál máz; és hogy adott esetben a 5 vizsgálandó felület előtt is egy kiemelhető rácsozat helyezkedik el, azzal jellemezve, hogy diffúz reflektáló felületek gyors, vizuális alapvizsgálata esetén a vizsgált felület (14) előtt van a rácsozat (10) elhelyezve; és 10 hogy a vizsgálandó felületre (14) jellemző moiré ábra a vetítés szögétől eltérő szöghelyzetű pozícióval (17) rendelkezik; vagy pedig, hogy a vetítő rács (4) ill. mérő rács (8) csak a vetítő objektiv (3), illetőleg mérő 15 objektív (7) után vannak elhelyezve; mi mellett a vetítő objektív (3) a vizsgálandó felületre (14) élesre van fókuszálva; továbbá, hogy tükrösen reflektáló felületek vizsgálata esetén ugyancsak az említett rácsok vannak 20 behelyezve; és bogy a vetítő objektív (3) a végtelenre, míg a mérő objektív (7) a vizsgálandó felületre (14) élesen van fókuszálva; továbbá, hogy diffúzán reflektáló felületek mozgásának, valamint alakhibáinak vizsgálata 25 esetén csak a vizsgálandó felületre (14) fókuszált vetítő objektiv (3) előtt van a vetítő rács (4) elhelyezve, és hogy a mérő objektív (7) azonos filmkockára két felvétel készítésére alkalmas fényképezőgéppel (11) van tár- 20 sítva; továbbá, hogy tükrösen reflektáló felületek mozgásának és alakhibáinak vizsgálata esetén csak a vetitó objektív (3) előtt van a vetítő rács (4) elhelyezve; és hogy az objektivek a véglelenre vannak fókuszálva, to- 25 vábbá, hogy alakhibák mérésére számítógépes tervezés esetén csak a vetítő objektiv (3) előtt van a vetítő rács (4) elhelyezve, mig a mérő objektív (7) után a számítógép ábrájának fényképmásolata van elhelyezve a fényképezögép (11) vagy az okulár (9) előtt. A 2. igénypont szerinti berendezés, azzal jellemezve, hogy a vetítő objektív (3) előtt, illetve a mérő objektív (7) után elhelyezett rácsok vonal rajzolata egyenközű vagy változó sűrűségű egyenes vonalakból, ill. a vizsgált felülettől (14) függően megválasztott vonalakból, pl. koncentrikus körökből áll. .Kiadja az Országos Találmányi Hivatal, Budapest - A kiadásért felel: Himer Zoltán osztályvezető" R 4857-KJK 90.2153.66-4 Alföldi Nyomda Debrecen - Felelős vezető: Benkő István vezérigazgató 9
