198246. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés felületek alakjának, alakváltozásainak vagy alakhibáinak háromdimenziós meghatározására a Moire-jelenség segítségével, inkoherens fény alkalmazásával
7 HU 198246 B 8 (Pl. faminta, vagy egyéb mesterdarab elkészülte után annak ellenőrzése az ideális felülethez képest egyetlen moiré felvételen ábrázolható a teljes felületre vonatkozólag.) A találmányunk tárgyét képező eljárás felületek alakjának, alakváltozásainak vagy alakhibáinak háromdimenziós meghatározására szolgál, a moiré-jelenség alkalmazásával. A találmány szerinti eljárás során ismertetett módon a vizsgálandó felületre egyenlóvolságú, vagy alkalmasan változó sűrűségű rács képét egy választott szöghelyzetböl vetítő optikai eszközökkel vetítjük rá, majd a felület térbeli változásait a moiré csíkrajzok alapján szemmel vagy mérő optikai eszközökkel egy, a vetítés szöghelyzetétől eltérő szöghelyzetben figyeljük és/vagy regisztráljuk. A találmány szerinti eljárás újdonsága abban van, hogy a diffúzán reflektáló vizsgálandó felület vizuális megfigyelés esetén a rácsot vagy közvetlenül a vizsgálandó felület elé helyezzük, és a megfigyelést a vetítéstől eltérő szöghelyzetben szemmel végezzük, vagy pedig a vizsgálatot oly mód on végezzük, hogy egy-egy rácsot egyrészt egy vetítő optika mögé helyezünk, és annak képét a vizsgálandó diffúz felületre élesen fókuszáljuk, másrészt pedig a mérő optika után elhelyezve egy másik rácsot és a mérő optikát erre élesre állítva okuláron át nézzük a másik rácsot és az azon megjelenő moiré-csikokat, vagy pedig lefényképezzük a megjelenített moiré ábrát. A tükrösen reflektáló felületek vizsgálatát úgy végezzük, hogy mind a vetítő, mind a mérő optikába rácsokat helyezünk, ez után a vetítő optikát végtelenre, a mérő optikát pedig élesre fókuszáljuk, majd pedig a vizsgálandó felületnek síktól való eltéréseit a mérő optikán át moiré-csíkok alakjában jelenítjük meg. A diffúzán reflektáló felületek mozgását vagy alakhibáját úgy vizsgáljuk, hogy csak a vetítő optikában helyezünk el rácsot. A vetítő optikát a vizsgálandó felületre élesen fókuszáljuk, majd a fényképezőgéppel ugyanazon mozgás két eltérő fázisában, illetőleg a vizsgált és az etalon felületéről egy-egy felvételt egyetlen képkockára készítve a moiré csíkokat a filmen jelenítjük meg. A tükrösen reflektáló felületek mozgását, vagy alakhibát a vetítő optikába helyezett ráccsal, a vetítő és mérő optikának a végtelenre való fókuszálásával; a moiré ábrát a mozgás két fáziséban a mérő optikán megjelenő képeknek a fényképezőgéppel egyazon filmkockára készített két felvételével jelenítjük meg. Az alakhibákat a vizsgálandó felületnek számítógépes tervezéssel való megjelenítése esetén úgy határozzuk meg, hogy a vetítő objektív egy rács képét a vizsgált felületre vetíti, míg a mérő objektiv mögé számítógéppel készített csikós ábra kicsinyített képét helyezzük. Ezeket együtt szemlélve, vagy fényképezve, a vizsgálandó felület hibáira jellemző moiré csíkokat látunk, ill. jelenítünk meg. A találmány szerinti eljárás megvalósítására alkalmas berendezés a vizsgálandó felületre vetítő optiakai eszközökkel van felszerelve, nevezetesen fényforrással, kondenzoi— ral, homályosan sík üveglappal, ráccsal, valamint fókuszálható objektív vei és a reflektált fényt felvevő optikának, - amely a vetítő optikától eltérő szöghelyzetben áll - ugyancsak fókuszálható objektívje, i-ácsa, optikai érzékelő szerve van és hogy adott esetben a vizsgálandó felület előtt is elhelyezhető egy, a felületnek megfelelő méretű rács. A találmány szerinti berendezés újdonsága abban van, hogy diffúz reflektáló felületek gyors vizuális alakvizsgálata esetén a vizsgált felület előtt van a rács elhelyezve és hogy a felületre jellemző moiré ábra a vetítés szögétől eltérő szöghelyzetű pozícióval rendelkezik, vagy hogy a rácsok csak a vetíLő objektiv előtt, illetőleg a mérő objektív után vannak elhelyezve, amely mellett a vetítő objektív a felületre élesen fókuszált helyzetben van. A tükrösen reflektáló felületek vizsgálata esetén ugyancsak az említett rácsok vannak elhelyezve a vetítő és mérő objektivekhez társítva és hogy a vetítő - és a mérő - objektív egyaránt a végtelenre vannak fókuszálva. A diffúzán reflektáló felületek mozgásának, valamint alakhibáinak vizsgálata esetén csak a felületre élesen fókuszált vetítő objektív előtt van a rács elhelyezve. A mérő objektív azonos filmkockára két felvétel készítésére alkalmas fényképezőgéppel vagy más optikai képfelvevő eszközzel van ellátva. A tükrösen reflektáló felületek mozgásának és alakhíbáinak vizsgálata esetén csak a vetítő objektív előtt van rács elhelyezve és az objektívek a végtelenre vannak fókuszálva. Az alakhibák mérésére számítógépes tervezés esetén csak a vetítő objektiv előtt van rács elhelyezve, mig a mérő objektív után a számítógéppel tervezett csíkos ábra kicsinyített képe van elhelyezve, a fényképezőgép, az okulár, esetleg egyéb optikai képfelvevő eszköz előtt. A találmány szerinti eljárást és az eljárás megvalósítására szolgáló berendezést kiviteli példa kapcsán rajz alapján ismertetjük részletesebben, ahol az 1. ábra: az önmagában ismert reflexiós moiré módszer működésének vázlatát ismerteti, a 2. ábra: az ismert árnyék moiré módszer működésmódját szemlélteti, a 3. ábra: az ismert projekciós moiré módszer működésmódjának elvi vázlatát szemlélteti, a 4. ábra: a találmány szerinti kombinált módszer szerinti eljárás vázlatát, valamint az eljárás megvalósításához szükséges berendezés vázlatos elrendezését ismerteti, az 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 6
