197627. lajstromszámú szabadalom • Berendezés szilárd felületű minták profil magasságának mérésére

foltot hoz létre. Ha a 40 minta felületét Ax tá­volsággal elmozdítjuk a 40 minta felületéből, akkor a 24 a képfelvevő felületén a foltnak a területe az elmozdulással arányosan meg­változik. A 15 nyaktól távolodva csökken, míg ellenkező irányban, tehát közeledve a leképező 23 elemhez növekszik a 24 képfelvevő felületén megjelenő folt területe. Addig, amíg az elmozdítás mértéke a fúkusztávolsághoz képest kicsi, az összefüggés lineáris, vagyis a folt felületének változása arányos az elmoz­dítás mértékével. Ha a 40 mintát nagyon ki­mozdítjuk a 15 nyakból, a linéarités megszű­nik. Azt mondhatjuk, hogy a lineáris összefüg­gés közel a leképező 23 elem mélységélessé­gének tartományában igaz. Ezen belül lineáris az összefüggés. Tehát, ha a 40 mintát a 15 nyakból kimozdítjuk, vagyis Ax távolsággal az f fókusztávolságtól távolabb helyezzük el, amint ez az ábrából leolvasható, a fény­folt a 40 minta nagyobb felületét takarja. A tükröző felületű 40 minta ezt a nagyobb fényfolt visszatükrözi a leképező 23 elem felületére. Vagyis a tükrözésből adódóan úgy néz ki, mintha a visszavert fénynyaláb a 40 minta mögötti Ax távolságban megjele­nő nyakból indulna ki. A leképező 23 elem után a 17 fénynyaláb összeszűkül és a 22 nyalábosztó ezt az összeszűkült két 18 vonal­lal határolt nyalábot reflektálja a 24 kép­felvevő felületére. Ezen összeszűkült 18 nya­lábnak a 22 nyalábosztótól távolabb lesz egy nyakrésze, ahol a nyaláb átmérője a legkisebb. A 24 képfelvevőt a 22 nyaláb­osztó és az említett nyak közötti 19 síkban kell elhelyezni. A 24 képfelvevő felületén megjelenő fényfolt felületváltozásának nagy­sága lineáris összefüggés esetén az alábbi képlettel számítható jó közelítéssel: AF = 4 F0 Ax ahol AF = a képfelvevő felületén mérhető folt változása, f = a leképező elem fókusztávolsága, 1 = a megtett út a leképező elemtől a képfelvevőig. Ax = a minta távolsága a leképező elem után létrejövő legkisebb nyalábát­mérőtől (nyakátmérőtől) Megjegyezzük, hogy az 1. ábra nem méret­arányos, a Ax távolság a jobb szemléltetés kedvéért fel van nagyítva. F0 = a koherens fényforrásra jellemző kilépő nyakfelület. A 40 minta felületén minél kisebb felület­elemeket akarunk vizsgálni, a koherens 21 fényforrás fényét annál kisebb felületre kell az optikai leképező 22 elemmel lefókuszálni. A 2. ábra a találmány szerinti berendezés egy példakénti kiviteli alakját szemlélteti. Mint a leírás bevezetésében említettük, a találmány szerinti berendezést az különböz­teti meg a hasonló jellegű ismert berendezé­5 4 sektől, hogy a berendezés fényforrása kohe­rens 21 fényforrás, pl. egy félvezető lézer, a detektor 24 képfelvevő, az adatfeldolgozó pe­dig 50 képfeldolgozó, továbbá a berendezés­nek 20 mérőfeje van. A 20 mérőfej, vagy a 30 mérőasztal egy tetszőleges 31 referencia­­felületen, pl. egy referenciasíkon két irányban, vagy a 20 mérőfej és a 30 mérőasztal egy-egy irányban mozgatószerv segítségével mozgat­ható. A 20 mérőfej a koherens 21 fényforrás­ból, valamint a koherens 21 fényforrás és a mérendő szilárd felületű 40 minta között elhe­lyezett 22 nyalábosztóból, és az optikai 23 elemből, továbbá a 24 képfelvevőből áll. A 24 képfelvevő a mérendő 40 mintáról a 22 nyaláb­osztóra visszaszórt vagy reflektált és a 22 nyalábosztóról reflektált fénynyaláb irányá­ban van. A 24 képfelvevő b kimenetére az 50 képfeldolgozó csatlakozik. A 24 képfelvevő pl. képfelvevőcső vagy előnyösen félvezető mátrix detektor. A 3. ábra szerinti kiviteli alak abban külön­bözik a 2. ábra szerinti kiviteli alaktól, hogy a koherens 21 fényforrás fénynyalábjában a fénynyaláb irányára szögben célszerűen 45°-os szögben elhelyezett 25 tükör van. A 2. és a 3. ábra szerinti berendezés mű­ködése azonos az 1. ábra kapcsán ismertetett működéssel, azzal a különbséggel, hogy a vizsgálandó szilárd felületű 40 minta egy 30 mérőasztalra van felfogva. Tegyük fel, hogy a 30 mérőasztal 29 körmozgást, a 20 mérőfej pedig a 30 mérőasztalhoz képest sugárirányú 28 mozgást végez. A 29 körmozgás és a sugárirányú 28 mozgás következtében a 20 mérőfej a mérendő 40 minta felületét egy spirálvonal mentén letapogatja. A 24 képfel­vevő érzékeli, hogy a 40 minta egyes felület­­elemei egy etalonmintához képest közelebb vagy távolabb vannak-e a 20 mérőfej érzékelő 26 végétől. Azt, hogy a mérendő 40 minta felületelemei közelebb vagy távolabb vannak, a 24 képfelvevő felületén megjelenő fényfolt felületének növekedése vagy csökkenése mu­tatja. Az 50 képfeldolgozó, mely a 24 képfel­vevő b kimenetére csatlakozik, minden egyes felületelemhez hozzárendel egy digitális szá­mot, amely arányos a 24 képfelvevő felületén megjelenő fényfolt felületével. Ha feltételez­zük, hogy a letapogatás a 40 minta szélé­ről indult el és a 40 minta közepén fejező­dött be, akkor a vizsgált 40 minta mérésered­ményei alapján meghatározható, hogy a minta egyes felületelemeinek eltérései — szintkü­lönbségei — egy előre meghatározott tűrés­határon belül vannak, tehát a 40 minta meg­felel-e a követelményeknek, vagy azon túl vannak, tehát hibás, így nem felel meg a követelményeknek. A 4. ábra a síkban mozgatható 30 mérő­asztal néhány példakénti kiviteli alakját szem­lélteti. A 30 mérőasztal sugárirányú 32 nyílás­sal ellátott köralakú 32 referenciafelületből, mérőfejmozgató mechanizmusból, 33 tartóka­rimából, futóműből és a 30 mérőasztalt forgató szerkezetből áll. A háromrészes alsó, középső 6 197627 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65

Next

/
Thumbnails
Contents